可靠性测试对高品质晶振至关重要,用于评估晶振在不同工作环境和极端条件下的性能,包括温度变化、湿度、振动等。确保晶振在实际使用中的长期稳定性和可靠性,以及在各种复杂环境下依然能够提供准确、稳定的时钟信号。
今天凯擎小妹给大家讲一下“可靠性”测试中的”冷热冲击”试验:
试验目的
评估晶振在极端温度变化环境下的稳定性和可靠性。模拟晶振在实际使用中可能会遇到的温度变化情况,确保它能够在不同的温度极端条件下保持其性能。可参考标准:MIL-STD- 883E- 1011.9B。
试验说明
低温:-55±5°C
高温:125±5°C
循环次数:100次
高低温度保持时间:5 min
高低温切换时间:5sec
实验结束后24土 2 Hrs进行电性能测试。
本试验对晶振的影响
晶体谐振器频率降低2.5ppm左右(5max),谐振阻抗增大3Ω左右(5max) or ±10%
晶体振荡器频率降低3ppm左右(5max)
KOAN 晶振
KOAN晶振无源和有源多种型号均可满足您的需求。我们的专业销售团队可以根据不同的应用领域,为您精准化匹配晶振参数。另外,KOAN晶振总部配备了E5052B信号分析仪器、S&A280B、S&A250B测试仪器,以及高低温箱,抗冲击试验设备等。
审核编辑:黄飞
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原文标题:晶振可靠性测试:冷热冲击试验
文章出处:【微信号:koan-xtal,微信公众号:KOAN晶振】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
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