光学测量是利用光的性质如光的传播、反射、折射、干涉、衍射等,进行长度、形状、角度、颜色等精确测量的非接触式测量技术,在工业、医疗、航空航天等领域获得广泛的应用。随着技术的不断进步与革新,光学测量技术在向更高精度、更高效的方向发展,芯明天纳米定位台以其高精度和快速的响应速度特点,在光学测量技术中提供纳米级精密定位,可使测量结果更精确。
注:图片来源于网络
P60.X200系列高精度一维压电纳米定位台
P60.X200系列压电纳米定位台采用机构放大设计原理,柔性铰链连接支撑传动,内部采用高可靠性压电陶瓷驱动,可产生一维X轴直线运动,位移可达200μm,分辨率可达2nm,承载可达1.3kg,开环状态下,空载阶跃时间可达30ms,可配置闭环传感实现高精度扫描与定位。P60.X200系列压电纳米定位台为一维X向运动平台,可以通过叠加转接的方式实现二维、三维运动。产品外观如下所示。
产品特点
一维X向运动,行程可达200μm
承载可达1.3kg
分辨率可达2nm
开/闭环可选,真空版本可选
可组多维使用
产品应用
光学测量
光学检测
显微扫描
激光干涉
生物科技
技术参数
型号 | P60.X200S/K |
运动自由度 | X |
驱动控制 | 1路驱动,1路传感/1路驱动 |
标称行程范围(0~120V) | 160μm |
行程范围(0~150V) | 200μm |
传感器类型 | SGS/- |
闭/开环分辨率 | 7nm/2nm |
闭环线性度 | 0.02%F.S./- |
闭环重复定位精度 | 0.01%F.S./- |
俯仰/偏航/滚动 | <15μrad |
闭/开环空载阶跃时间 | 50ms@20μm、1300g/30ms |
空载谐振频率 | 370Hz |
带载谐振频率@1300g | 120Hz |
静电容量 | 10.8μF |
工作温度范围 | -20~80℃ |
承载能力 | 1300g |
材料 | 不锈钢、铝合金 |
重量 | 630g |
配套控制器
E53.D系列压电控制器非常适用于驱动P60.X200系列压电纳米定位台。E53.D系列是针对小体积应用要求而设计的单通道控制器,体积小巧,外形尺寸仅为148×27.5×80mm^3,重量为350g,供电电压24VDC/1A。机身带有散热区域,可迅速导出产生的热量,上位机软件支持二次开发,体积小巧,易于集成。
审核编辑 黄宇
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