蔡司离子束扫描电子显微镜Crossbeam 550 Samplefab

蔡司代理三本精密仪器获悉。蔡司推出全新双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab作为一款专为半导体行业 TEM 样品制备开发的高端聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)Crossbeam 550 Samplefab 提供优异的灵活性自动化功能和用户友好设计帮助半导体行业的样品制备更加简便高效

全新界面用户友好的软件操作体验
配备直观的行业标准图形用户界面软件功能模块高度整合，轻松上手无论是专家还是新手，都能拥有友好的操作体验

配置优化提升设备和软件的稳定性
专门为半导体行业 TEM 样品制备而优化的配置方案提高了设备和软件的稳定性
确保样品制备的持续稳定工作，提高实验室产出

全新体验
全自动TEM样品制备流程
蔡司双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab
提供了全自动解决方案
实现无人值守的多点位TEM薄片制备
旨在优化工作流程，一位操作员即可控制多台设备
最大化生产力并确保样品质量

多样制备
满足原位/非原位样品需求
具备强大的原位(in-situ,lift-out)与
非原位(ex-situ，pick-up)样品全自动制备能力适应各种制样方法的多样需求

灵活操作
自由选择手动/自动制样
既支持手动操作也支持自动操作，适应用户偏好
在手动或自动工作流程中均能提供高质量结果

凭借其优异的灵活性、自动化制样功能以及用户友好设计和稳定性,蔡司 Crossbeam 550 Samplefab 将显著提高半导体样品制备的效率与精度,帮助工程师完成日常的高产量 TEM 薄片样品制备。

蔡司致力于通过创新的技术解决方案,不断推动半导体行业迈向更高效、更精确的样品制备新时代。