0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

如何增强SiC功率器件的性能与可靠性?

安森美 来源:安森美 2024-04-07 10:31 次阅读

电动汽车 (EV) 市场的快速增长推动了对下一代功率半导体的需求,尤其是对碳化硅 (SiC) 半导体的需求尤为强劲。事实上,至少在本世纪下半叶之前,SiC功率器件可能会供不应求。而随着 SiC 衬底应用于 SiC 功率器件,衬底质量和制造技术方面取得了哪些进步,以提高器件性能、减少缺陷并增强可靠性?为了优化未来 SiC 功率器件的衬底特性,还需要哪些改进和发展?

SiC的可靠性挑战

SiC 是硅和碳的化合物,与硅相比有许多优点。SiC 芯片可以在更高温度下运行,并能有效处理更高电压,从而增强电动汽车的功率密度和热管理性能,因此可以加快充电速度、延长行驶里程,并改善整体性能。

在汽车这种高可靠性应用中,SiC的器件缺陷会造成极大的安全隐患,因此,对SiC器件的可靠性与缺陷的研究非常重要。通常来说,影响 SiC 可靠性和器件性能的缺陷通常可以按严重程度分为两种,分别是致命缺陷和非致命缺陷。考虑到应用背景和造成缺陷的原因,我们需要关注SiC 衬底SiC 研磨和抛光以及SiC 外延——这是可能导致缺陷的三个方面。

业界可能已经解决了一般出现在衬底中和外延之后的许多致命缺陷。非致命缺陷是指通常不会导致严重后果,但会增加潜在风险的缺陷。安森美 (onsemi)已开发多种基于算法的方法,以便晶圆厂在处理材料的过程中筛选出有缺陷的器件。此外,我们还进行了垂直整合,从衬底、外延和器件制造三个方面缩短反馈循环。

事实上,在业界当前主流的 6 英寸晶圆上,这些问题已经得到妥善解决。我们的挑战在于将这一解决方案拓展至 8 英寸晶圆。为此,不仅要考虑与原有尺寸晶圆相同的问题,还要考虑 8 英寸晶圆特有的翘曲和弯曲问题。

从这个角度来看,安森美致力于不断缩短反馈循环以提高器件的性能。此外,我们还重视针对特定应用开发经优化的碳化硅技术。这意味着我们要解决汽车、工业应用等不同领域的问题,而且需要有不同的技术。

垂直整合的优势是什么?

正如前文所说,垂直整合的运营模式是安森美提高产品可靠性的法宝。但是,很多供应商的制造链往往不是垂直整合的。有些供应商提供器件,但没有能力在内部制造 SiC 晶锭(而是从公开市场购买晶锭和衬底晶圆)。有些供应商内部提供 SiC 晶锭,但缺乏内部封装能力。这样一来,汽车公司最终只能得到未经优化的方案,遭遇芯片过热、电阻过高或导热性差等问题。而且前几代产品的成本也会较高,并且质量较低,通常含有寄生效应。

具有前瞻性思维的电动汽车 OEM 和一级供应商发现,优化性能、降低成本和减轻风险的更可靠方法是向垂直整合的供应商采购 SiC 功率器件。

4分钟速览垂直整合对于保证产品性能和供应的优势

垂直整合本质上是晶锭、芯片和封装三位一体的解决方案。真正垂直整合的供应商会围绕能力、产能和成本进行优化。所谓能力,主要体现在以下几个方面:

电动汽车市场的 SiC 功率器件供应商需要具备广泛的专业知识和经验,以满足这个快速发展的行业的苛刻要求。首先,他们必须对 SiC 特定的半导体材料和制造工艺有深入的了解。这包括晶体生长、外延和晶圆加工技术方面的专业知识,以确保实现高质量的芯片生产。

透彻理解电力电子电路设计也很重要。SiC 功率器件用于高电压和高功率应用,因此供应商必须精通电路设计和优化技巧,以高效实现电源转换和管理。

热管理方面的专业知识同样重要。鉴于 SiC 芯片的电流密度较高,供应商必须具备开发高效散热方案的专业知识,以使芯片保持理想的性能和可靠性。

深入了解电动汽车市场的独特要求和标准至关重要。供应商需要考虑汽车安全性、耐用性以及与其他电动汽车元器件的兼容性等因素,确保其 SiC 功率器件满足电动汽车制造商的严格要求。

SiC 制造是一个复杂的过程,会引入缺陷和寄生效应。垂直整合意味着供应商在生产线启动时,即在晶体生长阶段就能识别缺陷,发现有缺陷的芯片,避免其进入后续生产。垂直整合供应商拥有整个SiC 链,因此从一开始就会使用测试、可追溯性和质量保证来减少早期故障。



审核编辑:刘清

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电动汽车
    +关注

    关注

    155

    文章

    11929

    浏览量

    230304
  • 半导体
    +关注

    关注

    334

    文章

    26988

    浏览量

    215993
  • 功率器件
    +关注

    关注

    41

    文章

    1727

    浏览量

    90304
  • SiC
    SiC
    +关注

    关注

    29

    文章

    2757

    浏览量

    62430
  • 热管理
    +关注

    关注

    11

    文章

    432

    浏览量

    21735

原文标题:如何增强 SiC 功率器件的性能与可靠性?垂直整合是关键!

文章出处:【微信号:onsemi-china,微信公众号:安森美】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    SiC功率器件性能可靠性的提升

    在电力电子领域,碳化硅(SiC)技术对于推动向电动移动的转变和提高可再生能源系统的效率至关重要。随着市场需求的增加,功率半导体公司面临着迅速扩大生产能力的压力。尽管4H-SiC材料的
    的头像 发表于 07-04 11:11 1393次阅读
    <b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>性能</b>和<b class='flag-5'>可靠性</b>的提升

    SiC-SBD关于可靠性试验

    进行半导体元器件的评估时,电气/机械方面的规格和性能当然是首先要考虑的,而可靠性也是非常重要的因素。尤其是功率器件是以处理较大
    发表于 11-30 11:50

    SiC-MOSFET的可靠性

    本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外,包括MOSFET在内的SiC
    发表于 11-30 11:30

    SiC MOSFET:经济高效且可靠的高功率解决方案

    家公司已经建立了SiC技术作为其功率器件生产的基础。此外,几家领先的功率模块和功率逆变器制造商已为其未来基于
    发表于 07-30 15:15

    SiC MOSFET FIT率和栅极氧化物可靠性的关系

    SiC MOS器件的栅极氧化物可靠性的挑战是,在某些工业应用给定的工作条件下,保证最大故障率低于1 FIT,这与今天的IGBT故障率相当。除了性能之外,
    发表于 07-12 16:18

    可靠性SiC MOSFET芯片优化设计

    以特斯拉Model 3为代表的众多电动汽车量产车型成功应用SiC MOSFET芯片,表明SiC MOSFET在性能可靠性和综合成本层面已得到产业界的认可。基于大量的设计优化和
    的头像 发表于 02-18 16:44 4328次阅读
    高<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>SiC</b> MOSFET芯片优化设计

    SiC MOS器件栅极氧化物可靠性的挑战

    除了性能之外,可靠性和坚固SiC MOSFET讨论最多的话题。我们将坚固定义为器件承受特定
    的头像 发表于 06-30 10:53 3826次阅读
    <b class='flag-5'>SiC</b> MOS<b class='flag-5'>器件</b>栅极氧化物<b class='flag-5'>可靠性</b>的挑战

    SiC功率器件的现状与展望!

    碳化硅(SiC功率器件具有提高效率、动态性能可靠性的显著优势电子和电气系统。回顾了SiC
    发表于 11-11 11:06 1684次阅读

    SiC-SBD的可靠性试验

    SiC作为半导体材料的历史不长,与Si功率器件相比其实际使用业绩还远远无法超越,可能是其可靠性水平还未得到充分认识。这是ROHM的SiC-
    发表于 02-08 13:43 563次阅读
    <b class='flag-5'>SiC</b>-SBD的<b class='flag-5'>可靠性</b>试验

    SiC-SBD的可靠性试验

    进行半导体元器件的评估时,电气/机械方面的规格和性能当然是首先要考虑的,而可靠性也是非常重要的因素。尤其是功率器件是以处理较大
    发表于 02-23 11:24 759次阅读
    <b class='flag-5'>SiC</b>-SBD的<b class='flag-5'>可靠性</b>试验

    SiC-MOSFET的可靠性

    ROHM针对SiC上形成的栅极氧化膜,通过工艺开发和元器件结构优化,实现了与Si-MOSFET同等的可靠性
    发表于 02-24 11:50 1054次阅读
    <b class='flag-5'>SiC</b>-MOSFET的<b class='flag-5'>可靠性</b>

    SiC MOSFET的设计挑战——如何平衡性能与可靠性

    导通电阻,将其作为特定技术的主要基准参数。然而,工程师们必须在主要性能指标(如电阻和开关损耗),与实际应用需考虑的其他因素(如足够的可靠性)之间找到适当的平衡。优
    的头像 发表于 04-13 15:40 836次阅读
    <b class='flag-5'>SiC</b> MOSFET的设计挑战——如何平衡<b class='flag-5'>性能与</b><b class='flag-5'>可靠性</b>

    SiC功率器件可靠性

    功率器件可靠性
    发表于 08-07 14:51 3次下载

    英飞凌如何控制基于SiC功率半导体器件可靠性呢?

    英飞凌如何控制和保证基于 SiC功率半导体器件可靠性
    的头像 发表于 10-11 09:35 1279次阅读
    英飞凌如何控制基于<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>功率</b>半导体<b class='flag-5'>器件</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>呢?

    提升SiC MOS器件性能可靠性的表面优化途径

    SiC MOSFET器件存在可靠性问题,成为产业发展瓶颈。
    的头像 发表于 12-12 09:33 911次阅读
    提升<b class='flag-5'>SiC</b> MOS<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>性能</b><b class='flag-5'>可靠性</b>的表面优化途径