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      立仪光谱共焦传感器行业应用 薄膜高度差扫描

      h1654156072.2321 • 来源：h1654156072.2321 • 作者：h1654156072.2321 • 2024-08-19 15:08 • 次阅读

      01｜检测需求：扫描薄膜圆圈的高度差

      wKgZombC73SAS_1zABNMIOzxTwM521.jpg立仪光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描


      02｜检测方式

      客户要求扫描薄膜圆圈的高度差，根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量


      03｜光谱共焦测量结果

      薄膜圆圈的高度差轮廓

      wKgaombC73WAbEJ9AABlMA88_G4855.png立仪光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描


      04｜光谱共焦侧头

      D40A30侧头相关参数

      wKgaombC73WABGoHAAYiZgPmAB0215.png立仪光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描


      05｜H系列控制器

      H系列控制器相关参数


      wKgaombC73aARx2yAAk7HbJ8o-g602.png立仪光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描 wKgZombC73eAOZXtAAeLnJTj-2c382.png立仪光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描

      审核编辑 黄宇

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