金属化薄膜电容器的氧化会导致其表面形成一层氧化物膜。这层氧化物膜通常是绝缘性质的,且比金属本身的电导率低。因此,当金属化薄膜电容器表面发生氧化时,这层氧化物膜会增加电容器的表面电阻(表面方阻),从而导致电容器的方阻增大。
具体来说,氧化物膜的电阻通常比金属本身的电阻大几个数量级,这意味着当氧化物膜形成或增厚时,电容器的表面电阻会显著增加。这可能会影响电容器在电路中的性能,特别是在需要通过电容器表面进行电流传输或接地的情况下,可能会引起信号衰减或失真。
因此,金属化薄膜电容器氧化时,其表面方阻会显著变大,这是需要在设计电路或者选择电容器时考虑到的因素之一。
审核编辑 黄宇
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