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双T陷波器及失真度测试与调整

冬至子 来源:硬件电路设计与研究 作者:scuzy 2023-10-13 15:30 次阅读

在测量放大器的失真度特性时,可以使用陷波器,其基本原理如下图:

图片

对陷波器的要求:对各次谐波的放大倍数基本相等,对各次谐波的相移基本相等,除了滤除基波,要对各次谐波的影响基本相同,而且基波要有足够的衰减量,让其滤波后的残余量不影响谐波测量。

采用数字ADC测量然后做FFT分析的数字处理方法测量时,对ADC的性能要求较高,高精度测量时很难实现,比如做到0.01%精度测试时,一般ADC本身精度都达不到,此时采用双T陷波器的模拟电路方案是不错选择,下图是一级双T陷波器:

图片

其要求:R>>R6,则陷波中心频率为1/(2piRC ), 谐波的放大倍数为1+R5/R6, 具体分析见后面视频; 计算的电阻电容未必买得到,电路应该要优化调整,调整方法可以采用李沙育图形方法,实际基本电路如下:

图片

通过调整图中两电位器,把李沙育图形调整为一条水平线,具体原理方法见后面视频解说。调好后,实际测试放大器失真时是根据测试精度要求级联2~3级双T陷波器,如下图,具体测试见视频讲解:

图片

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