如何通过GD32 MCU内部ADC参考电压通道提高采样精度？

ADC采样精度受很多因素影响，比如电源波动、参考电压波动、输入信号波动等，GD32 MCU内部提供了一个参考电压通道，理论上可以优化由于电源和参考电压较大波动引入的采样误差。

如下图所示，GD32F303 ADC内部17通道为VREFINT参考电压通道，内部参考电压的典型数值为1.2V。

当外部参考电压波动较大的情况下，如何通过内部参考电压通道提高ADC采样精度呢？

比如我们采样ADC_IN0通道的电压VIN0，那么采样的数值为:

$$Rin0=(VIN0/VREF)*4096.----公式1$$

其中，Rin0为通道0的采样数值，VIN0为通道0的输入电压，VREF为参考电压。

采样完通道0后，我们可以立即采样VREFINT内部参考电压，那么内部采样电压采样的数值为：

$$Rrefint=(VREFINT/VREF)*4096.----公式2$$

将公式1/公式2将得到：

$$Rin0/Rrefint=VIN0/VREFINT$$

进而得到以下公式：

$$VINT0= （Rin0 / Rrefint）*VREFINT.$$

由以上公式可得到通道0的电压值可通过内部参考电压以及内部参考电压的采样值来计算，可不受外部参考电压的变化而影响，进而提高了在外部参考电压波动较大的情况下采样误差的精度。

PS：建议可在外部参考电压较大的情况下使用该方法，如果外部参考电压比较准的话，还是可以直接采样的。

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