平面衍射光栅的PDL（偏振相关损耗）测量
偏振相关损耗(PDL)是电信网络中使用的光学元件的一个重要特性。本文提供了用于光栅PDL的精确定义，并解释了用于确定PDL值的测量程序。
偏振相关损耗(PDL)
光纤通信网络中的组件必须对信号偏振状态的变化不敏感，这一要求对表面浮雕衍射光栅来说尤其具有挑战性，因为具有金属涂层的光栅往往会使入射到其上的光偏振。用于评估网络组件对极化变化的敏感性的可测量量称为偏振相关损耗(PDL)。
然而，存在一类光栅，在给定的波长范围内，两种偏振模式下的衍射效率几乎相等;这些光栅被称为低PDL光栅。
PDL的定义
在衍射光栅表征中使用的PDL的定义是：
PDL = 10log10(Ep/Es)
其中Ep和Es分别是P平面和S平面偏振入射光的测量衍射效率。PDL以分贝表示。有时PDL被表示为等式(1)的绝对值。但允许PDL是带符号(正或负)量提供了关于效率如何相对于彼此变化(相对于波长)的更多信息。
PDL的测量
PDL是通过分别测量P平面和S平面衍射效率，然后将相关值代入上述方程来确定的。这些独立的测量，每个都是用线性偏振的入射光进行的，因此产生Ep和Es的值。这些测量可以是绝对或相对效率的(前提是一致地进行)。
审核编辑 黄宇
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