RX23E-A MCU是32位RX MCU,具有内置FPU和高达256KB闪存,配有模拟前端(AFE),有助于测量压力、流量、温度和重量,精度小于0.1%。该MCU还具有两个低噪声和低漂移24位Δ-Σ模数转换器、轨到轨可编程增益仪表放大器、低漂移电压基准和片上激励电流源。RX23E-A MCU能够使用低噪声和低漂移24位Δ-Σ模数转换器同时测量,具有极稳定的片上电压基准。
RX23E-A MCU非常适合用于楼宇自动化、基础广泛的物联网应用、IA传感应用(例如温度控制器、压力传感器、数据记录器、电子秤和力传感器)。
本系列文章首先介绍一些基本概念和原理,包括ΔΣADC、用于传感器测量Δ∑ADC的特性、应用实例及设计要点,这些内容适用于任何一个MCU的ΔΣADC。接下来主要介绍RX23E-A中的24位ΔΣADC转换器(DSAD0和DSAD1)和模拟前端(AFE)。
一
ΔΣADC介绍
A/D转换是将模拟信号转换为数字信号。进行A/D转换的组件是AD转换器,即所谓的ADC。将模拟信号转换为数字信号可以进行数字信号处理,例如数字滤波、FFT和各种校正。数字化的优点是,数字化可以更容易地处理用模拟信号无法处理或很难处理的信号。
AD转换方式可以大概分为以下几种:
本篇文章主要介绍ΔΣADC,擅长以高分辨率测量低频信号。首先介绍ΔΣADC的配置。ΔΣADC由ΔΣ调制器和数字滤波器组合而成,具有基于两个时钟频率工作的特点。
ΔΣ调制器由积分器和1bitADC、D-FF和1bitDAC组成。该ΔΣ调制器在调制时钟周期将模拟输入信号转换为1位脉冲密度。数字滤波器对采样时钟周期的脉冲密度进行平均,以提高分辨率。例如,将分辨率提高到24位。换句话说,ΔΣADC对大量1位数据进行平均以提高分辨率。
接下来,想解释一下ΔΣADC的特点。第一个特点是ΔΣADC采用了过采样技术。“过采样”是指以比正常采样频率fs [Hz]高得多的频率fos [Hz]进行采样。ΔΣADC在两个参考时钟上运行:调制时钟频率和采样时钟频率。因此,对于ΔΣADC,过采样频率fos确实等于调制时钟频率fmod。在阅读ΔΣADC数据表时,您会发现术语“过采样率OSR”。OSR是过采样频率除以采样频率。增加OSR相当于在很长一段时间内进行平均以降低噪声。因此,如果要准确测量幅度,请增大OSR。如果要测量高频信号,请降低OSR。这是如何使用它。
增加OSR等于长周期平均。当测量精度变得更好时,采样频率fs变得更低。
期望精确测量振幅→增加OSR
期望测量高频信号→降低OSR
ΔΣADC的第二个特性是噪声整形。噪声整形是指方便地对均匀分布的量化噪声进行整形。噪声整形将量化噪声转移到更高的频率并降低频带中的噪声。将量化噪声乘以噪声传递函数并限制频带,可以显着降低输出噪声。量化噪声是模拟值转换为数字值时四舍五入或截断的值。只要使用ADC,这种量化噪声就总会出现。
下方三张图比较了ADC的奈奎斯特操作、过采样方案和ΔΣ调制(也是过采样)方案。
第一张图显示了ADC以标准奈奎斯特方式运行时的量化噪声。这种情况下,量化噪声由ADC的LSB大小决定。FS为ADC的采样速率,FS/2为奈奎斯特频率。
奈奎斯特方案
采样速率为fs
奈奎斯特带宽为fs/2
第二张图显示的是同一转换器,不过现在它以过采样方式运行,采样速率更快。采样速率提高K倍,量化噪声扩展到K × Fs/2的带宽上。低通数字滤波器可消除蓝色区域之外的量化噪声。
过采样方案
采样速率为K×fs
ΔΣ调制器多了一个特性,那就是噪声整形,如第三张图所示。模数转换的量化噪声被调制整形,从低频移动到较高频率,低通数字滤波器可将其从转换结果中消除,从而提高带宽内的信噪比。
ΔΣ型ADC方案
过采样和噪声整形
采样速率为fMOD=K×fODR
审核编辑:刘清
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原文标题:RX23E-A 24bit ΔΣADC - 基础篇 (1) ΔΣADC介绍
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