技术科普 | 芯片设计中的LEF文件浅析-电子发烧友网

技术科普 | 芯片设计中的LEF文件浅析

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。举报投诉

芯片设计

芯片设计

+关注

关注
15

文章
1028

浏览量
54998
DEF

DEF

+关注

关注
0

文章
13

浏览量
6270

【「大话芯片制造」阅读体验】+内容概述，适读人群

在这个数字化时代，半导体芯片已经成为推动技术进步的核心。菊地正典先生的《大话芯片制造》不仅是一本技术书籍，更是一次深入芯片制造世界的奇妙之

发表于 12-21 16:32

GDS文件在芯片制造流程中的应用

本文详细介绍了集成电路设计和制造中所使用的GDS文件的定义、功能和组成部分，并介绍了GDS文件的创建流程、优缺点以及应用前景。 GDS文件在集成电路设计和制造中扮演着至关重要

发表于 11-24 09:59 •621次阅读

技术科普 | 下一代芯片技术，新突破

一项新研究表明，利用“混沌边缘”可大大简化电子芯片，混沌边缘可使长金属线放大信号并充当超导体，从而减少对单独放大器的需求并降低功耗。研究人员发现了“混沌边缘”如何帮助电子芯片克服信号损失，从而使芯片

发表于 11-19 01:04 •278次阅读

<b class='flag-5'>技术科普</b> | 下一代<b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>技术</b>，新突破

芯片开发必备工具｜好用的文件比对工具有哪些？

在芯片开发工程中，通常为了知道工程目录下发生了哪些改动，或者两份源码文件之间有什么不同，会需要用到文件和文件夹的比对工具。使用工具比肉眼观察

发表于 11-01 08:11 •522次阅读

<b class='flag-5'>芯片</b>开发必备工具｜好用的<b class='flag-5'>文件</b>比对工具有哪些？

技术科普 | Rust-Shyper 架构简介及对 RISC-V 的支持

背景在现代嵌入式应用场景中，嵌入式系统正进行着向通用系统和混合关键系统的方向发展的演变。越来越多的功能被集成，这些任务往往有着不同的可靠性、实时性的要求，同时又有着将不同关键任务进行相互隔离的需求

发表于 10-29 08:07 •744次阅读

<b class='flag-5'>技术科普</b> | Rust-Shyper 架构简介及对 RISC-V 的支持

科技少年梦科普粤海行|芯海科技科普基地启迪智慧未来

9月28日，由深圳市南山区粤海街道办事处主办，深圳市高科技协同创新促进会、深爱人才馆策划执行的“科技少年梦科普粤海行”系列活动之“芯片探秘链启未来”芯海科技产品体验日成功举行，吸引了众多青少年及家长

发表于 10-01 08:07 •323次阅读

科技少年梦 <b class='flag-5'>科普</b>粤海行|芯海科技<b class='flag-5'>科普</b>基地启迪智慧未来

/ 传感器关键参数“精度” / 精度、分辨率和重复性是衡量传感器性能指标的关键参数。理解这三个参数的区别和联系有助于我们更好地选择和使用传感器，从而提升最终产品的质量和可靠性。本文将以温度传感器为例进行深入探讨。精度指的是传感器测量值与真实值之间的差值，部分厂家也会称之为误差。精度与分辨率的关系分辨率（Resolution）指的是传感器所能识别的最小变化。高分辨率是保证高精度的必要条件，但高分辨率并不一定意味着高

发表于 08-19 15:55 •1486次阅读