透射电子显微镜(TEM)作为电子显微学中的重要设备,与扫描电子显微镜(SEM)并列,构成了现代电子显微学的两大支柱。TEM通过电子束穿透样品来获取图像,因此样品的多个物理特性,如厚度、导电性、磁性和分散性,都对最终的成像结果有着显著的影响。在TEM样品制备过程中,相较于SEM,TEM的制样技术更为精细和复杂,需要根据样品的具体特性来选择最合适的制样方法。本文将详细讨论在TEM样品制备中如何选择恰当的载网。
载网的基本概念与功能
载网在TEM样品制备中扮演着至关重要的角色,它是用来支撑和固定样品的多孔金属片。常见的载网材料包括铜(Cu)、镍(Ni)、钼(Mo)、铝(Al)、钨(W)、金(Au)以及尼龙等,其中铜网因其广泛的适用性和成本效益而成为首选。载网的规格多样,可以根据样品的具体需求来选择。为了确保样品能够稳固地附着在载网上,通常会在载网上覆盖一层有机膜,这种膜被称为支持膜。带有支持膜的载网被称为“载网支持膜”。支持膜是一种非晶质薄膜,厚度大约为20纳米,它在电子束下应该是透明的,不与样品发生化学反应,通常由塑料或碳材料制成。
载网的分类及其特性
1. 基础载网支持膜:这种载网由金属网和有机膜组成,有机层的主要作用是吸附和固定样品,防止样品从网孔中脱落,这对于纳米级别的样品尤为重要。
2. 碳支持膜:这种载网由金属网、有机层和碳层构成,碳层的加入显著提高了载网的导电性和导热性,厚度一般在7-10纳米之间,有助于减少样品在电子束作用下的电荷积累和膜的破裂。
3. 微栅载网:这种载网在膜上制造微孔,使样品能够搭载在微孔边缘,实现无膜观察,从而提高图像的对比度。它特别适合观察管状、棒状、纳米团聚物等样品。
4. 超薄碳膜载网:在微栅的基础上,叠加一层3-5纳米的超薄碳膜,用于封闭微孔。这种载网适用于粒径较细的纳米材料,能够获得更清晰的观测效果。
5. 纯碳膜载网:当样品使用的有机溶剂可能会溶解有机膜时,需要去除有机膜,仅留下碳膜。这种载网的碳膜厚度一般在20纳米左右,适合进行高分辨率的观察。
载网选择的指导原则
对于在有机溶剂体系中的纳米颗粒,推荐使用纯碳支撑膜。
如果样品是分散在乙醇或甲醇中的粉末样品,普通的碳支持膜就能满足需求。
在进行能谱分析铜元素时,应避免使用铜材质的载网,以免造成干扰。
载网的正确选择对于TEM样品制备至关重要,它不仅能够确保样品的稳定性,还能提高观测效果,从而获得更高质量的TEM图像。通过细致的载网选择和样品制备,研究人员能够更深入地探索材料的微观世界,为科学研究和工业应用提供重要的数据支持。
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