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逻辑测试仪电路图分享

CHANBAEK 来源:网络整理 作者:网络整理 2024-02-12 15:49 次阅读

什么是逻辑测试仪?

逻辑测试仪是一种用于电子通信技术领域的电子测量仪器,主要用于测试数字系统的逻辑关系。

逻辑测试仪的工作原理是利用时钟从测试设备上采集和显示数字信号。其主要作用在于时序判定,通过设定参考电压后,将被测信号通过比较器进行判定,高于参考电压者为High,低于参考电压者为Low,在High与Low之间形成数字波形。

逻辑测试仪由测试仪、探针台和相关的空气干燥及净化设备组成,能够同时监测多路输入信号,并具有完善的触发功能和强大的分析功能。触发功能使得逻辑分析仪可以针对总线范围、总线间关系、事件次数等进行触发,而分析功能则可以对多个测量通道组合成总线进行显示,并对总线数据使用二进制或模拟量的方式进行显示。

逻辑测试仪的应用非常广泛,在复杂的数字系统的测试和分析中十分有效。例如,在晶圆测试中,逻辑测试仪能够发挥重要作用。它可以提供晶圆规格、移动范围、精度等参数,并具有高精度和高速度的测试能力。同时,逻辑测试仪还具有强大的数据处理能力,可以高效地处理大量的测试数据,为生产过程中的质量控制和产品检验提供有力支持。

下面小编分享一些逻辑测试仪电路图,以及简单分析它们的工作原理。

逻辑测试仪电路图分享

1、简单的逻辑测试仪电路电路图

利用该电路图可以设计一个非常简单的逻辑测试仪,由两个比较器组成,该系统使用不同分压器提供的不同参考电压工作。R3-R4-R5 分压器提供的电压约为 IC1b 引脚 6 Ucc 电压的 40%,以及 IC1a 引脚 3 Ucc 电压的约 16%。当 Ucc = 5 V 时,电压恰好是比较器 TTL 的阈值(0.8 V 和 2.0 V)。

同样,R6-R7-R8 分压器电压分别供应 UCC 的 IC1a 引脚 3 的 23% 和 73% 和 IC1b 的引脚 6(标准阈值电平对应 CMOS 比较器)。

待测电压 U 施加到 IC1b 引脚 5 和 IC1a 引脚 2 上,并与该参考电压进行比较。当 U 低于引脚 3 的电压时,IC1b 比较器输出进入 H 状态。

2、带显示的信号逻辑测试仪电路

该信号逻辑测试仪在共阴极七段显示器上指示输入是否处于逻辑电平“1”(显示器上的一个 H)或逻辑电平“0”(显示器上的一个 L)。如果检测到未定义的级别,将显示“n”。当输入为“0”时,T1锁定,T2和T3驱动。IC 1a 的输出 X 为“0”电平,IC1b 的输出为“0”,因此段 d、e 和 f 将点亮。

当条目为逻辑“1”时,T1 饱和,T2 和T3 被阻塞。IC1a的输出变为“0”,IC1b的输出变为“1”。除了 e 和 f 段之外,已经点亮的段 b、c 和 g 也会亮起,从而显示“H”。

当条目处于未定义状态或未连接时,所有晶体管均导通(由于 R1、R2 和 R3),并且显示的图标为“n”(未定义)。

测试仪的开关)阈值是1V和3V(3V阈值可以通过增加电阻R4来稍微降低)。

测试仪的输入阻抗为5k,因此不会影响被测电路。

3、七段显示逻辑测试仪电路图

一个非常简单的逻辑测试仪,有一个七段显示器来指示高或低,以及一个可以正确发出声音方案的小扬声器,可以使用下面的电子设备来完成。

如果输入信号为“0”逻辑,则显示屏显示L并且扬声器发出低音。当输入信号为“1”逻辑时,显示屏上出现H,扬声器发出比低等级高一个八度的音调。

当输入信号为“1”时,驱动晶体管T1、N2的门通向翻转阈值,并且触发输出变为逻辑“0”。晶体管 T2 (pnp) 被锁定:入口门 N1 也高于尖峰,因此触发输出全为“0”逻辑。I-Belle commutatieT3 和 T4 晶体管被阻断,电流通过相应的段 (bc e, f. 当输入信号为“0”时,逻辑引线T1和T2被阻断。输入电压门N1和N2均低于尖峰,输出为“1”逻辑,解锁晶体管T3和T4,T4的发射极电压增长并阻断二极管D4和D5,导致电流通过段d、e和f,二极管D2和D3、电阻R6和晶体管T3。

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