季丰电子目前拥有蔡司GeminiSEM500扫描电镜SEM热场发射扫描电子显微镜,可为客户呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息;尤其在低的加速电压下,可在避免样品损伤的同时,快速获取更高清晰度的图像。
同时,经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号,帮助客户快速获取清晰的图像,并使样品损伤降至更低;在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度,二次电子图像分辨率1kV达0.9nm,500V达1.0nm,无需样品台减速,即可进行分析。
设备规格指标
1、分辨率:15 kV时0.6nm;1 kV时 0.9nm (借助串联减速功能选项)
2、加速电压:0.02-30 kV 连续可调
3、放大倍数:×20-2,000K
4、探针电流:3pA-20nA
能谱与超级能谱
1、能谱仪(EDS) Oxford EDS System(UltimMax80)
2、EBSD Oxford EBSD System(Symmetry)
拍照效果
1、对于导电性差的有机物有很好的成像效果;
2、热场SEM对碳化硅注入P/N结的成像要比冷场SEM更新清楚。
审核编辑:彭菁
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
原文标题:季丰电子新引入热场电子显微镜—G500
文章出处:【微信号:zzz9970814,微信公众号:上海季丰电子】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
相关推荐
蔡司代理三本精密仪器获悉。蔡司推出全新双束电镜Crossbeam550Samplefab作为一款专为半导体行业TEM样品制备开发的高端聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM
发表于 12-03 15:52
•38次阅读
蔡司作为一家在光学和电子显微镜领域具有深厚技术积累的企业,提供聚焦离子束—扫描电子显微镜(FIB-SEM)和飞秒激光(Laser-FIB)技术解决方案,为电池材料研究提供了强大助力。卓越成像效果
发表于 11-26 16:30
•122次阅读
成像原理与应用透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,TEM)是一种利用高能电子束穿透样品,通过电子与样品相互作用产生的信号来获取样品的微观结构信
发表于 11-26 11:49
•231次阅读
的大门,帮助我们精准定位问题、剖析失效原因。 显微镜家族在芯片失效分析中的多样面孔 显微镜并非单一的一种工具,在芯片失效分析领域,常见的有光学显微镜、
发表于 11-26 11:32
•163次阅读
透射电子显微镜(TEM)概述透射电子显微镜(TEM)是材料科学、纳米技术等领域中不可或缺的研究工具。对于新接触TEM的科研人员而言,理解其基础原理和操作对于高效利用这一设备至关重要。本文将详细介绍
发表于 11-06 14:29
•313次阅读
三本精密仪器小编介绍在半导体封装领域,技术的日新月异推动着产品不断向更小、更快、更高效的方向发展。其中,扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)作为精密观测
发表于 09-10 18:14
•597次阅读
说到SEM扫描电子显微镜的品牌推荐,蔡司代理三本精密仪器工程师可得好好跟你聊聊!这可是个技术活儿啊,选个好品牌,对于科研工作者来说,简直就像找到了宝藏一样!首先得说说那个大家都耳熟能详的蔡司
发表于 08-12 17:24
•630次阅读
今天蔡司代理三本精密仪器小编给大家介绍EVO扫描电镜电子显微镜在金属加工领域的应用。钨灯丝电子显微镜EVO系列所提供的图片质量出色,不仅能帮助客户清
发表于 05-31 14:09
•334次阅读
扫描电子显微镜(SEM)是一种功能强大、应用广泛的材料表征工具。其结构复杂且精密,主要包括电子光学系统、信号收集处理系统、图像显示和记录系统、真空系统以及电源和控制系统等。以下是蔡司扫描电子显
发表于 03-20 15:27
•1461次阅读
1月20日,广州慧炬科技有限公司成功举办“承鸿鹄之志,造大国电镜”新品发布会,正式发布首台国产商业场发射透射电子显微镜“太行”TH-F120。标志着我国已掌握透射电镜整机研制能力以及电子枪、高压电源
发表于 01-26 08:26
•754次阅读
由于电子在空气中行进的速度很慢,所以必须由真空系统保持电镜的真空度,否则,空气中的分子会阻挠电子束的发射而不能成像。用两种类型的真空泵串连起来获得电子显微镜镜筒中的真空,当电子显微镜启
发表于 01-09 11:18
•1122次阅读
数字显微镜Smartzoom5和SEM扫描电子显微镜的解决方案。图a、b显示的是无涂层的钻头的切削刃口情况,图c、d显示的是金刚石涂层钻头的脱落情况;图a、c使用
发表于 01-08 15:12
•505次阅读
扫描电子显微镜(SEM)已广泛用于材料表征、计量和过程控制的研究和先进制造中,我们在对半导体材料和结构进行观测时,常常会遇到充电效应,本文讨论了与样品充电相关的一些问题以及减轻其影响的方法。
发表于 12-29 15:57
•1552次阅读
中国近年来向着科技自立自强的方向迈出了坚定的步伐,核心技术不断突破,高端仪器设备持续涌现。近日消息,由苏州博众仪器科技有限公司(简称博众仪器)自主研发的200kV透射电子显微镜BZ-F200已经进入
发表于 12-28 11:24
•1240次阅读
本文介绍了一种飞米级电子显微镜的原理,未来这种技术有望用于探测远离稳定谷的核。
发表于 12-13 15:59
•679次阅读
评论