DS34S132 32端口TDM - over –Packet IC采用外部DDR同步DRAM (DDR1)存储器缓存数据。内存空间需提供足够的缓存区域,以支持256条伪线(PW)/绑定中每一伪线的256ms数据包延迟变化(PDV)。如果数据包交换网络(PSN)没按正确的先后次序排列数据,存储器需确保对接收数据包的重新排序。由于目前DDR3已成为主流存储器件,为了使DS34S132更方便地采用DDR3,本应用介绍了如何实现DS34S132与DDR3存储器的对接。
图1所示为利用FPGA和DDR3取代DDR1的推荐电路框图。
图1 用DDR3和FPGA取代DDR1
借助DDR SDRAM数据信号与时钟信号的混合时序控制,DDR SDRAM接口能够支持速率高于典型SDRAM数据传输。例如,一个125MHz时钟频率的DDR SDRAM,可以实现同等频率SDRAM几乎两倍的带宽(BW)。因此,Maxim开始在其方案中用DDR1取代SDRAM,SDRAM用于Maxim的上一代TDM over Packet(TDMoP)器件。
DDR3 SDRAM采用的是DRAM接口规范。实际的DRAM存储数据阵列的存储架构与早期类型相似,具有相似的性能指标。DDR3 SDRAM的数据传输速率是DDR1的4倍,具有更宽频带。
目前,DDR1存储器模块的使用不如DDR2或DDR3广泛。但DDR2和DDR3向下、向上都不兼容DDR1.因此,DDR2或DDR3存储器模块不能工作在早期采用DDR的主板设计中,反之亦然。
DS34S132的DDR接口配置
针对DS34S132 TDMoP器件内部配置:
l DDR1接口必须设置成3类列地址选通(CAS)
l 必须计算"刷新频率",针对DDR3存储模块配置足够快的时间间隔
l DDR时钟频率为125MHz
值得注意的是,DDR3有8个扇区,DS34S132只有2个扇区选择位。因此,其中一半的DDR3存储器模块(上区)没有使用。
DDR3配置
DDR3应该运行在500MHz时钟速度,该频率是DDR1 125MHz时钟频率的四倍。
我们采用8位数据进行Verilog RTL仿真,BW为:500MHz x 2 x 8位。该BW是125MHz x 2 x 16 DDR的两倍,额外的BW用作从DDR3流水线回传数据给DS34S132,不需占用FPGA的FIFO存储器。对于DDR3,我们使用以下配置:
CAS延迟:8
CAS写延迟:6
DLL复位,然后再使能
我们用Micron DDR3 MT41J128M8(16M x 8 x 8扇区)进行仿真。当CL= 8(DDR3 - 1066)- 187时,DDR3的周期是1.87ns.如需支持其它DDR3配置/速度,可能还需提升资源配置。我们使用的DDR3仿真具有以下规格:
'elsif sg187 // sg187 is equivalent to the JEDEC DDR3-1066G (8-8-8) speed bin
eter TCK_MIN 1875; // tCK ps Minimum Clock Cycle Time
eter TJIT_PER 90; // tJIT(per) ps Period JItter
eter TJIT_CC 180; // tJIT(cc) ps Cycle to Cycle jitter
eter TERR_2PER 132; // tERR(2per) ps Accumulated Error (2-cycle)
eter TERR_3PER 157; // tERR(3per) ps Accumulated Error (3-cycle)
eter TERR_4PER 175; // tERR(4per) ps Accumulated Error (4-cycle)
eter TERR_5PER 188; // tERR(5per) ps Accumulated Error (5-cycle)
eter TERR_6PER 200; // tERR(6per) ps Accumulated Error (6-cycle)
eter TERR_7PER 209; // tERR(7per) ps Accumulated Error (7-cycle)
eter TERR_8PER 217; // tERR(8per) ps Accumulated Error (8-cycle)
eter TERR_9PER 224; // tERR(9per) ps Accumulated Error (9-cycle)
eter TERR_10PER 231; // tERR(10per)ps Accumulated Error (10-cycle)
eter TERR_11PER 237; // tERR(11per)ps Accumulated Error (11-cycle)
eter TERR_12PER 242; // tERR(12per)ps Accumulated Error (12-cycle)
eter TDS 75; // tDS ps DQ and DM input setup time relative to DQS
eter TDH 100; // tDH ps DQ and DM input hold time relative to DQS
eter TDQSQ 150; // tDQSQ ps DQS-DQ skew, DQS to last DQ valid, per group, per access
eter TDQSS 0.25; // tDQSS tCK Rising clock edge to DQS/DQS# latching transitioneter TDSS 0.20; // tDSS tCK DQS falling edge to CLK rising (setup time)
eter TDSH 0.20; // tDSH tCK DQS falling edge from CLK rising (hold time)
eter TDQSCK 300; // tDQSCK ps DQS output access time from CK/CK#
eter TQSH 0.38; // tQSH tCK DQS Output High Pulse Width
eter TQSL 0.38; // tQSL tCK DQS Output Low Pulse Width
eter TDIPW 490; // tDIPW ps DQ and DM input Pulse Width
eter TIPW 780; // tIPW ps Control and Address input Pulse Width
eter TIS 275; // tIS ps Input Setup Time
eter TIH 200; // tIH ps Input Hold Time
eter TRAS_MIN 37500; // tRAS ps Minimum Active to Precharge command time
eter TRC 52500; // tRC ps Active to Active/Auto Refresh command time
eter TRCD 15000; // tRCD ps Active to Read/Write command time
eter TRP 15000; // tRP ps Precharge command period
eter TXP 7500; // tXP ps Exit power down to a valid command
eter TCKE 5625; // tCKE ps CKE minimum high or low pulse width
eter TAON 300; // tAON ps RTT turn-on from ODTLon reference
eter TWLS 245; // tWLS ps Setup time for tDQS flop
eter TWLH 245; // tWLH ps Hold time of tDQS flop
eter TWLO 9000; // tWLO ps Write levelization output delay
eter TAA_MIN 15000; // TAA ps Internal READ command to first data
eter CL_TIME 15000; // CL ps Minimum CAS Latency
FPGA配置
FPGA的关键性能:
l 在上电时,初始化DDR3存储器芯片
l 初始化完成后,把从DS34S132发出DDR1命令转换成DDR3命令/数据
i. 读
ii. 写
iii. 预充电
iv. 使用数字时钟模块(DCM)对DS34S132的DDR1时钟(125MHz)进行4倍频,生成DDR3时钟(500MHz)。
v. 使用第二个DCM产生四个不同的相位DDR3时钟,提供DDR3沿触发时序。此外,利用一路反馈时钟(从一个IO端输出并返回)调整这些时钟相对于DDR1时钟沿的相位关系,有助于DS34S132及时读取数据。
据此,FPGA与DDR3存储器相结合,构成类似于DS34S132的DDR1功能。FPGA代码包括DCM和早期的DDR IO,可从Maxim网站下载程序和详细说明。
FPGA采用Spartan,Verilog RTL仿真速度等级为4,能够达到500MHz.FPGA选用接近300的触发器,不带FPGA RAM.我们还使用了两个DCM转换时钟频率。为了验证DDR1 - DDR3转换设计方案,在Verilog RTL仿真器进行以下测试:
DDR1模式测试并记录结果
通过FPGA测试DDR3模式,并记录结果
监测DDR3独立的读、写操作,并与DDR1读、写操作进行对比
图2和图3显示了DDR1和DDR3的读、写仿真结果。
在Verilog RTL仿真中,可以成功地通过FPGA从DDR3向器件发送有效信号,同样也可成功地读取器件信号并发送到DDR3.仿真结果证明,从DDR1到DDR3转换方案可以正确工作。
图2 DDR1(上图)和DDR3(下图)的写操作仿真结果
图3 DDR1(上图)和DDR3(下图)的读操作仿真结果
结论
本文利用Micron DDR3 MT41J128M8参数模型进行FPGA的Verilog RTL仿真,确保器件能够配合DDR3和Spartan FPGA工作。但该方案并不适用于所有DDR3器件,设计人员需要首先了解利用哪些DDR3进行设计。没有提供FPGA映射和位文件。
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