晶振可靠性振动测试实验
晶振在设计和使用过程中，在经受自身，外部环境，以及机械环境的影响下，仍然可以正常的工作。今天凯擎小妹分享的“振动试验”就属于机械环境的一部分：
高低频振动测试
确定晶振对在现场使用中可能经受到的主要振动的适应性和结构的完好性。具体可参考 GJB360B.201/ 204。
随机振动测试
确定晶振受随机振动环境应力的适应性及结构的完好性。随机振动代表了导弹、喷气机和火箭发动机等产生的振动环境。晶振按GJB 360B.214方法试验。
试验说明
本试验可以使用“电磁式振动试验机”，设置试验振动频率10Hz—2000Hz—10Hz(低频在10Hz-55Hz范围内采用201方法)；每个循环扫描时间20min；三个互相垂直方向(x,y,z)上进行振动试验，各做12个循环。
总试验时间:3*12*20/60=12hrs
将试验品焊接在PCB板进行试验，
对于普通产品，幅度/加速度为1.52mm/20g。
本试验对晶振的影响
晶体谐振器:频率升高1ppm左右,(5ppm max);谐振阻抗增大4Ω左右, 5max or +10%;
晶体振荡器:频率降低2ppm左右, (5ppm max)。
审核编辑：刘清
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原文标题：晶振可靠性测试：振动试验
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