DOT800 多核混合信号测试仪

DOT800 将两台测试仪的能力融合到一个只有测试头的系统中，采用创新的面向器件的仪器，所有模拟、数字和信号处理资源都集中在一个功能强大的可配置主板上。测试性能优越，多站点效率 >99.5%。

多核心架构

DOT800 由两个体积小于 0.3 立方米的独立系统核心构成。每个核心配有一个专用 CPU，用于在全异步模式下执行测试程序，从而确保达到最高的并行测试效率。

仪器功能强大，性能优越

DOT800 仪器将所有模拟、数字和信号处理资源集中在一个强大的主板上，可实现多站点测试，内设多个主控 CPU、DSP 模块和可编程逻辑单元。

这种主板内置测试仪的模块可配置，您可以在 DOT800 中加装单一类型的仪器，从而大幅简化系统构成、程序设计和维护，同时最大程度满足所有器件测试要求，甚至是高于这些要求。

DOT800 的核心是 LPE：即多处理器、多功能的通道仪器，采用革命性的模块化架构，兼有模拟、数字和信号处理能力。

测试一台或多台设备所需的全部资源集中在一块主板上：这样就可以大大简化测试通道和设备之间的装载板连接。

这种主板内置测试仪的仪器含有一个板载控制器、四个矩阵卡和多达四个通道卡，一个仪器槽最多共有 256 个通道。您可以选择不同通道卡构建完美的性能组合，以满足测试要求。

DYLPS | 低功率 V/I 源

DYLPS200 是一种高精度 32 通道（64 路输出：32 通道，混合比1:2）低功率 V/I 源和 V/I 回读数字化仪。每个通道的电压电流可达 200V 和 8A。

HPE | 中功率 V/I 源

HPE 是一种 16 通道浮式可堆叠、可编组仪器，内设驱动及高精度回读数字化仪，可用于电压电流高达 ±100V、16A 的 4Q 中功率信号。

HPES | 高功率 V/I 源

HPES 100 是一种 8 通道浮式仪器，内设驱动及高精度回读数字化仪，可用于电压电流高达 ±400V、2A 的 4Q 中功率信号。

SVM TRIM | 微小数值测量模块

SVM TRIM 为多合一装置，共有 256 个通道，可测量非常低的电流 (pA)、电容 (fF) 和电压 (μV)。

高功率发生器

高功率发生器可产生和测量高达 20KV（测量峰值电流）的电压，提供高达 4kA 的脉冲电流。

毫米波测试模块

DOT 800 提供有 5G 射频选项，能够精确测试不超过 81GHz 频段的射频装置，无需专用射频测试仪。板上测试模块直接集成到测试仪负载电路板上。

直接对接

在 DOT800 中，测试仪和待测器件之间只需使用一个探针卡：无需单独的装载板或探针塔元件。这减小了硬件成本和开发时间，同时确保晶圆针处也有良好的信号完整性，这是因为测试仪管脚和待测器件之间的元件数量大幅降低。

DOT800 集成了市场上的主流探针型号：探针卡自动装载和锁闭功能提高了总体测试单元效率，并提供了最好的平面度控制、自动正确锁闭验证和最大安全性。

可利用相同的对接接合器在左侧或背面对接晶圆探针，这进一步简化了硬件，并提供了最大的安装灵活性。