【技术专栏】泰凌微电子产测工具使用——如何制作及使用产测固件-电子发烧友网

泰凌的产测工具默认提供了多个产测固件，比如测试射频 RF，测试低功耗电流，这些都属于前置测试，即测试PCBA硬件是否存在异常。如果PCBA板子有sensor之类的传感器，是否可以检测硬件异常呢？这是可以实现的。泰凌的产测系统的实现机制是：先生成一个RAM版本的产测固件，然后通过芯片的烧录口把RAM版本的产测固件加载到DUT待测设备芯片的RAM中，让产测固件执行相关指令，就可以达到测试的目的。本文就以TLSR8208 SoC检测震动传感器为例介绍产测固件的生成和使用方法。

另外，客户对产品的各种功能进行的量产测试，我们称之为功能测试，以便和前置测试区分。这些功能测试，受限与RAM空间和客户需求不同，只能客户自行实现。

如何生成产测固件

1、下载产测固件的工程

因为产测固件需要在RAM运行，有两点要求，一是启动文件是ram启动的，二是固件本身要足够小，必须小于8K，加载到RAM中才能运行。泰凌已经提供了生成RAM固件的demo工程，就是driver sdk中的dut_demo例程。在泰凌wiki网站下载driver sdk，如下图所示的V1.5.1版本，此driver sdk包含了B80, B85和B87三个系列芯片的driver demo：

http://wiki.telink-semi.cn/wiki/chip-series/TLSR825x-Series/

2、Dut_Demo说明

此Demo例程的具体代码并不复杂，请客户自行理解。此处只说一些关键点，如下图截取的代码：

dut_cmd_func结构体数组，一个结构体成员是cmd id，新增了DUTCMD_SENSOR_TEST，定义是0x69，后面脚本文件test.tls中会用到此cmd id。另一个结构体成员就是函数指针，新增的vibration_sensor_test就是一个函数指针，在这个函数内实现震动传感器的检测。

tl_test_cmd_pkt_t_another *g_test_cmd_ptr 是一个指向RAM地址（0x840004地址）的指针。此RAM区域被定义为了量产夹具（JIG EVK）和DUT测试芯片之间通信的buffer，量产的JIG evk可以通过下发指令和参数，也可以读取产测的结果。比如结构体成员param[2]，是用来做输入参数（可选的），比如设定检测的震动次数，在脚本文件test.tls中有使用到。结构体成员resp[3]就是检测结果的返回值。

3、检测振动传感器的代码

检测震动传感器的机制是：使用Timer定时器，来捕获GPIO的脉冲输入个数。在规定的时间内，检测到脉冲数大于设定的个数（10次）则传感器正常，否则硬件异常。具体代码如下图所示。

如何使用产测固件

1、修改脚本文件test.tls

编译driver sdk中的 DUT_DEMO，生成的bin重命名为：dut_b80_sensor_v0001.bin，然后copy到已经配置过测试项的Evkmonitor/platform/default目录下：

修改脚本文件test.tls脚本，新增下面的指令

说明1：fast_load指令是把产测固件加载到RAM中的，所以输入参数的名称务必与第（1）步中产测固件的名称相同，否则加载错误。

说明2：因为 "dut_b80_sensor_v0001.bin"是用户自定义的测试bin文件，所以在fast_load指令之前必须先设置config[12] = 0.如果后面要继续使用泰凌提供的测试bin文件，如dut_8258_flash_v0005.bin，则必须重新设置config[12] = 1。

说明3：Dutcmd指令说明参考下图，

cmd id是0x69，对应程序中的DUTCMD_SENSOR_TEST宏定义
Para0 = 10，对应程序中设定的震动次数
Para1没有用到，设为0
超时时间，设定为5s，也就是dutcmd指令的超时时间；必须大于程序里检测震动的工作时间3s。

2、产测的使用

更改了test.tls脚本后，需要重新download到JIG EVK里面才能生效。打开Evkmonitor软件进行在线测试，结果如下。

测试通过pass的显示和测试log。

测试失败的显示和测试log

关于产测工具的连载文章

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