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详细介绍数字IC设计的全流程内容

冬至子 来源:叩持电子 作者:叩持电子 2023-10-09 15:28 次阅读

一颗芯片是如何造出来的,相信对行业稍有涉猎的同学,都能简单作答:即先通过fabless进行设计,再交由Foundry进行制造,最后由封测厂交出。

但这种程度仅仅是一个外行的基本认知,如果要在入行IC进行职业方向选择或是在面试中被问到时,则需要更加专业的回答。

一、确定项目需求

1. 确定芯片的具体指标

物理实现:

制作工艺(代工厂及工艺尺寸);

裸片面积(DIE大小,DIE由功耗、成本、数字/模拟面积共同影响);

封装(封装越大,散热越好,成本越高)。

性能指标:速度(时钟频率);功耗。

功能指标:功能描述;接口定义。

2. 系统级设计

用系统建模语言(高级语言 如matlab,c等)对各个模块描述,为了对方案的可行性进行验证

二、前端流程

1. RTL 寄存器传输级设计

利用硬件描述语言,如verilog对电路以寄存器之间的传输为基础进行描述;

2. 功能验证(动态验证)

对设计的功能进行仿真验证,需要激励驱动,是动态仿真。仿真验证工具Mentor公司的 Modelsim, Synopsys的VCS,还有Cadence的NC-Verilog均可以对RTL级的代码进行设计验证,该部分称为前仿真,接下来逻辑部分综合之后再一次进行的仿真可称为后仿真。

3. 逻辑综合(Design Compile)

需要指定特定的综合库,添加约束文件;逻辑综合得到门级网表(Netlist)。

4. 形式验证(静态验证)

功能上进行验证,综合后的网表进行验证。常用的就是等价性检查方法,以功能验证后的HDL设计为参考,对比综合后的网表功能,他们是否在功能上存在等价性。

这样做是为了保证在逻辑综合过程中没有改变原先HDL描述的电路功能。做等价性检查用到Synopsys的Formality工具。

5. STA静态时序分析

在时序上进行分析,用到Synopsys的PT(Prime Time)工具,一般用在后端设计中,由版图生成网表进行STA更准确一些;

STA满足时序约束,得到最终的Netlist。

6. DFT(design for test)可测性设计

为了在芯片生产之后,测试芯片的良率,看制作有无缺陷,一般是在电路中插入扫描连(scan chain)

DFT是在得到Netlist之后,布局布线(Place and Route)之前进行设计

三、后端流程

1. 布局布线(Place and Route)

布图规划floor plan

布图规划是整个后端流程中最重要的一步,但也是弹性最大的一步。因为没有标准的最佳方案,但又有很多细节需要考量。

布局布线的目标:优化芯片的面积,时序收敛,稳定,方便走线。

工具:IC compiler,Encounter

布局(place)

布局即摆放标准单元,I/O pad,宏单元来实现个电路逻辑。

布局目标:利用率越高越好,总线长越短越好,时序越快越好。

但利用率越高,布线就越困难;总线长越长,时序就越慢。因此要做到以上三个参数的最佳平衡。

布线route

布线是指在满足工艺规则和布线层数限制、线宽、线间距限制和各线网可靠绝缘的电性能约束条件下,根据电路的连接关系,将各单元和I/O pad用互连线连接起来。

2.时钟树综合——CTS

Clock Tree Synthesis,时钟树综合,简单点说就是时钟的布线。

由于时钟信号在数字芯片的全局指挥作用,它的分布应该是对称式的连到各个寄存器单元,从而使时钟从同一个时钟源到达各个寄存器时,时钟延迟差异最小。这也是为什么时钟信号需要单独布线的原因。

3. 寄生参数提取(Extrat RC)

由于导线本身存在的电阻,相邻导线之间的互感,耦合电容在芯片内部会产生信号噪声,串扰和反射。这些效应会产生信号完整性问题,导致信号电压波动和变化,如果严重就会导致信号失真错误。提取寄生参数进行再次的分析验证,分析信号完整性问题是非常重要的。

4.STA

前面逻辑综合后STA的话,用的是一个理想的时序模型(Timing Model)去做的,这个实际上并没有实际的时序信息,实际cell摆在哪里,两个cell之间的走线延时等信息都是没有的,因为这个时候还没有布局布线,两个的位置都是不确定的,自然没有这些信息。

当位置确定之后,才会真正的去提取这些延时信息(Extrat RC),然后再做布局布线之后的STA,此时的STA相较于综合时的STA,拿到的延时信息就是更真实的!包括时钟,也是插了时钟树之后真正的时钟走线,时钟路径的延时也是更真实的。如果布局布线之后还有不满足时序的地方,也会退回去前面

5. 版图物理验证

这一环节是对完成布线的物理版图进行功能和时序上的验证,大概包含以下方面:

LVS(Layout Vs Schematic)验证:简单说,就是版图与逻辑综合后的门级电路图的对比验证;

DRC(Design Rule Checking):设计规则检查,检查连线间距,连线宽度等是否满足工艺要求;

ERC(Electrical Rule Checking):电气规则检查,检查短路和开路等电气规则违例;

实际的后端流程还包括电路功耗分析,以及随着制造工艺不断进步产生的DFM可制造性设计)问题等。

6. 生成GDSII文件,Tap_off 流片

物理版图以GDSII的文件格式交给芯片代工厂(称为Foundry)在晶圆硅片上做出实际的电路。

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