泰克SiC性能评估整体测试解决方案，为汽车检测认证护航！

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近年来，在国家“双碳”战略指引下，汽车行业油电切换提速，截至2022年，新能源汽车渗透率已经超过25%。汽车电动化浪潮中，半导体增量主要来自于功率半导体，根据 Strategy Analytics，功率半导体在汽车半导体中的占比从传统燃油车的21%提升至纯电动车的55%，跃升为占比最大的半导体器件。

应对SiC带来的测试验证挑战

同其他车用电子零部件一样，车规级功率半导体也须通过AEC-Q100认证规范所涵盖的7大类别41项测试要求。对于传统的硅基半导体器件，业界已经建立了一套成熟有效的测试评估流程。而对于近两年被普遍应用于开发800V超充技术的三代半导体碳化硅（SiC）材料而言，由于其面世时间较短，缺陷暴露不充分，失效机理不清晰，对其进行科学有效的评估和验证至关重要。

为了帮助产业更好的应对SiC所带来的测试验证挑战，各大汽车检测认证机构正逐步建立起符合AEC-Q100认证规范要求的完整SiC器件/模块测试评估能力；而动态可靠性测试作为整个评估体系的重要一环，往往是机构在搭建相关验证能力时所关注的焦点。泰克作为全球领先的测试测量设备商，针对SiC器件/模块可提供以下全流程测试验证解决方案，相关方案已被各大汽车检测认证机构广泛采用，备受好评。

SiC器件动态特性测试系统-DPT1000A

DPT1000A功率器件动态测试系统由泰克科技领衔开发，专门用于针对三代半导体功率器件的动态特性分析测试，旨在解决客户在功率器件动态特性表征中常见的疑难问题，包括如何设计高速工作的驱动电路，如何适配多种芯片封装形式，如何选择和连接探头进行信号测试，如何优化和抑制测试过程中的噪声和干扰。帮助客户在研发设计和试产阶段，快速评估器件性能，更快应对市场需求改善产品性能。

系统主要特点

定制化系统设计 , 丰富的硬件配置和高灵活性的驱动电路

自动化测试软件，测试功能丰富 , 可以自动配置参数，测试和生成数据报告

高带宽/高分辨率测试设备 , 在高速开关条件下准确表征功率器件

覆盖高压、中压、低压、pmos、GaN 等不同类型，不同封装芯片测试

可以提供单脉冲、双脉冲、反向恢复、Qg、短路测试、雪崩参数、RBSOA等测试功能

SiC器件动静态综合老化测试系统

HTXB-1000D动静态综合老化测试系统针对以 SiC/GaN 为首的新型三代半导体功率器件，根据其特有的器件结构和失效机理，在加速老化条件下，有针对性的施加特定压力条件（包括静态压力和动态压力），用以测试功率器件器件的漏流指标，以及其他典型特性参数（例如阈值开启电压，导通电阻等关键指标），以表征器件的老化特性和工作寿命。可以让器件生产厂商和器件使用者在较短时间内了解新型功率器件的老化特性，以及长期使用条件下的性能变化，为器件实际应用过程中可能出现的故障进行预判和分析。

该动静态压力综合老化测试系统用于批量SiC/GaN器件老化测试，通过测试数据可以研究SiC/GaN器件的典型参数在不同压力条件下的变化特性，帮助客户了解器件可靠性相关信息并表征老化特性。

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原文标题：泰克SiC性能评估整体测试解决方案，为汽车检测认证护航！

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