晶圆微凸点技术在先进封装中的应用

摘要

先进封装技术持续朝着连接密集化、堆叠多样化和功能系统化的方向发展，探索了扇出型封装、2.5D/3D、系统级封 装等多种封装工艺。晶圆微凸点技术已被广泛应用于各种先进封装工艺技术中，是最重要的基础技术之一。本文介绍了微凸点 制备的主要技术并进行优劣势比较，同时详述了锡球凸点和铜柱凸点两种不同的微凸点结构，为微凸点技术的更深入研究提供 参考。最后，本文整理了微凸点技术在先进封装中的应用，并展望了未来的发展趋势。

0 引 言

自 1965 年摩尔定律提出后的半个多世纪以来，半 导体集成电路一直遵循着摩尔定律发展。2022 年， 三星和台积电先后宣布 3 nm 制程工艺实现量产，工艺 制程的节点逐步接近原子尺寸级别。通过缩小晶体管 尺寸来提高芯片集成度和性能的方式，成本和技术难 度会大幅增加，先进封装逐步成为延续摩尔定律的主 要方式。先进封装的目的是提升功能密度，缩短互联 长度，提升系统性能，降低整体功耗。先进封装主要 有扇出型封装（fan-out，FO）、2.5D/3D、系统级封装 （system-in-package，SIP）等封装形式。晶圆微凸点作 为先进封装中的关键基础技术之一，其主要作用是电 信号互连及机械支撑。目前绝大部分的先进封装均需 要用到晶圆微凸点技术，而凸点的制备则是微凸点技 术最为关键的环节。本文将综述晶圆微凸点的主要制 备技术、结构及其在先进封装中的应用研究进展，并 结合未来市场发展趋势，展望微凸点技术的发展方向。

1 晶圆微凸点制备方法及应用

晶圆微凸点最早由 IBM 公司于 1970 年发明，随 着工业技术的发展，为了满足特定的市场需求，凸点 的种类也越来越多。按凸点材料种类可分为金（Au） 凸点、铜/镍/金（Cu/Ni/Au）凸点、铜柱（copper pillar） 凸点、锡/铅（Sn/Pb）凸点和锡/银/铜（Sn/Ag/Cu）凸 点等。按凸点结构和形状可分为蘑菇形、直状、圆柱 形、球形、迭层、周边形、微型和面阵凸点等。根据 应用的领域和场景的差异，凸点形状不一样，其中应 用最广的是圆柱形、球形和面阵凸点。凸点制备方法 有蒸发溅射法、电镀法、化学镀法、机械打球法、焊 膏印刷法和植球法等。本文将重点介绍应用比较广泛 的机械打球法、焊膏印刷法、植球法和电镀法。不同 制备方法有着不同的应用领域，也表现出不同的优劣 势。表 1 为晶圆微凸点不同制备方法的优劣势对比。

1.1 机械打球法

机械打球法制作的凸点叫钉头凸点（stud bump bond，SBB），是使用金丝球焊机利用热压超声键合工艺 制作凸点的一种技术，常用来制备金钉头凸点。SBB 工艺的基本原理如图 1 所示。

首先通过电火花放电的方法在金丝尾端成球，然后在加热、加压和超声的共同作用下，将 Au 球焊接到芯片的电极上，接着劈刀提起，线夹保持打开，送出一段尾丝，最后线夹关闭，劈刀向上运动，通过拉伸颈缩作用切断金丝，完成整个凸点的制作过程。制备 的钉头凸点如图 2 所示。机械打球法可以直接在离散芯片的金属铝电极上制作钉头凸点，不需要在电极区 制作出凸点下金属层（under bump metal，UBM），工艺简单，成本低。

头凸点一般为金凸点。金凸点因其电导率较高，且抗 电迁移能力强，被应用于显示驱动芯片、CMOS （complementary metal oxide semiconductor）图像传感 器、指纹传感器、射频识别芯片领域。崔洪波等采用AuPd 1%丝在微波 GaAs 芯片上使用美国 Westbond 公司的 7700E-79 型半自动金丝球焊机制作出直径 80 μm 的钉头金凸点，完成了超声焊接，为凸点芯片倒 装焊接以及电性能研究打下了良好基础。何中伟采 用直径 31.8 μm 的金丝，通过自动球焊机制作出直径为 （115±4）μm 的钉头金凸点，经 F&K5600 型键合拉 力/剪切力测试仪测量，最小抗剪切力为 0.658 1 N，能 够达到 GJB548A、华东光电集成器件所规范、美国 Palomar 公司规范、中国台湾 Chipbond 公司标准剪切 力要求。

近年来，关于钉头金凸点的研究也在持续进 行，从 1 层钉头金凸点到 2 层金凸点，从金球位置测试，到金球推力、直径、厚度、高度、合金率测 试等方面展开深入研究，推进钉头金凸点更好地应 用于电子封装领域。但当器件的电极（I/O）数较多 时，成本将会大幅上升。Zama等尝试使用 Cu 代替 Au 制作钉头凸点，抗剪切力等性能没有明显 下降，但由于 Cu 容易氧化和腐蚀，未能大规模使 用。因此，当器件引脚数较多时，通常采用其他方 式制作凸点。

1.2 焊膏印刷法

焊膏印刷法是一种引自于印制电路板（printed circuit board，PCB）行业的在晶圆上漏印制作凸点的工 艺，主要步骤包括：画图制版、制作焊膏漏印版、对 中焊膏漏印版、印刷焊膏、焊接、清洗和检测。此 方法是在凸点下金属层表面特定区域印刷焊料，最后 通过热回流形成所需凸点。焊膏印刷法的工艺流程 如图 3 所示。

焊膏印刷法因其可以直接采用表面贴装技术 （surface sounted technology，SMT）生产工艺中的焊膏 印刷设备，设备资金投入较小，成本较低，被广 泛应用于 200～400 m 的焊盘间距的凸点制备。但 对于小间距焊盘，由于模板印刷不能均匀分配焊料 体积，为保证凸点高度和球径，印刷的焊膏较多， 通过常规的焊膏印刷、回流焊接后，焊料球之间容易 互联，且无法修复，其应用受到限制。另外，由于焊 膏中存在有机添加剂，在后续高温回流过程中有机添 加剂会挥发，从而产生空洞。随着电子技术的不断 发展，晶圆凸点节距和直径也变得越来越小，因模板 网板孔太小、容易发生堵塞而导致焊料凸点均匀性较 差，致使产生产品可靠性风险。对于消费电子而言， 凸点直径集中在 150 μm 以下，节距集中在 200 μm 以 下，焊膏印刷技术已经不再适用，需要开发其他更精 密的凸点制作技术。

1.3 植球法

植球法是专门针对焊料凸点制造开发的，与 SMT 技术的兼容性较好。植球法采用晶圆级植球机， 通过定位相机对已经做好电路再分布的晶圆进行精 准定位，使用钢网印刷的方式将助焊剂和锡球转印 至对应的焊盘位置，再通过氮气氛围高温回流完 成锡球与焊盘的焊接，从而完成整个工艺过程。植 球机由上料系统、下料系统、印刷系统和植球检查系统组成，其中最主要的是印刷系统。印刷系统 分为助焊剂印刷和印刷植球两部分，均采用刮刀在 与晶圆图案花形一致的网板上反复运动，将助焊剂均 匀涂覆到UBM表面，再将锡球扫入网板筛孔中，利 用助焊剂的粘附性将锡球植入晶圆上。刘劲松等采用国内自主研制的晶圆级微球植球机 WMB-1100 完 成在12英寸晶圆上植入250 μm 的锡球，植球精度 小于 1/2 球径。植球原理及植球机工作流程如图 4 所示，Lin 等在 300 mm 晶圆上采用植球法完成了 直径为 70 m、间距为 130 m 的 SnCu0.7 微型球（单 颗芯粒 2 000 个 I/O）植入，良品率超过 99.99%， 无锡球遗漏和桥接。

植球法一般采用 Sn/Pb 球和 Sn/Ag/Cu 球。随着植球 技术的发展，国外有日本爱立发（ Athlete ）、 AIMECHATEC、德国 Pac Tech，国内有上海微松工业自 动化有限公司、上海世禹精密机械有限公司等目前已实 现 60 μm 直径锡球植球工艺量产，植球精度小于 1/3 球 径，良率可控制在 99.997%以上。植球法制作晶圆凸点 会涉及到光刻、湿法去胶、湿法刻蚀等工艺，工艺流程 如图 5（a）所示，锡球凸点产品如图 5（b）所示。

植球法因其工艺稳定、产能大，良品率高，适用于 晶圆凸点的大规模生产，被广泛应用于图像传感器、 电源管理芯片、高速器件和光电器件等领域，但其需要 先在焊盘上制作 UBM 和印刷助焊剂，工艺较机械打球 法和焊膏印刷法而言更加复杂，成本更高。且对于 60 μm 直径以下的凸点，植球法受限于植球技术和网板制造技 术的发展，容易发生多球、少球、球偏移等问题，良品 率大幅降低，因此对于小直径凸点，植球法不再适用。

1.4 电镀法

电镀凸点是采用电化学沉积技术在晶圆表面的物 理气相沉积（physical vapor deposition，PVD）种子层 上（通常是 Ti/Cu 薄膜）沉积金属的工艺方法。电镀 法精度高，对于细间距、高密度的凸点制备具有明显 优势。就凸点电镀方式而言，根据晶圆放置方向，电 镀设备分为垂直镀和水平镀。电镀工艺主要分为预润湿、电化学沉积和清洗3个步骤。预润湿是将纯水 均匀喷覆到金属种子层上，可提高电镀液在种子层上分布的均匀性，减少气泡、无镀层、镀覆不均匀等失效问题；电化学沉积是利用金属的氧化还原特性，使电镀液中的金属离子均匀沉积到金属种子层表面，用于制备金属线、金属柱等；清洗是为了去除镀件上残留的电镀液，避免发生电化学腐蚀、镀液污染等问题。电镀工艺流程及电镀的铜柱凸点产品如图 6 所示。

电镀方法在小直径、小节距凸点制备方面性能表 现良好。陈聪等通过电镀方法在Si基板上制备了直径为60μm、高度为54 μm 的 Cu-Ni-AuSn 铜柱凸点， 芯粒内凸点高度均匀性小于 2%；Oi 等使用 i-THOP 设计规格的基板，通过电镀方法制备了直径为 25 μm，间距为 40 μm 的铜柱凸点，实现了高密度凸点芯片倒 装封装工艺。Yoon 等采用电镀方法制备了间距为 40 μm、高度为 20 μm 的 Cu/SnAg 组分的凸点，经倒装 后其可靠性测试满足 JEDEC（joint electron device engineering council）标准。采用电镀方法制备出的晶圆 凸点高度均匀性好，一般可控制在 5%以内，且工艺可 控。除此之外，电镀技术已经能够实现小于 10 μm 直 径的晶圆凸点制造，且工艺相对成熟，被广泛应用 于图像处理器、存储器芯片、ASIC（application- specific integrated circuit）、FPGA（field programmable gate array）、电源管理芯片、射频前端芯片、基带芯片、功率放大器等产品中。

2 晶圆微凸点结构

先进封装中，晶圆凸点往往是通过 UBM 连接到晶 圆表面的，制作凸点之前通常需要先进行 UBM 制备作 为凸点“承载体”。因此，业内常说的晶圆凸点结构一 般是包含 UBM 层和凸点。

2.1 UBM 层

芯片电极的材料通常是铝或铝合金。若铝和铜柱 或者锡凸点直接互连，易生长形成晶粒粗大的金属间 化合物（inter metallic compound，IMC），影响互连可 靠性，为保证凸点与电极之间的结合力满足器件要求， UBM 层需要提供粘附、阻挡扩散、提供润湿的作用， 如图 7（a）所示。由于任何一种单质金属都不能同时 具备这 3 种功能，因此 UBM 层通常情况采用多层金属 薄膜结构。粘附层要求与铝的接触电阻小，热膨胀系 数接近，且需要与铝层及晶圆钝化层粘附性好，该层 金属常常选用 Ti、Ti-W、Cr 和 Ni 等。阻挡扩散层主 要作用是防止凸点材料与 Al 电极之间发生相互扩散， 从而影响器件性能，该层金属通常选用 Ni、Ti、Cu、 Pd 和 Pt 等。润湿层要求与凸点材料形成良好浸润效果， 在凸点回流焊接过程中不容易或者不会生成不利的 IMC 层，该层金属通常采用 Au、Cu 等。产品应用领 域不同，对应的 UBM 层结构也不同，经过长期的实际 应用与研究优化，逐步形成了一些相对固定的 UBM 薄 膜层结构，如 Ti-W/Cu、Ti-W/Au/Cu、Cr/Cr-Cu/Cu、 Ti/Cu 和 Ti/Ni/Au 等。UBM 层材料选择必须基于所要 求的凸点金属化体系、芯片金属化结构、芯片工作条 件、可靠性要求、电流传输要求和工艺流程要求（如 多次回流焊）等。UBM 层的制作方法有溅射镀膜和化 学镀，目前大多数的 UBM 层结构采用溅射镀膜制作。

2.2 凸点

凸点的结构有多种，其中锡球凸点（solder ball bump）和铜柱凸点（copper pillar bump）较为常见。对于锡球凸点制作工艺，通过高温回流使得锡球与焊盘 连接，但是锡球凸点在回流过程中容易发生坍塌现象， 导致与相邻的锡球凸点桥接而造成短路。当芯片外引 端节点距离低于 130 μm 时，锡球凸点便不再适用。铜柱凸点以铜柱为支撑，在其顶部加上少许锡银焊料， 可以在实现相同凸点高度的同时，减少了焊料的使用。铜柱凸点的节距一般在 60～140 μm 之间，铜柱凸点代替锡球凸点，可以实现更小间距的芯片互连，可应用 于更高引线数量的先进封装。

1）锡球凸点

锡球凸点常用于倒装芯片焊接互连，焊料大多是 含铅焊料（如 SnPb 等），锡球凸点结构如图 7（b）所 示。自中国颁布了禁止使用铅及其化合物的法令以来， 在非军领域，Sn 基无铅焊料成为最主要的互连材料。Sn 基焊料适当添加银、锌、铜、铋等金属元素形成合 金来改善焊料性能，得到满足器件所需的机械、电气 和热性能，常见的有 Sn-Ag-Cu、Sn-Cu、Sn-Ag、 Sn-Zn 和 Sn-Bi 焊料。Sn-Ag-Cu（SAC）因其具备良好的焊料硬度、抗拉强度、屈服强度、剪切强度、冲击 强度和蠕变强度，逐步成为电子钎焊最多的无铅焊料 合金体系，当前应用最多的是欧盟的 Sn3.8Ag0.7Cu，日 本的 Sn3.0Ag0.5Cu（SAC305）、Sn3.5Ag0.7Cu 等焊料， 这些焊料都属于高银体系（Ag 含量大于 1%），性能更加 优异。Sabbar 等研究了 Ag 含量对 SAC 焊点的机械性 能的影响，结果显示，随着 Ag 组分的含量增加，回流 后生成的 Ag3Sn化合物就越多，对焊点的抗剪切能力提升作用明显。然而高银含量导致成本高昂，因此行业内需开发低银体系以节约成本。据研究，低银焊料相比于 高银焊料，具有更低的成本和一致的润湿性能。低银 焊料的微观结构中不存在 Ag3Sn IMC，表明低成本低银焊料具有良好的可焊性和可靠性，但随着银含量的降低， 焊料的力学性能下降，熔点会上升。

添加金属元素 Bi、Ni、Al 等能提升低银焊料的力 学性能。Lin 等研究了 Bi 和 Ni 对 SAC 焊料力学性 能的影响，结果显示，SAC 纳米硬度为 10.62 GPa，而 加入了 Bi 和 Ni 的 SAC-Bi 和 SAC-Ni 焊料，其纳米硬 度达到了 16.88 GPa 和 20.48 GPa，相较于 SAC 有大幅 提升。Ren 等在 SAC305 焊料中加入 0.5%～10%的 In 粉，研究表明，随着 In 含量的增加，焊料的硬度显 著升高。Sun 等研究了纳米 Al 对 SAC105 焊料剪切 性能的影响，纳米 Al 加入后其剪切力为 66.4 N，优于 未添加的 SAC105（剪切力为 54.2 N），表明纳米 Al 的 加入能提高焊点剪切力。添加 Bi、Ni 和 Zn 等可降低 低 银 焊 料 的 熔 点 。Liu 等发现在 Sn0.7Ag0.5Cu （SAC0705）钎料中添加 Bi 和 Ni 元素能显著降低焊料 熔点。研究表明，质量分数 3%的 Zn 加入 SAC103 焊料后，熔点从 227.7 ℃降至 220.8 ℃。经过大量研 究和改进，目前研究最多、应用范围最广是 Sn1.0Ag0.5Cu （SAC105）和 Sn0.3Ag0.7Cu（SAC0307）这两种焊料， 被认为是第二代无铅焊料。

2）铜柱凸点

铜柱凸点由铜柱和焊料帽组成，铜柱提供机械支 撑和电气连接，焊料帽将芯片与基板通过焊接进行互 连。IBM 公司发明了一种两层结构的 Cu-Sn 凸点 （MPS-C2），凸点结构如图 8（a）所示。在焊接互 连过程中，锡帽与铜柱界面会生成金属间化合物 （IMC），IMC 层晶粒不均匀会导致很高的脆性，造成 器件长期服役过程中可靠性和寿命受到影响。研究表 明，当其他条件保持不变时，Sn/Ag凸点因形成了Ag3Sn 微粒的稳定结构，比 Sn/Cu 凸点拥有更优异的电迁移特性，Sn/Ag 焊料也逐渐取代了纯 Sn 焊料。

随着先进封装技术的发展，铜柱凸点节距已到达 20 μm 以下。Liu 等对 10 μm、5 μm 和 1 μm Sn/Cu 凸点 IMC 生长过程进行研究。结果表明，当凸点直径 从 10 μm 减小至 1 μm 时，IMC 生长速度会持续增加， 这种现象也被称为“IMC 尺寸效应”。IMC 持续增加会 发生空洞等失效情况。为解决这种缺陷，通常在铜柱 和锡银层中间加入金属镍层作为阻挡层以抑制凸点界 面的 IMC 生长，镍层厚度通常控制在 2～5 μm 范围之 间。Bertheau 等分别研究了直径为 25 μm 和 80 μm 的 Cu/Sn 和 Cu/Ni/Sn 两种凸点在不同环境中的微观结 构演变过程。结果表明，Cu/Ni/Sn 凸点比 Cu/Sn 凸点 具有更慢的 IMC 粗化速率，说明镍层对于铜锡金属具 有阻挡扩散的作用。Intel 公司发明了一种间距为 175 μm、直径为 105 μm 的新型铜柱凸点。该凸点通 过在铜柱外表面覆盖一层阻挡薄膜和润湿薄膜，使其具备优异的润湿性和抗电迁移性能，凸点结构如图 8 （b）所示。现如今，常见的铜柱凸点结构如图 9 所示， 为铜柱+阻挡层+锡帽结构，锡帽常常是 SnAg 合金，阻 挡层一般为金属 Ni。

3 微凸点在先进封装中的应用及发展趋势

晶圆微凸点广泛应用于倒装芯片球栅格阵列封装 （flip chip ball grid array，FCBGA）、扇出型封装和 2.5D/3D 封装等各类先进封装中，已实现再布线层 （redistribution layer，RDL）线宽/线距 5 μm 的大规模量 产。倒装芯片技术是目前市场占比最多的封装技术， 被应用于军工、无源滤波器、存储器等领域。晶圆微 凸点除应用于常规线宽/线距 5 μm 的产品中，还应用于 如华天、长电、台积电、三星、Intel 等公司密度更高 的扇出型、2.5D 及 3D 封装中。华天科技嵌入式硅基扇 出封装、长电科技多维扇出封装等封装技术，采用 高密度再布线技术，线宽/线距为 2 μm；台积电 InFO （ integrated fan-out on substrate ） 技 术平 台 孵 化 的 InFO_PoP、InFO_oS 和 InFO_LSI 3 种扇出型封装，其 中 InFO_oS 线宽/线距为 2 μm。高密度扇出型技术应用 于射频、无线芯片、处理器、基带芯片等封装领域。Intel 公司嵌入式多硅片互连桥型 2.5D 封装，通过硅桥来实 现高带宽和短距离的数据通信，线宽/线距为 1 μm；三星提供的 2.5D 封装有 I-CUBE-E、I-CUBE-S 和 H-CUBE，台积电有 CoWoS_L、CoWoS_R 和 CoWoS_S， 其中 CoWoS_R 的 RDL 间距仅为 4 μm，线宽/线距为 2 μm。2.5D 封装广泛应用于图像处理、智能穿戴设备 领域。Intel 公司的 Foveros3D 封装已能够实现多个 不同制程的芯片互连，台积电的 SoIC_WoW 3D 封装 已能够实现 10 000/mm2 I/O 高密度封装，三星的 X-CUBE 已 实 现 超 薄 转 接 板 的 工 艺 稳 定 性 （100 μm），X-CUBE 封装线宽/线距已在 2 μm 以下。3D 封装广泛应用在智能芯片、5G 领域。

图 10 为晶圆微凸点在各类先进封装中的应用，列 举了具有代表性的封装示意图。其中图 10（a）为国内 封测领军企业长电科技的 FCBGA 结构示意图，芯片与 基板间采用铜柱凸点进行互连，节距为 130 μm，直径为 80 μm；图 10（b）为 InFO_oS，是由多个芯片扇出型工 艺的集成，芯片与基板之间采用铜柱凸点进行互连，相 对于倒装芯片，大大提升了功能密度；图 10（c）为三星 的 I-CUBE-E 2.5D 封装，采用了无硅通孔（through-silicon via，TSV）结构，以布线中介层作为转接板，芯片底部 与转接板上部、转接板底部与基板上部通过锡球凸点进 行互连；图 10（d）为三星 X-Cube 3D 封装结构，HBM （high bandwidth memory）芯片是带有 TSV 的双面凸点 结构（一般为铜柱凸点），采用两面成型自动焊完成芯 片间互连，这种立体堆叠互连结构大幅度缩短了信号 传输距离，提升数据传输速度，降低功耗。

图 11 为逻辑芯片与相对应的先进封装技术关键工 艺特征尺寸微缩路线图。图中显示，自 2018 年以来， 先进封装晶圆微凸点间距已经下降到 50 μm 以下， 40～50 μm节距的晶圆微凸点应用于2.5D/3D堆叠的半 导体产品中的互连可靠性及可行性已经得到验证，并实现批量生产。然而，随着人工智能和 5G 技术的不断 发展，封装产品为获取更高的带宽以达到更高的数据 传输速率，要求微凸点节距和直径不断缩小，导致互 连可靠性问题频发。器件往往同时要求高的凸点高度和小的直径，长期服役过程中，IMC 不断增长会消耗焊 料，由于焊料体积的收缩，会导致焊接部位产生空隙， 影响焊点的完整性，进而影响互连可靠性。当凸点间距 减小至 20 μm 以下时，在热压键合时，若产生细微的 倾斜，则会使焊料变形挤出而发生桥连短路。另外， 因尺寸效应，在小直径的凸点中，IMC 占据了凸点大 部分的体积，表面扩散和柯肯达尔孔洞等问题急剧增 加，微凸点进一步缩减互连节距遇到了前所未有的瓶颈。随着索尼获得 Ziptronix 公司混合键合技术授 权，推出了混合键合技术高性能图像传感器。半导 体业界逐步意识到，混合键合将会成为突破凸点微型 化瓶颈的有效途径。此后，Intel、台积电、三星和华为 等领先机构陆续对混合键合技术展开了深入的研究。Intel公司的Foveros和台积电集成片上系统都应用了混 合键合的三维集成产品。Cu-Cu 键合是目前相对较为成 熟的混合键合方案，即在无焊料的铜柱之间直接完成 互连，能够有效避免桥接问题，具备优良的电、热、 机械性能，Cu-Cu 键合技术在超小间距（小于 10 μm） 的芯片互连中表现出了巨大的优势。

4 结 论

在先进封装工艺技术中，凸点的制备方法主要有 机械打球法、焊膏印刷法、植球法和电镀法。机械打 球法受制于金凸点成本和效率问题，目前仅用于 I/O 数 量不多、对抗电迁移可靠性要求高的产品；焊膏印刷 法因其工艺限制性不适用于低于 200 μm 的细间距凸点 制作；植球法适用于 60 μm 以上凸点制备；电镀法可 满足 10 μm 以下凸点制备。凸点结构主要有锡球凸点 和铜柱凸点两大类，锡球凸点应用最广泛的是 SAC 焊 料体系，受制于成本，低银的 SAC 体系 SAC105 和 SAC0307 未来可能成为主流；铜柱凸点通常为铜柱+阻 挡层+锡帽结构。晶圆微凸点广泛应用于倒装封装、扇出 型封装和 2.5D/3D 封装中，但随着凸点互连节距不断缩 小，可靠性问题频发。未来晶圆微凸点将朝着更小节距、 更小直径方向不断发展，同时无焊料的铜柱凸点的 Cu-Cu 键合互连方式逐步在小节距领域占据主导地位。

转载：半导体在线