0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

​分析电源电压检测电路的可靠性和失效模式

machao1680 来源:物联网全栈开发 作者:物联网全栈开发 2023-11-15 16:05 次阅读

wKgZomVUfCeAULVJAAF24IBrG4s873.png

断电检测电路

啪一下,很快呀,几个网友给我留言。

我一看,嗷!原来是R1、R2这两个分压电阻放在了反向保护二极管的负极,他们不理解。

他们说,放在这里不能检测电源断电。

我大意了,没有介绍其中的玄机。

看到不少网友有这样的疑问,我觉得有必须再写一篇文章从潜通路的角度把问题分析清楚。

什么是潜通路(sneak path)

潜在通路,是指在电气/电子系统中使得系统产生非期望功能或抑制期望功能的电路,

它与硬件失效无关,而是设计者无意地设计进系统的一种潜在状态。

潜在通路的出现常常会给系统设备乃至人身造成巨大的危害。

在国内一般只有做航天、航工、军工方面的设计时才会关注它,在网上搜索这一名词,基本上搜索不到相关信息

电源电路的正常通路

正的直流电压的通路

wKgaomVUfCeAUC0zAAGWJ_hbAZQ825.png

正常电路通路

1:从D1->DC/DC->LM1117-3.3->负载,给负载供电

2:从D1-R1->R2->单片机A/D口,给MCU检测电源电压。

3:交流电压的通路,从D1-E1&C1,交流信号被E1,C1滤除。

潜通路

因为电源供电,我们只需要从电源到负载的电流通路,从负载到电源的电流通路是非预期的,无效的。因此,我们加了一个D1做反向保护,避免形成从负载到电源的潜通路。

如果我们把R1、R2移至D1的正极时,可能会形成以下的潜通路。

wKgaomVUfCeAdNC6AAI4Xx-3FjY261.png

潜通路

当有正脉冲从电源端输入时,形成电源经过R1到电容C5以及IO口的潜通路1,

当有负脉冲从电源端输入时,形成从IO口到R2&R1到电源的反向潜通路2。

这个潜通路的存在,可能存在以下的风险:

脉冲信号的尖峰串入MCU的IO口,造成IO口损坏。

脉冲电流的尖峰产生的电磁干扰影响控制器正常工作,甚至损坏器件。

高压干扰信号的电压超过电阻R1的耐压值,导致电阻击穿损坏。

最好的防护方式是不让潜通路的形成。

因此,需要将分压电路放在反向保护二极管D1的负级。

两个不同位置的差异

如果放置到反向保护二极管D1的正极,MCU可以立即检测到掉电。

如果放置到反向保护二极管D2的后级,MCU必须以比电源电压低2V左右的电压作为判定阈值,检测到比该阈值电压低的电压才判为掉电;

控制器真实掉电到MCU检测到掉电的延时,即为电容E1从电源电压放电到阈值电压的时间。

比如,对于24V的供电电源,设定22V为阈值电压。

考虑二级管D1的压降之后,E1的放电方程为:u(t)=23.2exp(-t/(RC))。

如果电容为100uF,控制器工作电流为30mA(对应负载电阻为800Ohm)。

E1从23.3V放电到22V所花的时间为:

t=-800100e-6ln(22/23.3)=4.24ms。

放在负极跟放在正极相比,检测到掉电的时间差了4.24ms,完全可以接受。

另外,如果只需要检测掉电不需要检测电源电压,而且没有成本和PCB空间的限制,

可以采用三极管隔离来检测掉电,如下图:

wKgZomVUfCeACQXLAAEhDk6WYAU553.png

三极管隔离掉电检测

本文来源物联网全栈开发

审核编辑:汤梓红

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 三极管
    +关注

    关注

    142

    文章

    3611

    浏览量

    121870
  • 二极管
    +关注

    关注

    147

    文章

    9627

    浏览量

    166307
  • 检测电路
    +关注

    关注

    13

    文章

    307

    浏览量

    58161
  • 电源电压
    +关注

    关注

    2

    文章

    989

    浏览量

    23969

原文标题:​分析电源电压检测电路的可靠性和失效模式

文章出处:【微信号:电子设计宝典,微信公众号:电子设计宝典】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    微电子器件可靠性失效分析程序

    微电子器件可靠性失效分析程序
    的头像 发表于 11-01 11:08 1296次阅读
    微电子器件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>程序

    “电子产品失效分析可靠性案例”免费技术研讨会

    、华碧失效分析可靠性实验室。在失效分析可靠性方面从事过的主要项目有:“叠层芯片内置
    发表于 10-31 10:48

    “电子产品失效分析可靠性案例”免费技术研讨会

    失效分析可靠性实验室。在失效分析可靠性方面从事过的主要项目有:“叠层芯片内置
    发表于 11-05 11:31

    “电子产品失效分析可靠性案例”免费技术研讨会

    失效分析可靠性实验室。在失效分析可靠性方面从事过的主要项目有:“叠层芯片内置
    发表于 11-05 11:41

    电子产品失效分析可靠性案例”免费技术研讨会

    失效分析可靠性实验室。在失效分析可靠性方面从事过的主要项目有:“叠层芯片内置
    发表于 11-05 11:43

    内资第一家电子产品可靠性失效分析测试机构

    检测技术服务支持平台! 我们数十名专家组成的业务团队,使我们能提供全面的电子失效分析可靠性技术解决方案。通过对集成电路、电子元器件、PC
    发表于 03-30 15:38

    可靠性分析第一步】构造可靠性模型

    失效,都将引起整个系统失效。      上图中的a表示系统的功能框图,而b表示系统的可靠性框图,可以看出,两者有时是不相同的。   例如:一个LC并联谐振电路:      虽然是LC
    发表于 09-03 15:47

    可靠性失效分析

    苏州纳米所可靠性失效分析中心秉承加工平台公共服务方面的特性,在对外提供支撑和服务过程中多方发现用户的共性需求,以检测能力与市场需求完美契合为目标不断完善。目前本中心在电子材料、元器件
    发表于 06-04 16:13

    可靠性验证

    当组件上板后进行一系列的可靠性验证,可靠性验证过程中产品失效时,透过板阶整合失效分析能快速将失效
    发表于 08-28 16:32

    陶瓷电容的失效可靠性分析

    在因素而失效。电容在各种应力作用下其材料发生物理和化学变化,导致电参数变劣而最后失效,可分为电应力(电流、电压)和环境应力(湿度、温度、气压、振动和冲击等)两种,下面就电容的失效
    发表于 05-05 10:40

    芯片IC可靠性测试、静电测试、失效分析

    •芯片级失效分析方案turnkey•芯片级静电防护测试方案制定与平台实验设计•静电防护失效整改技术建议•集成电路可靠性验证•材料
    发表于 04-26 17:03

    PCB线路板可靠性分析失效分析

    镀层开路、镀层裂纹、镀层空洞、柱状结晶、孔壁分离等失效分析;冷热冲击、回流焊、镀层结晶、镀层覆盖可靠性分析。01.冷热冲击金鉴实验室针对PCB板冷热冲击测试,并
    发表于 08-05 11:52

    失效模式下电阻制动系统可靠性建模

    和基于最小二乘法和遗传算法的参数估计方法,利用系统整体及各部件的可靠度模型进行了可靠分析和寿命预测。分析结果表明,考虑失效
    发表于 03-26 16:03 0次下载
    多<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>模式</b>下电阻制动系统<b class='flag-5'>可靠性</b>建模

    LED电源可靠性应该如何检测

    什么是LED电源可靠性?应该如何检测?1、描述输入电压影响输出电压的几个指标形式
    发表于 08-01 10:43 1325次阅读

    LED可靠性试验不过的失效分析

    、湿度相关的可靠性试验,对失效的产品进行部件或者材料更换,直到通过测试则选用。虽然此模式可以简单的完成产品的设计,然而未对失效的产品的失效
    发表于 11-13 11:57 895次阅读