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在完全工作条件下测试前测量 LLC 谐振回路增益曲线的方法,包括其接线图、测试结果示例

eeDesigner 2024-12-16 16:26 次阅读

本文主要介绍了一种在完全工作条件下测试前测量 LLC 谐振回路增益曲线的方法,包括其接线图、测试结果示例、在不同次级配置下的电压增益转换,以及该方法的优点和局限性。
*附件:在完全工作条件下进行测试之前测量 LLC.pdf

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  1. 测量方法及示例
    • 测量方法接线图 :使用频率响应分析器,将其注入信号和通道 1 测量跨半桥初级侧元件连接,通道 2 跨次级绕组连接并加电阻模拟负载条件,通过展示通道 2 电压除以通道 1 电压的幅值绘制功率级增益。
    • 测试结果示例 :给出了 LLC 谐振回路增益曲线测量示例图,展示了在一定频率范围内的增益情况。
  2. 电压增益转换
    • 半桥 LLC 功率级常规情况 :输出电压近似为输入电压、匝数比和工作频率下谐振回路增益的乘积。
    • 不同次级配置选项 :次级侧配置全波整流器可使传输能量加倍,双端次级配置可实现四倍电压增益;若初级侧为全桥,相关比率需乘以系数 2。
  3. 方法的益处与局限性
    • 益处 :可直接在 PCB 上测量,考虑功率级寄生元件,如利用漏电感作为谐振电感器节省成本提高效率,还能通过测试增益曲线考虑额外寄生元件(如 MOSFET 输出电容)对设计优化。
    • 局限性 :无法检测所有设计寄生元件,如次级绕组耦合不佳的效应,其虽不影响增益曲线,但会降低功率级性能,影响开关波形(如产生压降、泄漏尖峰),限制输出功率;改进次级绕组耦合可改善开关波形,但增益曲线可能无视觉差异。

审核编辑 黄宇

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