9812DX作为单一完整的低频噪声测试系统,支持多种半导体器件类型在各种工作条件下(如200V高压、10pA极低电流等)的高精度噪声测试。通过低频噪声测试,可以帮助芯片制造厂检测和排除工艺制造缺陷,确保芯片质量符合预期,提高芯片稳定性。
晶圆级噪声测试精度和高测试带宽,最低测试噪声的电流精度低至10-27A2/Hz。
典型噪声测试速度提高至一个偏置条件仅需20s、最高测试电压提高到200V。
通过并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式大幅度提高测试效率和吞吐量。
用于28/14/10/7/5/3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。
内置功能强大的NoiseProPlus软件,支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据分析。
产品亮点:
行业黄金标准:全球半导体行业低频噪声测试“黄金标准”系统
广泛采用:已被众多行业领先半导体公司所采用的标准测试系统
并行测试:经头部客户验证的高精度、高测试吞吐率并行测试能力
宽量程:晶圆级高精度和测试带宽宽电压、宽电流、宽阻抗测量范围
系统架构:系统体系架构经行业认可并不断完善兼具高精度和可靠性
覆盖广泛:同时覆盖从10Ω到10MΩ的高阻抗器件和低阻抗器件测试能力
技术参数:
宽量程: 最大器件端电压和电流 : 200V, 200mA
高精度: 最高 DC 电流精度 : 10pA、 系统噪声电流精度 : <10-27A2 /Hz
测试速度:典型 1/f 噪声测试速度可达 10 秒 /bias
抗阻范围:阻抗匹配范围 : 10Ω-10 MΩ Gate/Base
电阻多达 16 个选择
Drain/Collector 电阻多达 15 个选择
系统参数: 电压放大器:0.03-10MHz, 0.65nV/Hz(@5kHz)
电流放大器:0.03-1MHz, 0.7pA/ Hz(@5kHz)
宽带电流放大器:0.03-10MHz, 5pA/ √Hz (@5KHz)
高精度电流放大器:0.03-20KHz, 60fA/ √Hz (@5KHz)
内置 16 位 DSA
支持多台并行测试
产品应用:
先进工艺质量/工艺评估和品质监控
低频噪声特性测试和噪声数据分析
半导体器件SPICE模型库开发
高端集成电路设计和验证
审核编辑 黄宇
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