0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

无铅共晶焊料在厚Cu凸点下金属化层上的润湿反应

jf_17722107 来源:jf_17722107 作者:jf_17722107 2024-08-12 13:08 次阅读

无铅共晶焊料在厚Cu凸点下金属化层上的润湿反应涉及多个方面,以下是对这一过程的详细分析:

我们对4种不同的共晶焊料(SnPb、SnAg、SnAgCu 和 SnCu)在电镀制备的厚Cu(15 μm)UBM层上的反应进行比较分析。

wKgaoma5mNaAOOa5AAKqqHgEUs0043.jpg

wKgZoma5mNiAGxkVAAKFl7ZuA98108.jpg

4种共晶焊料在Cu UBM 层上经过2次回流后的互连界面的 SEM 照片(c)

(a)SnPb;(b)SnAg;(e)SnAgCu;(d)SnCu

170℃下固态老化1500h后4种焊料与Cu互连界面处的光学显微镜照片(a)SnPb;(b)SnAg;(c)SnAgCu;(d)SnCu

扇贝状Cu6Sn5的形成

所有试样中均观察到扇贝状Cu6Sn5,这是Cu与Sn基焊料反应形成的典型金属间化合物(IMC)。

无铅焊料与Cu界面处的笋钉状Cu6Sn5比SnPb焊料界面处的更大,这可能与无铅焊料的成分和回流条件有关。

Ag3Sn金属间化合物的形成

在SnAg和SnAgCu焊料中,观察到非常大的片状或笋钉状Ag3Sn金属间化合物。这些IMC的形成与焊料中的Ag含量有关,Ag与Sn反应形成Ag3Sn。

固态老化对IMC形貌的影响:

固态老化过程使扇贝状Cu6Sn5形貌变为层状形貌,随着Cu原子的不断扩散,并明显形成了一层Cu3Sn。这表明IMC在老化过程中会经历形态和组成的变化。

SnPb焊料在老化过程中焊料基体晶粒普遍长大,且紧邻CuSn层处形成了富Pb层。这可能与SnPb焊料的相变和元素扩散有关,Pb不与Cu发生IMC反应。

无铅焊料在老化过程中晶粒生长不明显,这可能与无铅焊料的成分和稳定性有关。

Cu的消耗量

固态老化过程中Cu的消耗量与润湿反应中消耗的Cu量具有相同的数量级,尽管时间差异达到4个数量级。这表明IMC的形成速率在润湿反应中远高于固态老化过程,与金属原子的浓度有关。

这可能是因为润湿反应是在高温下进行的,且焊料与Cu基体直接接触,有利于快速形成IMC。而固态老化过程是在较低的温度下进行的,元素扩散和反应速率较慢。

结论:

SnPb焊料和无铅焊料在Cu UBM层上的反应存在显著差异,特别是在IMC的形成和形貌变化方面。

无铅焊料在固态老化过程中表现出较好的稳定性,晶粒生长不明显。

润湿反应中IMC的形成速率远高于固态老化过程,这可能与温度、元素扩散速率和焊料成分有关。

这些信息对于选择合适的焊料和优化焊接工艺参数具有重要意义,以确保电子产品的可靠性和长期稳定性。

参考文献

[1]K,N.Tu and K.Zeng,“Tin-lead ( $nPb) solder reaetion in flip chip tech-nology," MaterialsScienee and Engineering Reports,R34,1-58 ( 2001).( Review paper)

[2]K.Zeng and K.N.Tu , "Six cases of reliability study of Pb-free solder joints in electron packagingtechnology," Materials Seience and Engineer -ing Reports, R38, 55 - 105 ( 2002 ).( Review

paper )

审核编辑 黄宇

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 焊料
    +关注

    关注

    0

    文章

    26

    浏览量

    8176
  • 焊锡膏
    +关注

    关注

    1

    文章

    79

    浏览量

    10964
收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    真空焊接炉的焊料选择之铟银焊料

    真空回流焊/真空炉的焊接过程中,除了对于工艺的把握外,对焊料的选择以及性质的了解程度也同样重要。今天介绍一种常用于低温低强度封装的焊料——铟银
    的头像 发表于 08-30 09:00 295次阅读
    真空焊接炉的<b class='flag-5'>焊料</b>选择之铟银<b class='flag-5'>共</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>焊料</b>

    金属化薄膜电容氧化时方阻会变大吗

    金属化薄膜电容器的氧化会导致其表面形成一氧化物膜。这氧化物膜通常是绝缘性质的,且比金属本身的电导率低。因此,当金属化薄膜电容器表面发生氧
    的头像 发表于 08-05 14:13 334次阅读

    真空焊接炉的焊料选择之焊料

    真空回流焊炉/真空焊接炉的焊接过程中,除了对于工艺的把握外,对焊料的选择以及性质的了解程度也同样重要。今天介绍一种焊接方面最常见的焊料——
    的头像 发表于 07-31 16:24 279次阅读
    真空焊接炉的<b class='flag-5'>焊料</b>选择之<b class='flag-5'>铅</b>锡<b class='flag-5'>共</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>焊料</b>

    PCBA加工中有锡膏与锡膏有什么区别

    膏厂家来讲解一下在PCBA加工中有的区别:有锡膏以含锡
    的头像 发表于 05-21 13:54 549次阅读
    <b class='flag-5'>在</b>PCBA加工中有<b class='flag-5'>铅</b>锡膏与<b class='flag-5'>无</b><b class='flag-5'>铅</b>锡膏有什么区别

    浅谈焊接过程中的不润湿与反润湿现象

    润湿和反润湿现象是焊接过程中常见的缺陷,它们分别表现为焊料与基体金属之间的不完全接触和部分润湿后的退缩。
    的头像 发表于 05-20 09:41 364次阅读
    浅谈焊接过程中的不<b class='flag-5'>润湿</b>与反<b class='flag-5'>润湿</b>现象

    17芯航空插头为什么要金属化

    德索工程师说道金属化是17芯航空插头的一个重要特征。金属化意味着插头的某些部分或整个外壳由金属制成,这提供了出色的电气性能和机械强度。金属外壳可以有效地屏蔽电磁干扰和射频干扰,确保数据
    的头像 发表于 04-12 14:35 213次阅读
    17芯航空插头为什么要<b class='flag-5'>金属化</b>

    用于不同体态芯片互连的制备及性能表征

    上的先进封装技术应运而生。微作为实现芯片到圆片异构集成的关键结构,可有效缩短信号传输距离,提升芯片性能。利用电沉积法 Si基板Cu
    的头像 发表于 03-23 08:42 225次阅读
    用于不同体态芯片互连的<b class='flag-5'>凸</b><b class='flag-5'>点</b>制备及性能表征

    锡膏合金比例对焊接的影响

    减小间距和尺寸。锡膏封装中大量使用,目前焊接
    的头像 发表于 01-22 10:04 299次阅读
    锡膏合金比例对焊接<b class='flag-5'>凸</b><b class='flag-5'>点</b>的影响

    焊接过程中的不润湿与反润湿现象

    润湿和反润湿现象是焊接过程中常见的缺陷,它们分别表现为焊料与基体金属之间的不完全接触和部分润湿后的退缩。
    的头像 发表于 12-15 09:06 1232次阅读
    焊接过程中的不<b class='flag-5'>润湿</b>与反<b class='flag-5'>润湿</b>现象

    SAC305锡膏不同铜基板的焊接表现

    SAC305作为一种应用广泛的焊料,有着优秀的机械强度,导电性和导热性。铜基板是最常见的基板材料之一,因此SAC305类型的焊料铜基板
    的头像 发表于 12-01 13:06 1220次阅读
    SAC305锡膏<b class='flag-5'>在</b>不同铜基板的焊接表现

    芯片制程之常见的金属化制程

    气态前驱体反应,形成所需的薄膜沉积在圆表面。CVD可用于沉积多种金属,如钨、铜、钛等。
    发表于 11-16 12:24 1485次阅读
    芯片制程之常见的<b class='flag-5'>金属化</b>制程

    焊接和焊点的主要特点

    焊点中气孔较多,尤其有焊端与焊料混用时,焊端(球)
    发表于 11-03 15:22 331次阅读

    深入了解陶瓷基板金属化,陶瓷与金属的完美结合

    大功率电子器件使用中为实现芯片与电子元件之间的互联,陶瓷作为封装基板材料,需对其表面进行金属化处理。陶瓷金属化有如下要求:优良的密封性,金属导电
    的头像 发表于 11-01 08:44 653次阅读
    深入了解陶瓷基板<b class='flag-5'>金属化</b>,陶瓷与<b class='flag-5'>金属</b>的完美结合

    深入了解陶瓷基板金属化,陶瓷与金属的完美结合

    大功率电子器件使用中为实现芯片与电子元件之间的互联,陶瓷作为封装基板材料,需对其表面进行金属化处理。陶瓷金属化有如下要求:优良的密封性,金属导电
    的头像 发表于 10-28 14:27 824次阅读
    深入了解陶瓷基板<b class='flag-5'>金属化</b>,陶瓷与<b class='flag-5'>金属</b>的完美结合

    圆级封装工艺:溅射工艺和电镀工艺

    溅射是一种圆表面形成金属薄膜的物理气相沉积(PVD)6工艺。如果形成的金属薄膜低于倒片
    的头像 发表于 10-20 09:42 7715次阅读
    <b class='flag-5'>晶</b>圆级封装工艺:溅射工艺和电镀工艺