最近,Imec 公布的超大规模自旋轨道转移 MRAM (SOT-MRAM) 器件已实现创纪录的性能,每比特开关能量低于 100 飞焦耳,耐用性超过 10 的 15 次方。
这些结果使得 SOT-MRAM 成为替代 SRAM 作为高性能计算 (HPC) 应用中最后一级缓存的有希望的候选者。就像 SRAM 一样,它提供高开关速度(在亚纳秒范围内)和无限的耐用性。
此外,由于是非易失性,SOT-MRAM 位单元在高单元密度下可实现比 SRAM 更低的待机功耗。此外,SOT-MRAM 位单元可以做得比 SRAM 单元小得多,从而转化为更高的位封装密度。
Imec 通过实验探索了在 300mm 晶圆上加工的单垂直 SOT-MRAM 器件的扩展潜力和局限性,这是有史以来第一个关于 SOT-MRAM 器件扩展性的研究报告。在 IEDM 2023 上,他们表明,缩小 SOT 轨道不仅减少了 SOT-MRAM 单元的占地面积,而且还大大提高了单元的性能和可靠性。
SOT 轨道是由钨 (W) 或铂 (Pt) 等金属制成的层,位于磁性隧道结 (MTJ)(SOT-MRAM 器件的实际开关元件)下方。SOT 轨道用作面内电流注入层,引入它是为了解耦读取和写入路径。
“在传统的 SOT-MRAM 设计中,SOT 轨道占用的面积大于实际 MTJ 柱的占地面积,为覆盖过程控制提供足够的余量,”imec 磁学项目总监 Sebastien Couet 解释道。“但这会导致能量浪费,因为部分电流会流到 MTJ 区域之外。我们将 SOT-MRAM 器件扩展至极限,SOT 轨道和 MTJ 柱具有相当的尺寸(临界尺寸约 50 纳米)。对于这些器件,我们观察到每比特的开关能量低于 100 飞焦耳 (fJ),即与传统设计相比减少了 63%。这有助于解决 SOT-MRAM 的剩余挑战,传统上 SOT-MRAM 需要高电流进行写入操作。”
缩放 SOT 轨道可以提高存储器的耐用性,因为它可以减少 SOT 层内的焦耳热。
“凭借超过 1015 个编程/擦除周期的耐用性,我们通过实验验证了我们的假设,即 SOT-MRAM 单元可以具有无限的耐用性——这是缓存存储器的重要要求,”Couet 说。
“我们的数据为电路设计人员提供了宝贵的输入,以便在先进节点上执行 SOT-MRAM 技术的设计技术协同优化 (DTCO)——性能改进和设计裕度之间的权衡。未来的工作重点是材料工程,以进一步降低每位的开关能量,并优化位单元配置,以进一步缩小与 SRAM 相比的单元面积。从长远来看,这些经验也将转移到电压门控 (VG) SOT-MRAM 多柱器件的开发中——imec 针对高密度嵌入式存储器应用的终极解决方案。”Sebastien Couet 补充道。
我们将见证SRAM的死亡?
今年,第 68 届年度 IEEE 国际电子器件会议 (IEDM) 全面恢复,来自世界各地的近 1,500 名工程师(亲临现场)每年都会返回旧金山市中心,讨论半导体行业的最新发展。虽然学术界和工业界都有大量有趣的论文,但台积电的那篇论文带来了可怕的坏消息——虽然逻辑仍在或多或少地沿着历史趋势线扩展,但 SRAM 扩展似乎已经完全崩溃。
在会议上,台积电谈到了原始基础 N3 (N3B) 节点以及增强型 (N3E),后者是N3B 稍微宽松一些的变体。台积电展示原型测试芯片配备了一个由超过 35 亿个晶体管和一个可完全运行的 256Mbit SRAM 宏组成的逻辑电路(图 1)。SRAM 存储单元面积为 0.0199μm 2,是有史以来最小的。我们确认 SRAM 宏即使在 0.5V 的电压下也能完美工作(图 2)。
有趣的是,对于新的 N3E 节点,高密度 SRAM 位单元尺寸达到 0.021 µm²,这与他们的 N5 节点的位单元大小完全相同,并没有缩小。N3B 变体预计不会进入太多产品,但确实具有缩放 SRAM 位单元;然而,在 0.0199µm² 时,它仅缩小了 5%(或缩小了 0.95 倍)。
就粗略的内存密度而言(假设 ISO 辅助电路开销),N3E 大致为 31.8 Mib/mm²,并将增加到 33.55 Mib/mm² 或 1.75 Mib/mm²(230 KB)的改进。
这是一些严重的坏消息!从这个角度来看,虽然据说 N3B 和 N3E 都提供了 1.6 倍和 1.7 倍的芯片级晶体管缩放,但 SRAM 的 1.0 倍和 1.05 倍缩放是灾难性的。现在,我们仍然希望台积电在某个时候为 N3 推出更密集的 SRAM 位单元变体,我们确实希望在未来看到 SRAM 的某种程度的微缩,但好的旧微缩 SRAM 微缩似乎已经死了。
考虑一个假设的 100 亿晶体管芯片,其中包含 40% 的 SRAM 和 60% 的逻辑,位于 TSMC N16 上。忽略实际限制和模拟/物理/等,这样一个假设的芯片将约为 255 平方毫米,其中 45 平方毫米或 17.6% 用于 SRAM。将完全相同的芯片缩小到 N5 将产生一个 56 平方毫米的芯片,其中 12.58 平方毫米或占芯片的 22.5% 用于 SRAM。将芯片进一步缩小到 N3(基于我们最初但未完全确认的值)将产生一个 44 平方毫米的芯片,其 SRAM 密度相同为 12.58 平方毫米,现在占面积的近 30%。
当然,这种影响不会在所有方面都感受到同样的影响。芯片上 SRAM 和缓存的百分比因目标市场和整体能力而异。然而,对于一些 AI 硬件初创公司来说,架构要求芯片的很大一部分被 SRAM 覆盖,这些工程师将比其他人更快地遇到更多挑战。
SRAM 微缩的崩溃并不仅限于台积电。我们已经指出 SRAM 缩放速度变慢的问题已经有一段时间了。例如,虽然英特尔仍在缩减其 SRAM 位单元,但该公司最近宣布的Intel 4 进程SRAM 缩放比例已从历史上的 0.5-0.6 倍放缓至 0.7-0.8 倍。对于 Intel 4,我们的估计密度(ISO 辅助电路开销与 TSMC 相比)为 27.8 Mib/mm² 或 4 Mib/mm² 或落后 13%。期望 Intel 的 Intel 3 工艺能够匹敌或击败它们并非不切实际。
那么,我们该何去何从?事实上,目前唯一可行的 SRAM 替代品就是更多的 SRAM,因此我们预计 SRAM 会直接占用更多的面积。这并不是说我们不期望更多的 SRAM 扩展。虽然我们确实希望台积电和其他代工厂生产更密集的 SRAM,但历史上的扩展似乎已经正式结束。Imec 等一些研究机构提出了更高密度的 SRAM 位单元。例如,在去年的 IEDM 2021 上,Imec 在一个假设的“超越 2 纳米节点”上展示了大约 60 Mib/mm² 的 SRAM 密度,大约是今天密度的两倍,该节点使用utilizing forksheet晶体管和先进的双面互连方案。
除了 SRAM,业界一直在研究许多其他替代内存架构。新兴的内存技术包括 MRAM、FeRAM、NRAM、RRAM、STT-RAM、PCM 等。与 SRAM 相比,这些新兴的内存位单元提供了独特的权衡,例如在较低的读/写规范下具有更高的密度、非易失性能力、较低的读写周期能力,或者在可能较低的密度或速度下具有较低的功耗。虽然它们不是 SRAM 的直接替代品,但向前发展它们可能会扮演 4 级或 5 级缓存的角色,其中较低的性能权衡可以通过更高的密度来抵消。
目前,该行业似乎已经到了一个有趣的拐点。
审核编辑:刘清
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原文标题:创纪录的SOT-MRAM,有望替代芯片中的SRAM
文章出处:【微信号:致真精密仪器,微信公众号:致真精密仪器】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
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