探针测试台工作原理 探针测试台为嘛测试会偏大?

探针测试台是一种用于测试集成电路（IC）的设备，工作原理是将待测试的IC芯片安装在测试座上，然后通过探针接触到芯片的引脚，以测试芯片的功能和性能。在测试过程中，探针测试台会生成一系列的测试信号，通过探针接触到芯片的引脚，然后读取引脚上的响应信号，以判断芯片的工作状态和性能指标。

探针测试台在测试过程中会出现测试结果偏大的情况，主要有以下几个原因：

1. 探针接触不良：探针测试台的探针是通过机械方式与芯片引脚接触的，如果探针接触不良，会导致测试结果偏大。探针接触不良可能是由于探针表面污染、探针弹簧松弛或变形等原因引起的。为了解决这个问题，需要对探针进行定期清洁和维护，并在测试前进行探针的校准和调整。
2. 引脚电阻：芯片引脚在测试过程中会有一定的电阻，这个电阻会影响到测试结果。如果引脚电阻偏大，会导致测试结果偏大。为了解决这个问题，可以在测试过程中对引脚电阻进行校准和补偿。
3. 环境干扰：探针测试台在工作时会受到环境的干扰，例如电磁干扰、温度变化等。这些干扰可能会导致测试结果偏大。为了解决这个问题，可以通过屏蔽和隔离措施来减少环境的干扰。
4. 测试算法：探针测试台使用的测试算法可能存在误差，这个误差会导致测试结果偏大。为了解决这个问题，可以对测试算法进行优化和改进，提高测试结果的准确性。

综上所述，探针测试台测试结果偏大可能是由于探针接触不良、引脚电阻、环境干扰和测试算法等多个因素的综合影响。在实际应用中，我们需要对这些因素进行逐个排查和优化，以提高测试结果的准确性和可靠性。