PCT试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验,最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%R.H.)[饱和水蒸气]及压力环境下测试,测试代测品耐高湿能力,针对印刷线路板(PCB&FPC),用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验..等试验目的,如果待测品是半导体的话,则用来测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之介面渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路..等相关问题。
压力蒸煮锅试验(PCT)结构:
试验箱由一个压力容器组成,压力容器包括一个能産生100%(润湿)环境的水加热器,待测品经过PCT试验所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的。
澡盆曲线:
澡盆曲线(Bathtub curve、失效时期),又用称为浴缸曲线、微笑曲线,主要是显示产品的于不同时期的失效率,主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(随机失效期)、损耗期(退化失效期),以环境试验的可靠度试验箱来说得话,可以分爲筛选试验、加速寿命试验(耐久性试验)及失效率试验等。进行可靠性试验时"试验设计"、"试验执行"及"试验分析"应作爲一个整体来综合考虑。
常见失效时期:
早期失效期(早夭期,Infant Mortality Region):不够完善的生産、存在缺陷的材料、不合适的环境、不够完善的设计。 随机失效期(正常期,Useful Life Region):外部震荡、误用、环境条件的变化波动、不良抗压性能。 退化失效期(损耗期,Wearout Region):氧化、疲劳老化、性能退化、腐蚀。
环境应力与失效关係图说明:
依据美国Hughes航空公司的统计报告显示,环境应力造成电子产品故障的比例来说,高度佔2%、盐雾佔4%、沙尘佔6%、振动佔28%、而温湿度去佔了高达60%,所以电子产品对于温湿度的影响特别显着,但由于传统高温高湿试验(如:40℃/90%R.H.、85℃/85%R.H.、60℃/95%R.H.)所需的时间较长,为了加速材料的吸湿速率以及缩短试验时间,可使用加速试验设备(HAST[高度加速寿命试验机]、PCT[压力锅])来进行相关试验,也就所谓的(退化失效期、损耗期)试验。
审核编辑 黄宇
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
相关推荐
本文详细介绍了在集成电路的制造和测试过程中CP测试(Chip Probing)和WAT测试(Wafer Acceptance Test)的目的、测试
发表于 11-22 10:52
•263次阅读
10月22日,国家知识产权局发布消息称,2024年将是中国加入《专利合作条约》(PCT)30周年的重要里程碑。PCT作为知识产权领域的关键国际协议,自1970年成立以来,已吸引了158个成员国加入。
发表于 10-22 10:47
•326次阅读
PLC(可编程逻辑控制器)的测试项目主要包括以下几个方面。
发表于 09-20 15:00
•360次阅读
罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”)为全球认证论坛(GCF)成功验证了MCPTT(Misson-critical push-to-talk)协议一致性测试用例,其R&S TS PCT
发表于 07-15 14:12
•684次阅读
,SOLIDWORKS公司推出了认证考试项目。本文将深入探讨SOLIDWORKS认证考试的目的及其重要性。 一、测试与评估技能 SOLIDWORKS认证考试的首要目的是
发表于 06-07 16:00
•448次阅读
接口测试的主要目的是什么? 在软件开发过程中,接口测试是一种重要的测试方法,用于验证不同模块、系统或服务之间的交互是否符合预期。本文将详细探
发表于 05-30 15:02
•1075次阅读
功能测试是软件测试的一个重要组成部分,主要目的是验证软件的功能是否满足需求规格说明书(SRS)中定义的功能要求。功能测试的
发表于 05-29 16:05
•5410次阅读
性能测试是软件测试的一个重要环节,主要目的是评估软件在不同负载条件下的性能表现,以确保软件能够满足用户的需求。本文将详细介绍性能测试的流程和
发表于 05-29 16:00
•760次阅读
芯片测试的主要目的是确保芯片的质量和可靠性,以及验证芯片的设计是否符合规范和要求。具体来说,测试可以检测出芯片中的故障,并及时修复它们,以保证产品的一致性和可靠性,避免出现质量问题。同
发表于 05-08 16:54
•1515次阅读
晶圆测试的对象是晶圆,而晶圆由许多芯片组成,测试的目的便是检验这些芯片的特性和品质。为此,晶圆测试需要连接测试机和芯片,并向芯片施加电流和信
发表于 04-23 16:56
•1689次阅读
硬件测试服务项目是确保硬件设备性能稳定、质量可靠的关键环节。它涉及对硬件产品进行全面、细致的检查和验证,以确保其满足设计要求并具备优良的用户体验。以下是关于硬件测试服务项目的详细介绍。 一
发表于 03-28 09:54
•742次阅读
、高速度的光纤接口模块,广泛应用于数据中心、高速以太网和光纤通信等领域。本文将详细探讨QSFP一致性测试的目的、测试内容、测试方法以及
发表于 03-14 10:40
•587次阅读
近日,世界知识产权组织(WIPO)公布了2023年全球PCT国际专利申请排名,中国以显著优势继续领跑全球,其中,半导体显示领域的领军企业京东方以1988件PCT专利申请量位列全球第五,成为该榜单前五
发表于 03-11 09:46
•564次阅读
3月8日,世界知识产权组织(WIPO)公布了2023年全球PCT国际专利申请排名,中国PCT国际专利申请量持续位居第一,彰显着中国企业正在迸发源源不断的创新活力,尽显创新科技力量。其中,BOE
发表于 03-09 15:58
•2103次阅读
。高压加速老化试验箱分为饱和型(PCT)和非饱和型(HAST)。PCT属于饱和型,湿度默认100%,且温度,湿度,压力同时上升或下降,用于测试IC封装,半导体,微电子
发表于 01-22 11:01
•2978次阅读
评论