频谱分析仪是电子测量领域中最常用的仪器之一,它可以实现对信号频谱特性的测量和分析。在进行各种信号测试时,频谱分析仪的性能指标都会对测量结果产生一定的影响。其中,频谱分析仪的底噪水平是一个非常关键的性能指标,它直接决定了分析仪能够检测到的最小信号幅度。因此,对频谱分析仪的底噪特性进行仔细的测试和分析就显得尤为重要。
本文以普源公司生产的RSA5065频谱分析仪为例,详细介绍了如何对该仪器的底噪特性进行扫描测试,并对测试结果进行了深入分析。希望对需要使用频谱分析仪进行测试的工程师朋友们有所帮助。
一、测试环境搭建
在对频谱分析仪进行底噪扫描测试时,首先需要搭建合适的测试环境。对于RSA5065这款频谱分析仪来说,我们需要准备以下设备:
1. RSA5065频谱分析仪
2. 50Ω终端电阻
3. 高性能同轴电缆
4. 电源
将50Ω终端电阻通过同轴电缆连接至RSA5065的RF输入端,并确保所有连接均牢固可靠。接着,将RSA5065通过电源线连接至电源,确保仪器处于正常工作状态。这样,我们就完成了测试环境的搭建。
二、底噪扫描测试
在完成测试环境的搭建后,就可以开始进行RSA5065的底噪扫描测试了。具体步骤如下:
1. 将RSA5065的分析模式切换至频谱分析(Spectrum)模式,并将分辨率带宽(RBW)设置为最小值,即3 kHz。
2. 将掠过时间(Sweep Time)设置为最大值,即4 s。这样可以保证在扫描过程中,每个频点都能获得足够长的采样时间,从而提高测量的精度。
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3. 将频率范围设置为RSA5065的全频段,即9 kHz到6.2 GHz。
4. 将检波模式设置为sample,并将平均次数设置为较大的值,如100次。这样可以有效抑制随机噪声,提高测量精度。
5. 点击开始扫描(Start Sweep),RSA5065就会对全频段进行底噪扫描,并将扫描结果实时显示在屏幕上。整个扫描过程大约需要400s才能完成。
三、结果分析
经过约400s的扫描测试,我们获得了RSA5065在9 kHz到6.2 GHz频段内的底噪特性曲线。从曲线可以看出,RSA5065的底噪水平在大部分频段都控制在-140 dBm/Hz左右,这个指标已经接近了该型号频谱分析仪的技术指标。不过,在个别频段,如50 MHz到200 MHz之间,底噪水平会略有升高,达到-135 dBm/Hz左右。造成这种现象的主要原因有两点:
1. 内部混频模块的自身噪声。在这些频段,RSA5065使用的内部混频模块产生的噪声相对较高,从而使得整机的底噪水平有所升高。
2. 外部干扰信号的影响。50 MHz到200 MHz这个频段恰好与常见的一些无线电通信信号频段重叠,难免会受到一些外部干扰信号的影响,使得底噪水平有所上升。
为了进一步改善RSA5065在这些问题频段的底噪特性,我们可以考虑采取以下措施:
1. 优化内部混频模块的设计,降低其自身噪声水平。
2. 增加外壳屏蔽,提高仪器抗干扰能力。
3. 在使用时采取合适的测试环境隔离措施,尽量避免外部干扰信号的进入。
通过上述改进措施,相信我们一定能够进一步提升RSA5065频谱分析仪在全频段的底噪性能,为用户提供更加出色的测试体验。
审核编辑 黄宇
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