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有源探头的负载效应,怎么测量?大概是什么量级?

PRBTEK 来源:PRBTE 作者:PRBTEK 2023-12-20 14:14 次阅读

有源探头的负载效应是指由于测试设备(如万用表示波器等)对被测电路产生的影响,可能会改变被测电路的性能或测量结果。为了准确测量被测电路的特性,需要考虑和补偿这种负载效应。

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测量有源探头的负载效应可以采取以下步骤:

1. 将有源探头连接到被测电路上。

2. 连接测试设备(如万用表、示波器等)以测量被测电路的特性。

3. 测量被测电路在有源探头连接时的特性或信号响应。

4. 移除有源探头,重新测量被测电路的特性或信号响应。

5. 比较两次测量结果,分析有源探头对被测电路的影响。

有源探头的负载效应通常是通过插入损耗(Insertion Loss)或输入电阻(Input Impedance)来描述的。插入损耗是指有源探头与被测电路之间的信号功率损耗,输入电阻是指有源探头对信号源的电阻。

测量结果的量级取决于具体的有源探头和被测电路。不同型号和规格的有源探头在尺寸、频率响应、电阻等方面会有差异,因此负载效应的量级也会有所不同。一般来说,有源探头的负载效应可以通过厂家提供的技术指标获得,以确定最终的测量误差范围。

以上内容由普科科技/PRBTEK整理分享, 西安普科电子科技有限公司致力于示波器测试附件配件研发、生产、销售,涵盖产品包含电流探头、差分探头、高压探头、无源探头、电源纹波探头、柔性电流探头、近场探头、逻辑探头、功率探头和光探头等。旨在为用户提供高品质的探头附件,打造探头附件国产化知名品牌


审核编辑:汤梓红

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