上海华虹宏力半导体制造有限公司取得专利

据悉，上海华虹宏力半导体制造有限公司近期成功获得了“一种嵌入式存储器参数测试分类筛选方法”的专利权，该专利公开号为CN112820340B，生效日期为2024年4月16日，申请时间为2021年2月5日。

这项专利技术主要包括四个步骤：首先，确定存储器电参数的调整范围；其次，进行晶圆测试获取实际测量的电参数；接着，将这些数据记录在日志文件中；最后，对日志文件中的数据进行分析，生成测试晶圆图谱。此方法通过记录每颗晶圆的电参数调整值，能够有效地排除异常芯片，提供可靠的风险预警机制，从而提升芯片的可靠性水平。