OLED电学参数测试详解

引言

有机发光二极管（Organic Light Emitting Diode，OLED），属于一种电流型的有机发光器件，是通过载流子的注入和复合而致发光的现象。OLED以其自发光特性，提供了更高的对比度、更广的视角以及更快的响应时间，相较于传统的液晶显示技术（LCD），OLED展现出更加生动鲜明的色彩和更深的黑色。此外，OLED的柔性特性为可穿戴设备、折叠屏幕等创新应用提供了可能，极大地推动了显示技术的革新与发展。

随着OLED技术的不断进步，对其电学性能的测试与优化变得尤为关键。高效准确的电学性能测试不仅可以评估OLED器件的性能，还能为改进设计、提高产品质量提供重要依据。

在之前云上大讲堂直播课程中，泰克高级应用工程师赵克润带大家全面了解了OLED技术及其测试方法，包含OLED显示原理介绍、OLED TEG器件电学性能测试以及OLED电路中MOSFET、电阻和电容测试优化方法。

本期内容中，我们邀请赵工详细解答本次直播中各位同学的提问，并附上本期云上大讲堂直播回放。

问答精选

Q1

电容值可以使用LCR测试仪测试吗？

答

可以直接用4200A CVU模块进行测试。

Q2

4200支持四线法么？

答

支持。

Q3

脉冲源如何设置测试？

答

可以用4200A自带的KPulse进行设置。

Q4

小电容测试原理及基本框架

答

典型的半导体电容在pF或nF范围内。许多商业上可用的LCR表或电容计补偿后可以使用适当的测量技术 来测量这些值，然而，一些应用需要在飞秒法（fF）或1e-15范围内进行非常灵敏的电容测量。这些应 用包括测量金属到金属的电容，晶片上的互连电容，MEMS器件，如：开关，纳米器件端子之间的电容。如果没有使用适当的仪器和测量技术，这些非常小的 电容很难进行测量。

使用4200A-SCS参数分析仪配备的4215-CVU（CVU），用户能够测量大范围的电容，<1pF非常低的电容值 也能测到。CVU采用独特的电路设计，并由Clarius+软件控制，支持校准和诊断工具，以确保最准确的结 果。使用这种CVU和适当的测量技术可以使用户实现多个噪声水平的非常低的电容（1e-18f）测量。

Q5

为了减少Cable&接触电阻误差，小电阻测试应该采用哪种方式？

答

四线法，四线法测试可以有效消除导线电阻和接触电阻的影响，从而减少误差。

Q6

电容补偿方式有几种？

答

电容补偿有三种方式，open补偿，short补偿，load补偿。

Q7

4201 SMU能否有效处理因为负载电容太大而导致的电压源的振荡

答

可以，4201 SMU可以把4200 SMU 的最大负载电容从10nF 增大到10uF, 从而可以有效处理因为负载电容太大而导致的电压源振荡。