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万用表检测IGBT好坏的步骤是什么?IGBT好坏测试方法还有哪些?

纳米软件(系统集成) 来源:纳米软件(系统集成) 作者:纳米软件(系统集 2023-11-09 15:21 次阅读

什么是IGBT?

IGBT即绝缘栅双极型晶体管,是一种复合全控型电压驱动式功率半导体器件,是电力控制和电力转换的核心器件,在高电压和高电流的光伏逆变器、储能装置和新能源汽车等领域被广泛应用。IGBT具有高输入阻抗,低导通压降,高速开关特性和低导通状态损耗等特点。

IGBT测试项目

为了检测IGBT的性能、稳定性和可靠性,IGBT测试是设计和生产过程中的重要环节。通过测试可以发现早期潜在的问题,从而提升其性能,让用户在使用过程中有良好的体验。IGBT测试的项目主要有:

栅极-发射极阈值电压VGE(TO)测试

栅极-发射极漏电流IGES测试

集电极-发射极截止电流ICES测试

集电极-发射极饱和电压VCE(sat)测试

开通时间ton测试:开通时间是开通延迟时间与集电极电流上升时间之和。

关断时间toff测试:关断时间是关断延迟时间与电流下降时间之和。测试包含阻性负载和感性负载测试。

恢复时间测试:是针对IGBT上反向续流二极管的恢复时间进行测试。

IGBT极性判断方法

万用表快速检测IGBT之前,先要确定IGBT的极性。

栅极(G):万用表设置到R×1KQ位置,开始测量。如果一极和另外两极的电阻值是无穷大,更换表笔后该极和另外两极的电阻值依然是无穷大,则此极是栅极。

集电极(C)和发射极(E):用万用表测量剩下的两极,如果被测电阻为无穷大,更换表笔后被测电阻变小,在第一次测量到小电阻值时,判断红色表笔接集电极,黑色表笔接发射极。

IGBT好坏检测——万用表

1. 设置万用表为R×1KQ(R×10KΩ),黑表笔接C极,红表笔接E极,此时万用表指针在零位。

2. 用手指同时触及G极和C极,IGBT被触发导通,好的IGBT会使万用表的指针指向某个电阻。

3. 再用手触及G极和E极,此时IGBT被阻断,如果万用表指针回零,则判断IGBT是好的。

注意事项:

检测时一定要将万用表设置在R×10KΩ,因为R×1KΩ挡以下各档万用表内部电池电压太低,在检测过程中无法使IGBT导通,从而无法判断IGBT的好坏。

检测IGBT好坏的其它方法

1. 观察外观

首先检查IGBT外观是否有物理损坏、烧焦或裂纹等情况。如果表面有可见的损坏,IGBT可能已经损坏。

2. 测试绝缘性

用万用表电阻测量功能来测试IGBT的绝缘性。将万用表的正极连接到IGBT的集电极上,将负极连接到发射极或栅极上(具体连接方式根据IGBT的引脚结构而定),如果显示为无限电阻,则表示IGBT的绝缘性良好。如果显示为导通或者具有很低的电阻值,那么IGBT可能存在绝缘性问题。

3. 温度测试

在正常操作条件下,通过红外测温仪或接触式温度计来测量IGBT的温度。如果IGBT温度异常升高,超过了正常工作温度范围,可能存在故障或问题。

4. 激活测试

正常工作条件下,施加电压来激活IGBT,并进行相应的电流和功率测试。在正确的电压和电流下,如果IGBT无法正常工作、电流过大或功率损失较大,则可能存在问题。

5. 频率响应测试

使用相应的信号发生器和示波器来测试IGBT的频率响应。通过施加不同频率的信号,并观察输出波形是否正常,如有任何畸变或失真,IGBT可能存在问题。

纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统可以测试二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅MCU、IGBT、各类分立器件等集成电路测试,采用ns级高精度测试,提高测试效率。

审核编辑 黄宇

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