ATE/ATS内部结构简介

ATE/ATS：自动测试设备/自动测试系统，也称测试机是测试工程师在IC测试中必须使用的工具，本文主要从技术层面对ATE/ATS的组成及软硬件及其接口要求进行了简明扼要的论述，以便测试工程师了解、掌握。

通常将在计算机控制下，能自动进行各种信号测量、数据处理、传输，并以适当方式显示或输出测试结果的系统称为自动测试系统，简称ATS（Automated
Test System），这种技术我们称之为自动测试技术。

在自动测试系统中，整个工作都是在预先编制好的测试程序统一指挥下完成的，系统中的各种仪器和设备是智能化的，都可进行程序控制。

自动测试系统（ATS）是一个不断发展的概念，随着各种高新技术在检测领域的运用，它不断被赋予各种新的内容和组织形式。自动测试技术创始于20世纪50年代，从20世纪50年代至21世纪的今天，大致分为以下三代。

•第一代自动测试系统是根据测量任务专门设计的，主要用计算机技术来进行逻辑定时控制，主要动能是进行数据自动采集和自动分析，完成大量重复数据的测试工作，承担繁重的数据运算和分析任务。系统中的仪器采用专用接口，因此系统较为复杂，通用性差，不利于自动测试系统的推广应用。

•第二代自动测试系统是尽可能利用现成的仪器设备，再利用计算机来共同组建成所需要的自动测试系统。为了系统组建方便，第二代自动测试系统中的仪器采用了标准化的通用接口，这样就可以把任何一个厂家生产的任何型号的可程控仪器连接起来形成一个自动测试系统。第二代自动测试系统示意图如图9-1所示。系统的典型方框图9-2所示。

图中表明，当前的自动检测系统，通常包括以下几个部分。

•（1）控制器

•（2）激励信号源

•（3）测量仪器

•（4）开关系统

•（5）适配器

•（6）人机接口

•（7）检测程序

•第三代自动测试系统
大体说来，它也是由微型计算机、通用硬件系统和软件系统三部分组成。但是，第三代自动测试系统主要体现以软件控制、以功能组合方式实现的合成仪器自动测试技术，以高速A/D、D/A和DSP芯片为基础组成通用测试仪器硬件系统（即通用硬件部分，结构如图9-3所示），而测试/测量任务的实现以及系统升级完全依靠软件来实现（即软件系统部分，如图9-4所示）。