0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

浅谈芯片技术的可靠性风险

要长高 来源:epsnews 作者:Pablo Valerio 2023-11-23 14:46 次阅读

电子供应链中的所有利益相关者都依赖于他们买卖的复杂组件的可靠性。但随着芯片技术的进步,测试所有可能的质量问题变得更具挑战性。例如,苹果的A17 Pro SoC拥有190亿个晶体管和一个6核CPU,其中两个高性能内核采用了新的台积电3纳米技术。当组件直接销售或通过授权渠道销售时,半导体制造商保证其芯片的性能。

10纳米以下晶圆厂生产的新处理器出现了更多的质量问题——有些在常规测试中很难检测出来。制造商和原始设备制造商在最终用户投诉后才发现,不得不更换整个设备并推迟生产。

一些小故障仍然是个谜。2015年,一群来自多伦多大学的计算机科学家IEEE频谱报告超过4%的谷歌云计算服务器被之前任何测试都没有检测到的错误击中,导致服务器意外停止。

然后,在2020年,AMD发表了一份报告有证据表明,当时最先进的芯片比上一代同类产品的可靠性低5.5倍。越来越多的人一致认为,随着每一代半导体的出现,这个问题正在成倍增长,尤其是在最先进的芯片中。

2021年,脸书和谷歌的研究人员发表了描述计算机硬件故障的研究,这些故障的原因不容易确定。他们认为,问题不在于软件,而在于不同公司生产的计算机硬件的某个地方。

“我们的冒险始于警惕的制作团队越来越多地抱怨累犯机器破坏数据,”谷歌工程师彼得·霍奇斯尔德在一次视频已呈现在操作系统热点话题(Hot Topics in Operating Systems)2021大会上。

Hochschild和他的团队推测,“性能和密度正在超过硅的可靠性,复杂性正在超过测试方法。”

摩尔定律与功耗

1974年,美国工程师和发明家罗伯特·h·丹纳德与人合著了一部纸认为随着晶体管变得越来越小,它们的功率密度保持不变,因此功耗与面积成比例。

根据摩尔定律,晶体管数量每两年翻一番,芯片尺寸保持不变,而Dennard scaling则表示,给定面积的总芯片功率在不同代的工艺中保持不变。

英特尔、AMD、台积电和其他公司一直在利用这两条定律制造更快、更小的处理器,从而实现了当前的移动计算生态系统。当前的笔记本电脑、平板电脑,尤其是智能手机,之所以成为可能,是因为它们在相同的面积上封装了更多的晶体管,而同样的性能需要更少的功率。

不幸的是,对于半导体行业和原始设备制造商来说,Dennard scaling不再有效。“1974年,丹纳德的标度法则被发现,并一直保持了30多年,直到2005年左右,”克里斯蒂安·马丁教授说奥格斯堡应用科学大学的教授说:“在2005年之前,器件结构大于65纳米时,漏电流可以忽略不计。”

根据内存制造商Rambus的说法,“业界普遍认为,Dennard缩放定律在2005-2007年间的某个时候失效了。正如马丁所证实的那样,由于阈值和工作电压无法再调整,因此不可能在保持各代产品功率包络不变的同时实现潜在的性能提升。”

事实上,正如马丁所展示的那样,在相同的芯片面积下,后Dennard缩放导致每代功耗增加2倍,芯片计算资源的使用减少。对于给定的芯片面积,每一代的能效只能提高40%。

收益率下降;耗电量增加了

摩尔第二定律,也叫洛克定律(以亚瑟·洛克命名)指出半导体制造厂也会随着时间呈指数增长。

随着密度和复杂性的增加,生产可用芯片的成本增加。一些半导体制造商正花费数十亿美元购买新工具,尤其是阿斯麦***。

此外,由于Dennard扩展已经死亡,芯片设计人员必须创建更多的专用内核来补偿更高的功耗。这对于云计算和人工智能应用尤其重要,在这些应用中,电源使用效率(PUE)是效率和可持续性的最终衡量标准。

最近,华为推出了新的旗舰智能手机Mate 60 Pro,据报道,它包括由中国半导体制造国际公司(SMIC)明确开发的新5G麒麟9000s处理器。最初,华为没有发布这款设备的全部规格,但是拆卸显示其采用7纳米技术。直到最近,人们还认为没有一家中国制造商拥有制造如此大规模芯片的工具。

“一些研究公司预测SMIC的7纳米工艺成品率低于50 %,与90%或更高的行业标准相比,低产量将限制出货量在200-400万片左右,不足以让华为恢复其以前在智能手机市场的主导地位,”路透社报道。

测试复杂的芯片需要新的工具

在对创新的不懈追求中,半导体行业已经达到了前所未有的里程碑,芯片使用5纳米和3纳米内核。然而,这种显著的进步也带来了令人担忧的副作用:芯片故障率不断上升。

在这种情况下,对前沿半导体进行全面、持续的可靠性测试的需求从未像现在这样明显。从过去的失败中吸取的教训,如谷歌、AMD、脸书和其他公司所强调的,强调了应对这些挑战的紧迫性。

审核编辑:黄飞

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 芯片
    +关注

    关注

    453

    文章

    50360

    浏览量

    421646
  • 摩尔定律
    +关注

    关注

    4

    文章

    632

    浏览量

    78926
  • 芯片设计
    +关注

    关注

    15

    文章

    1001

    浏览量

    54802
  • 晶体管
    +关注

    关注

    77

    文章

    9629

    浏览量

    137811
  • 半导体制造
    +关注

    关注

    8

    文章

    390

    浏览量

    24039
收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    PCB高可靠性化要求与发展——PCB高可靠性的影响因素(上)

    可靠性提出了更为严格的要求,特别是在焊接点的结合力、热应力管理以及焊接点数量的增加等方面。本文将探讨影响PCB可靠性的关键因素,并分析当前和未来提高PCB可靠性的制造技术发展趋势。
    的头像 发表于 10-11 11:20 255次阅读
    PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>化要求与发展——PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>的影响因素(上)

    基于可靠性设计感知的EDA解决方案

    技术人员撰写的。本文介绍了基于多物理场考虑的可靠性设计 (DFR) 工作流程的创新 EDA 解决方案,跨越了 IP 级别、芯片和封装/PCB 级别。本文还概述了DFR增强的路线图,包括早期可行
    的头像 发表于 07-15 09:56 344次阅读
    基于<b class='flag-5'>可靠性</b>设计感知的EDA解决方案

    汽车功能安全与可靠性的关系

    当前,随着汽车领域的飞速发展,汽车也被重新定义。在汽车电子电气系统设计时,离不开对功能安全和可靠性设计的考虑。正确理解两者之间的关系,有助于更好地分析问题和解决问题。什么是汽车可靠性汽车可靠性是指
    的头像 发表于 07-13 08:28 3160次阅读
    汽车功能安全与<b class='flag-5'>可靠性</b>的关系

    半导体封装技术可靠性挑战与解决方案

    随着半导体技术的飞速发展,先进封装技术已成为提升芯片性能、实现系统高效集成的关键环节。本文将从生态系统和可靠性两个方面,深入探讨半导体先进封装技术
    的头像 发表于 05-14 11:41 934次阅读
    半导体封装<b class='flag-5'>技术</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>挑战与解决方案

    硅通孔技术可靠性技术概述

    Via, TSV )成为了半导体封装核心技术之一,解决芯片垂直方向上的电气和物理互连,减小器件集成尺寸,实现封装小型化。本文介绍了硅通孔技术可靠性,包括热应力
    的头像 发表于 04-12 08:47 177次阅读

    浅谈PCB电路板的可靠性测试

    随着时代的发展,PCB电路板在各种终端产品中发挥着重要作用,产品竞争日益激烈,因此对PCB产品的可靠性提出了更高的要求。
    发表于 04-09 11:20 734次阅读
    <b class='flag-5'>浅谈</b>PCB电路板的<b class='flag-5'>可靠性</b>测试

    中芯国际获CNAS认可,车载芯片可靠性专项检测中心获认证

    中芯国际车载芯片可靠性专项检测中心涵盖了公司自身工艺和IP、第三方IP或客户产品的全面测试能力。根据AEC-Q100标准,配备了需满足产品可靠度的多项测试设施,能满足车载芯片的全方位
    的头像 发表于 03-20 14:32 769次阅读

    如何确保IGBT的产品可靠性

    在当今的半导体市场,公司成功的两个重要因素是产品质量和可靠性。而这两者是相互关联的,可靠性体现为在产品预期寿命内的长期质量表现。任何制造商要想维续经营,必须确保产品达到或超过基本的质量标准和可靠性
    的头像 发表于 01-25 10:21 1556次阅读
    如何确保IGBT的产品<b class='flag-5'>可靠性</b>

    IGBT的可靠性测试方案

    在当今的半导体市场,公司成功的两个重要因素是产品质量和可靠性。而这两者是相互关联的,可靠性体现为在产品预期寿命内的长期质量表现。任何制造商要想维续经营,必须确保产品达到或超过基本的质量标准和可靠性
    的头像 发表于 01-17 09:56 1331次阅读
    IGBT的<b class='flag-5'>可靠性</b>测试方案

    半导体可靠性测试项目有哪些

    半导体可靠性测试主要是为了评估半导体器件在实际使用过程中的可靠性和稳定性。这些测试项目包括多种测试方法和技术,以确保产品的性能、质量和可靠性满足设计规格和用户需求。下面是关于半导体
    的头像 发表于 12-20 17:09 2466次阅读

    SD NAND 可靠性验证测试

    产品质量和市场竞争力。MK-米客方德是一家做存储的公司,是SDNAND技术的引领者,工业应用的领导品牌。其公司SDNAND产品都有可靠性验证测试报告,SDNAND可靠性验证测试报
    的头像 发表于 12-14 14:29 650次阅读
    SD NAND <b class='flag-5'>可靠性</b>验证测试

    环境试验与可靠性试验的区别

    环境试验与可靠性试验的区别
    的头像 发表于 12-08 09:31 922次阅读
    环境试验与<b class='flag-5'>可靠性</b>试验的区别

    浅谈车规级芯片可靠性测试方法

    加速环境应力可靠性测试:需要对芯片进行加速环境应力测试,模拟高温、低温、湿热和温度循环等极端环境条件。这些测试旨在评估芯片在极端温度条件下的可靠性和稳定性。
    的头像 发表于 12-05 14:05 1937次阅读

    器件可靠性与温度的关系

    器件可靠性与温度的关系
    的头像 发表于 12-04 16:34 701次阅读
    器件<b class='flag-5'>可靠性</b>与温度的关系

    避免可靠性风险的技巧:电子设计中的关键考虑因素

    随着电子设备的复杂不断增加,设计人员面临着确保产品可靠性,平衡可制造、用户体验、不断增长的功率需求和环境耐用的挑战。为了在保护产品和品牌声誉的同时实现设计目标,可采用以下几种方法
    的头像 发表于 11-30 14:15 529次阅读
    避免<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>风险</b>的技巧:电子设计中的关键考虑因素