0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

蔡司热场扫描电镜Sigma 300电子显微镜

三本精密仪器 2023-07-26 10:48 次阅读

蔡司热场扫描电镜Sigma 300电子显微镜能够对各种材质的导电和不导电样品、不同尺寸和形状的样品表面微观结构进行高分辨观察。配置能谱和背散射电子衍射仪附件可以实现样品表面微观区域内的成分和织构分析。

蔡司代理三本精密仪器小编今天为您介绍蔡司热场扫描电镜Sigma 300电子显微镜制备要求:

1. SEM样品要求

(1)块体样品:金属块体样品可用导电胶直接固定在样品台上,确保样品与样品台良好接触;导电性差或不导电的样品需尽量将块状样品做小,并在表面引导电胶至样品台,可在低电压模式下观察,也可进行表面喷金或喷碳处理后再进行观察。

(2)粉末样品:先将导电胶带粘在样品台上,再均匀地把粉末样品撒在上面,用洗耳球吹去未粘牢的粉末,注意样品量不要过多。

(3)截面样品:将样品夹持在截面样品台上,需将样品的观察面与样品台顶面持平。

(4)所有样品必须做干燥处理;孔隙率大的样品在进入电镜前需在真空条件下储存或提前进行红外干燥处理。

wKgaomSPyCqAWITdAAMJxChdRHI703.png蔡司热场扫描电镜Sigma 300电子显微镜

2. EBSD样品要求:

(1)尺寸要求:样品应小于20 mm×20 mm,厚度超过10 mm需使用截面样品台进行固定。

(2)表面要求:表面平整、清洁、无残余应力,导电性好。可通过机械抛光、电解抛光或离子抛光进行制样。

3. 拉伸样品要求:

(1)尺寸要求:样品长度≤53mm,夹持端宽度≤10mm,厚度≤2.5mm,如样品断裂伸长率较大,应将样品长度尽量减小。

(2)其他要求:观察拉伸状态下的组织形貌需将样品表面做抛光腐蚀处理;EBSD测试需按照上述EBSD样品要求进行表面处理;测试温度范围室温至500℃。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 显微镜
    +关注

    关注

    0

    文章

    558

    浏览量

    23020
  • 电镜
    +关注

    关注

    0

    文章

    89

    浏览量

    9405
  • 透射电镜
    +关注

    关注

    0

    文章

    28

    浏览量

    5748
收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    蔡司离子束扫描电子显微镜Crossbeam 550 Samplefab

    蔡司代理三本精密仪器获悉。蔡司推出全新双束电镜Crossbeam550Samplefab作为一款专为半导体行业TEM样品制备开发的高端聚焦离子束扫描
    的头像 发表于 12-03 15:52 112次阅读
    <b class='flag-5'>蔡司</b>离子束<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>Crossbeam 550 Samplefab

    什么是扫描电镜(SEM)?

    扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜(SEM)是现代科学探索微观世界的一把关键钥匙。它通过高分辨率的电子成像技术,使我们能够洞察物质的微观
    的头像 发表于 11-20 23:55 292次阅读
    什么是<b class='flag-5'>扫描电镜</b>(SEM)?

    扫描电子显微镜用在半导体封装领域

    与分析的利器,正发挥着不可替代的作用。本文将深入探讨蔡司扫描电子显微镜在半导体封装领域的应用,从工艺开发、质量控制到失效分析,全方位展现其技术优势与实际应用案例。一、
    的头像 发表于 09-10 18:14 666次阅读
    <b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>用在半导体封装领域

    这些因素影响蔡司显微镜扫描电镜的价格

    蔡司显微镜扫描电镜的价格受多种因素影响,这些因素共同决定了其最终的市场售价。以下是一些主要的影响因素:1.品牌与型号品牌溢价:蔡司作为国际知名的光学仪器品牌,其产品在市场上享有较高的声
    的头像 发表于 08-29 11:58 358次阅读
    这些因素影响<b class='flag-5'>蔡司</b><b class='flag-5'>显微镜</b><b class='flag-5'>扫描电镜</b>的价格

    进口SEM扫描电子显微镜品牌推荐

    ZEISS品牌。蔡司可是光学领域的佼佼者,他们的SEM扫描电子显微镜无论是分辨率还是稳定性都是一流的。想想看,用蔡司扫描电镜观察微观世界,
    的头像 发表于 08-12 17:24 688次阅读
    进口SEM<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>品牌推荐

    蔡司EVO扫描电子显微镜进行轴承清洁度检测

    的INNIOGroup总部早在10年前就引入了清洁度检测标准。为确定有害残留污染物颗粒的来源,自2015年起INNIOGroup开始使用蔡司EVO扫描电子显微镜进行检测。例如,如
    的头像 发表于 07-22 16:14 332次阅读
    <b class='flag-5'>蔡司</b>EVO<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>进行轴承清洁度检测

    蔡司发射扫描电镜的高分辨率高效检测

    辨能力蔡司发射扫描电子显微镜(ZEISS,Sigma500)采用肖特基型
    的头像 发表于 07-15 17:48 490次阅读
    <b class='flag-5'>蔡司</b><b class='flag-5'>场</b>发射<b class='flag-5'>扫描电镜</b>的高分辨率高效检测

    蔡司EVO扫描电子显微镜用在五金机械领域

    今天蔡司代理三本精密仪器小编给大家介绍EVO扫描电镜电子显微镜在金属加工领域的应用。钨灯丝电子显微镜EVO系列所提供的图片质量出色,不仅能帮助客户清晰地观察到亚微米甚至纳米级别的细微差
    的头像 发表于 05-31 14:09 348次阅读
    <b class='flag-5'>蔡司</b>EVO<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>用在五金机械领域

    扫描电子显微镜SEM电镜结构及原理

    扫描电子显微镜(SEM)是一种功能强大、应用广泛的材料表征工具。其结构复杂且精密,主要包括电子光学系统、信号收集处理系统、图像显示和记录系统、真空系统以及电源和控制系统等。以下是蔡司
    的头像 发表于 03-20 15:27 1636次阅读
    <b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>SEM<b class='flag-5'>电镜</b>结构及原理

    扫描电镜的操作步骤及日常维护

    扫描电镜按构造和用处可分为透射式电子显微镜扫描电子显微镜、反射式电子显微镜和发射式电子显微镜
    的头像 发表于 02-01 18:22 1317次阅读

    首台国产商业发射透射电子显微镜发布

    1月20日,广州慧炬科技有限公司成功举办“承鸿鹄之志,造大国电镜”新品发布会,正式发布首台国产商业发射透射电子显微镜“太行”TH-F120。标志着我国已掌握透射电镜整机研制能力以及
    的头像 发表于 01-26 08:26 782次阅读
    首台国产商业<b class='flag-5'>场</b>发射透射<b class='flag-5'>电子显微镜</b>发布

    扫描电镜为什么分辨率高,景深大,立体感强?

    扫描电子显微镜是金属科研工作中应用最广泛的“神器”。可以说,几乎每一个研究生都把自己最重要的科研经历花在了身上。今天的我们就来介绍一下扫描电镜的原理和应用。 电子显微镜利用
    的头像 发表于 01-17 09:39 1203次阅读

    为什么电子显微镜需要真空系统?

    由于电子在空气中行进的速度很慢,所以必须由真空系统保持电镜的真空度,否则,空气中的分子会阻挠电子束的发射而不能成像。用两种类型的真空泵串连起来获得电子显微镜镜筒中的真空,当
    的头像 发表于 01-09 11:18 1232次阅读

    SEM扫描电子显微镜涂层磨损分析

    数字显微镜Smartzoom5和SEM扫描电子显微镜的解决方案。图a、b显示的是无涂层的钻头的切削刃口情况,图c、d显示的是金刚石涂层钻头的脱落情况;图a、c使用
    的头像 发表于 01-08 15:12 538次阅读
    SEM<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>涂层磨损分析

    如何理解扫描电子显微镜(SEM)中的充电效应

    扫描电子显微镜(SEM)已广泛用于材料表征、计量和过程控制的研究和先进制造中,我们在对半导体材料和结构进行观测时,常常会遇到充电效应,本文讨论了与样品充电相关的一些问题以及减轻其影响的方法。
    的头像 发表于 12-29 15:57 1627次阅读
    如何理解<b class='flag-5'>扫描</b><b class='flag-5'>电子显微镜</b>(SEM)中的充电效应