什么是TLP测试？TLP如何工作？TLP如何测量？

什么是TLP测试

我们比较熟悉的ESD模型和评估手段是人体模型HBM、机器模型MM、充电模型CDM，IEC模式等，这些静电模型直接模拟了现实中的某种静电形式。

TLP：Transmission Line Pulse，传输线脉冲与以上模型不同，并非模拟现实中的静电形式，而是通过纳秒级别方波脉冲，获得I-V曲线的方式，虽然不能完全模拟现实情况，但是具有在记录失效级别的同时也能获得芯片具体表现的优势。

芯片的具体表现也就是阻抗特性=电压/电流（I-V曲线），可通过持续增加电压直到芯片损坏得到，因此常常在芯片研发阶段使用，以获得防护器件的关键性能参数，便于在生产制造过程中调整相关的设计，从根本上提高产品的ESD防护能力，保证良率。

TLP short pulse

如下图所示,TLP 测试使用短脉冲的方波(比如100ns)且持续增加的形式进行测试，占空比小，产生热量少，最终得到Turn-on time，Snapback voltage，Performance changes with rise time（比如2ns,10ns等）TLP测试的脉宽一般为100ns或者30-500ns（超快TLP为1ns-10ns）, 上升时间一般0.2ns-10ns。不管是封装好的芯片还是芯片晶圆都可以进行TLP测试。

TLP如何工作

电源给左边的cable 充电，充好电开启TLP的开关，到DUT,从而产生电压。Charger line cable 长度决定脉冲的宽度，上升沿决定于TLP开关后面的低通滤波器。

TLP如何测量

分别使用电压探头和电流探头测量DUT侧电压和电流，通过电压/电流就可以得到阻抗等信息。