如何利用ADE Assembler检查电路中的floating gate-电子发烧友网

如果你还在用“笨方法”一个节点一个节点地检查电路中是否有floating的gate，那么你真的该仔细阅读一下这次的内容，并尝试在项目中使用文中介绍的方法进行floating gate检查。

ADE Assembler介绍

ADE Assembler是一个交互式的、能同时进行多个仿真的集成环境，旨在将设计的所有部分结合在一起，以开始围绕制造的设计。

在这种环境中，用户可以合并设计的多个模块测试，包括变量、器件参数、工艺角、检查和断言以及它们的规范等，每个测试都可以有独立的设置内容。

ADE Assembler简单理解可以认为是ADE XL的一个升级版本，自然包含不少新功能，其中一项：circuit checks便是接下来要使用的功能。

circuit check分成动态检查（dynamic check）和静态检查（static check）两种，静态检查利用拓扑结构实现，不需要运行瞬态仿真，动态检查需要运行瞬态仿真，接下来就需要利用动态检查实现电路中floating gate的检查。

为什么要检查floating gate 为什么要大费周章检查floating gate呢？原因很简单，电路中存在floating gate会产生很多不确定性影响。最常见的是高阻节点处floating gate导致电路下电后漏电，有很多人通过电路下电后漏电情况间接判断电路中是否存在floating gate. 但是通过漏电间接检查电路中是否存在floating gate并不十分可靠，因为有些比较隐蔽的、可能存在漏电风险的高阻节点处floating gate通过这种方法可能检查不到，所以推荐使用下面介绍的方法。 使用ADE Assembler检查floating gate

注意：ADE Assembler是IC617及其之后版本的Cadence IC套件才有的工具，所以使用前需要先确认一下工具是否需要升级。

检查floating gate使用dynamic check，需要运行瞬态仿真，所以，检查结果体现的是在瞬态仿真过程中电路存在的floating gate, 通常会检查电路下电后是否存在floating gate，下面以此为例。

首先用ADE L仿真电路的下电过程，需要采用瞬态仿真，其它操作流程没有特别需要注意的地方，确认仿真成功运行之后，保存ADE L的设置，留作在ADE Assembler中使用。

以上是仿真带隙基准电路的下电过程，从仿真波形可以看出，电路正常工作一段时间之后被下电，包含了完整的工作过程和下电过程。

在原理图编辑界面，选择：Launch->ADE Assembler，根据实际情况选择「Create」或者「Open」选项，然后一路确认，即可启动ADE Assembler工具。

打开ADE Assembler界面如上图所示，基本与ADE XL一致，IC617和IC618界面也很相近，略有不同，但是不影响使用。

在左侧Data View的最下面，有一个Checks/Asserts项目，这就是电路检查项目，首先添加test设置，只需要load之前ADE L仿真保存的state即可。

接下来，勾选并展开Checks/Asserts选项，点击「Click to edit checks」，开始设置电路检查项目。

操作完成之后跳转到另一个窗口，并自动打开Checks/Asserts Editor，下面简单介绍一下该窗口的内容，部分截图来自Cadence手册。

上图中「setting」所指的区域包含对Checks的一些操作，比如：保存、删除、增加检查等。

接下来点击上图中红色感叹号处的图表，弹出如下面所示的对话框，包含各种检查以及各种检查对应的具体细节。

依次选择：Circuit Checks-Dynamic->Dynamic HighZ Node Check，然后结束操作，可以看到左侧会多出一些信息。

左侧信息栏内按照下图所示填写内容即可，主要注意两个地方，第一个是Node一栏，可以按照需要选择检查的信号，但是推荐检查所有信号，在里面填入「*」.

在Fanout一栏，根据检查类型选择gate或者bulk，即指定仿真器检查floating gate或者floating bulk，如果没有特别需要也可以选择all，最后保存设置，并返回最初的ADE Assembler界面。接下来进行输出信息设置，在Output Setup界面，选择：Add new output->your test name->Violation Filter，添加违例设置。