0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

电子产品覆晶封装与扇出型封装之间的竞争分析

h1654155971.7596 来源:未知 作者:工程师郭婷 2018-07-30 17:52 次阅读

一、高阶电子产品有较高之I/O接口数及较大体积

全球电子终端产品日新月异,不论是手机/无线通讯应用、消费性电子应用或是高速运算应用等,都可观察到电子产品朝向高整合度发展趋势,其中越高性能和多功能产品,除伴随之半导体芯片I/O数越高多,其所需芯片之数量也越高,整体封装芯片之面积亦越大。

图1 :电子应用产品之封装晶片之I/O数及面积关系。资料来源: Yole(2017/02)

二、终端产品推动封装技术进化

当终端产品由手持式产品、物联网消费性产品、车用电子再发展到高速运算处理器发展过程中,产品之复杂度激增情况下,能选择的芯片封装方式亦逐渐受限,这主要是因为高效能产品同时搭配先进制程芯片,同时需高整合度(细线宽线距)之封装技术,而高整合之封装技术往往伴随着低制程良率议题(Low Yield Issue),因此高效能产品能选择的封装技术甚至是能提供此製程技术的从业者亦甚是稀少,大多数封装业者亦会担心低封装良率伤害昂贵芯片所付出之代价甚大,此乃反应现今高阶2.5D中介层封装大多在晶圆厂进行的原因,因晶圆厂具备提供芯片之能力,相较专业封测厂具产业链优势。

图2 :终端产品推动封装技术进化。资料来源: Amkor(2017/09)

先进封装技术中,大多具备芯片整合能力,如目前不论是量或产值最大的覆晶封装技术,或是发展快速之扇出型及2.5D/3D封装技术等,其2015至2021年之产值年複合成长率分别高达49%及43%, 相对之下覆晶封装之5%年複合成长率确实逊色许多,此亦反应覆晶封装之载板不论在整合度,亦或在价格上都存在着技术瓶颈,因此对高频宽及高速运算需求之电子产品带动扇出型封装甚至更高阶之2.5D/3D封装需求兴起。

图3 :先进封装技术之产值及年複合成长率趋势。资料来源:Yole(2018/03)

三、扇出型封装逐渐挑战覆晶封装之地位

覆晶封装(Flip Chip)技术起源于1960年代,最早是IBM在大型主机上研发出之覆晶技术,而扇出型封装技术主要是源于星科金朋在2008年与意法半导体((STMicroelectronics))、英飞凌(Infineon)协议在英飞凌第一代嵌入式晶圆级球闸阵列(Wafer-Level Ball Grid Array;eWLB)技术基础上,共同合作开发新一代的eWLB技术,开发时程及设备机台落差导致扇出型封装之发展落后覆晶封装许久,而覆晶封装主要使用的设备之一是面板级载板製程,亦即其绕线层是载板製程,目前已可融合单一或多晶片以覆晶或打线方式整合在载板上,但载板之线宽(Line)线距(Space)在10/10 um以下之製程受挑战;另一方面,扇出型封装发展时程虽较覆晶封装短,但因其製程主要以晶圆级封装设备进行,其绕线层主要是薄膜(Thin film)製程,因此具发展高密度线宽线距(Line/Space<8/8 um)製程之优势,唯目前主要仍以单一晶片扇出型封装(Single die fan-out)为主,在以扇出型封装进行多晶片整合製程仍备受重佈线层(RDL)良率挑战。

图4: 覆晶封装与扇出型封装之比较。资料来源:Yole;工研院IEK (2018/03)

现今之覆晶封装技术较扇出型封装技术成熟,许多覆晶封装面积大于15*15mm^2以上,同时搭配上百个I/O数,而具备晶片整合之覆晶封装(FCBGA;Flip Chip Ball Grid Array)更是大于55*55mm^2以上,同时I/O数大于3000个以上,而扇出型封装目前则主要仍以单一晶片封装为主,封装面积小于15*15mm^2,同时I/O数小于1500个,主要以手机通讯等相关应用为主。

图5: 现今之覆晶仍较扇出型封装技术成熟。资料来源:Yole(2017/09)

未来五年扇出型封装将逐渐走向多晶片系统级封装(Multi-die System-in-Package),同时扇出型封装亦朝向高密度(High I/O Density)-亦即细线宽线距发展,并併随朝向更大的扇出型多晶片系统级封装发展,但封装面积大于40*40 mm^2之封装将仍以覆晶封装为主,而覆晶封装之载板亦朝向细线宽线距发展。

图6 未来五年扇出型封装走向多晶片SiP封装。资料来源:Yole(2017/09)

未来十年后多晶片系统级扇出型封装SiP,已逐渐可与覆晶封装技术竞争,同时线宽/线距<10/10 um之载板亦逐渐发展成熟,而FOSiP亦逐渐发展成熟,覆晶封装与扇出型封装之竞争将加遽,在高密度扇出型封装逐渐发展成熟趋势下,将严重侵蚀单一或多晶片覆晶封装(FCCSP-Single die/FCBGA-Multi die)之市场份额,在两种技术之成本及效能接近同时,其封装大小(Package Form Factor)、产业链与客户关系将是决定要使用哪种封装的重要关键所在。

图7 未来十年扇出型封装之SiP已可与覆晶封装竞争。资料来源:Yole(2017/09)

四、产业发展趋势

在电子终端产品需求带动下,晶片同质/异质整合趋势已成市场共识,而整合度由过去从PCB及载板提升至薄膜制程或2.5D中介层等高度晶片整合方式,以产业链而言,即将面临的是载板厂与封测厂甚至晶圆厂之竞争关系,但载板厂一直以来都是封测厂之重要合作伙伴,也因此即便客户对高整合度封装有兴趣,但已俱备覆晶封装产能之封测厂是否会愿意抛弃发展已久之覆晶封装技术,改以再投入资金成本购买大量薄膜製程发展扇出型封装技术呢?亦或是以既有之覆晶产能,协同载板厂进行高密度载板之开发?很明显后者可能性较高,因前者再投资成本以封测厂为主,但因覆晶产能可能因此空缺,故未必对封测厂获利有益处,而后者之投资成本以载板厂为主,而载板厂为取得竞争优势,势必得持续朝高密度载板发展,因此,除非无覆晶封装技术及产能包伏之封测厂较有可能积极发展扇出型封测技术外,具覆晶产能之封测厂则对扇出型封装之再投资意愿相对较低。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 封装
    +关注

    关注

    126

    文章

    7789

    浏览量

    142734
  • 晶片
    +关注

    关注

    1

    文章

    401

    浏览量

    31444

原文标题:【技术专栏】电子产品正在颠覆先进封装的竞争格局!

文章出处:【微信号:Anxin-360ic,微信公众号:芯师爷】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    电子产品结构与导热材料解决方案

    电子产品日益小型化、高度集成化的今天,热设计已成为确保产品性能稳定、延长使用寿命的关键因素。我们都知道,电源是电子设备的“心脏”,它将其他形式的能量转换为电子设备可用的电力。而在这个
    发表于 11-11 16:25

    深圳南柯电子 EMC电磁兼容性实验室:提升电子产品竞争力的关键

    深圳南柯电子|EMC电磁兼容性实验室:提升电子产品竞争力的关键
    的头像 发表于 10-29 14:04 149次阅读
    深圳南柯<b class='flag-5'>电子</b> EMC电磁兼容性实验室:提升<b class='flag-5'>电子产品</b><b class='flag-5'>竞争</b>力的关键

    扇出 (Fan-Out)封装市场规模到2028 年将达到38 亿美元

    来源:深芯盟产业研究部 根据YOLE 2023年扇出封装市场报告数据,受高性能计算 (HPC) 和联网市场对超高密度封装的需求推动,扇出
    的头像 发表于 08-26 16:06 483次阅读
    <b class='flag-5'>扇出</b><b class='flag-5'>型</b> (Fan-Out)<b class='flag-5'>封装</b>市场规模到2028 年将达到38 亿美元

    详解不同圆级封装的工艺流程

    在本系列第七篇文章中,介绍了圆级封装的基本流程。本篇文章将侧重介绍不同圆级封装方法所涉及的各项工艺。圆级
    的头像 发表于 08-21 15:10 1288次阅读
    详解不同<b class='flag-5'>晶</b>圆级<b class='flag-5'>封装</b>的工艺流程

    电子产品辐射的仪器叫什么

    电子产品辐射的仪器通常被称为 辐射检测仪 或 电磁辐射检测仪 。这类仪器专门用于测量电子产品等设备产生的电磁辐射强度。以下是一些常见的辐射检测仪类型及其特点: 电磁辐射检测仪 :这种仪器能够测量
    的头像 发表于 08-20 09:59 600次阅读

    扇入扇出圆级封装的区别

    圆级封装是一种先进的半导体封装技术,被广泛应用在存储器、传感器、电源管理等对尺寸和成本要求较高的领域中。在这些领域中,这种技术能够满足现代对电子设备的小型化、多功能、低成本需求,为半
    的头像 发表于 07-19 17:56 1462次阅读

    EVASH Ultra EEPROM应用哪些电子产品

    EVASH Ultra EEPROM应用哪些电子产品
    的头像 发表于 06-27 12:55 332次阅读

    趋势报告揭示循环电子产品的未来

    与Kairos Future公司合作撰写的《迈向2035年的循环电子产品格局》报告深入分析电子行业内不断变化的动态,确定了到 2035 年将重塑循环电子产品方法的八大关键趋势。 如今
    的头像 发表于 04-28 17:14 304次阅读

    电子产品环境模拟试验详解

    温度试验:通过模拟高温、低温以及热冲击等条件,测试电子产品在不同温度环境下的工作性能和可靠性。这种试验对于评估电子产品在极端温度条件下的稳定性至关重要。   湿度试验:通过模拟高湿度和低湿度环境
    的头像 发表于 04-27 10:00 454次阅读
    <b class='flag-5'>电子产品</b>环境模拟试验详解

    浅析扇出封装和SiP的RDL改进与工艺流程

    如今,再分布层(RDL)在高级封装方案中得到了广泛应用,包括扇出封装扇出芯片对基板方法、扇出封装
    的头像 发表于 04-08 11:36 3531次阅读
    浅析<b class='flag-5'>扇出</b><b class='flag-5'>封装</b>和SiP的RDL改进与工艺流程

    扇出封装圆级封装可靠性问题与思考

    在 FOWLP 中存在两个重要概念, 即扇出封装圆级封装。如图 1 所示, 扇出
    的头像 发表于 04-07 08:41 1637次阅读
    <b class='flag-5'>扇出</b><b class='flag-5'>型</b><b class='flag-5'>封装</b><b class='flag-5'>晶</b>圆级<b class='flag-5'>封装</b>可靠性问题与思考

    DC电源模块在电子产品中的重要性分析

    DC电源模块在电子产品中的重要性分析 BOSHIDA DC电源模块在电子产品中具有重要的作用和意义。以下是一些分析: DC电源模块在电子产品
    的头像 发表于 03-13 13:46 368次阅读
    DC电源模块在<b class='flag-5'>电子产品</b>中的重要性<b class='flag-5'>分析</b>

    一文看懂圆级封装

    分为扇入圆级芯片封装(Fan-In WLCSP)和扇出圆级芯片
    的头像 发表于 03-05 08:42 1260次阅读
    一文看懂<b class='flag-5'>晶</b>圆级<b class='flag-5'>封装</b>

    什么是SMD7050振?主要应用在哪些电子产品上面?

    什么是SMD7050振?主要应用在哪些电子产品上面?  SMD7050振是一种表面贴装设备(Surface Mounted Device,简称SMD),属于7050封装规格的
    的头像 发表于 12-18 13:57 796次阅读

    CCC认证费用分析:比较不同类型电子产品的认证成本

    分析:1.手机类:手机是目前市场上使用最广泛的电子产品之一。对于手机的CCC认证,费用一般较高,主要是因为手机涉及多项测试和标准要求。预估的认证费用可能在数千到数万
    的头像 发表于 12-12 16:25 716次阅读
    CCC认证费用<b class='flag-5'>分析</b>:比较不同类型<b class='flag-5'>电子产品</b>的认证成本