测试点之间的间距范围
测试点之间的间距决定了使用何种样式的测试探针。以下是几种常见的测试探针样式和其适用的间距范围：
100mil测试探针：这种样式的测试探针提供了最佳的价格、性能和可靠性，并且有助于打造坚固耐用的测试夹具。这种探针适用于测试点间距大于等于100mil的情况。
50mil测试探针：这种样式的测试探针提供的价格、性能和可靠性相对较差，并且需要定期的特殊保养。这种探针适用于测试点间距在50mil左右的情况。
小于50mil的测试点间距：对于小于50mil的测试点间距，不建议使用50mil测试探针。使用50mil测试探针可能会导致接触不良、信号干扰等问题。因此，尝试应完全避免或尽量减少小于50mil的测试点间距。
图：测试点到测试点间距
中心间距测试点之间的距离取决于用于制造测试装置的探针的类型，有三种类型，根据要求的触点有不同的头：
尖头：被测点是凸状的平片状或者有氧化现象
伞形头：被测点是孔或者是平片状或凹状
平头：被测点是凸起平片状
内碗口平头：被测点是凸起
皇冠头：被测点是凸起或平片状
九爪头：被测点是平片或者凹状
三针头：被测点是凹状
圆头：被测点是间距较密且凸起或平片状
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原文标题：测试点到测试点间距
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