5大应用实例分析，迅速搞懂逻辑分析仪-电子发烧友网

1多输入测量

一般的示波器只有两路通道输入，对于需要多个通道输入的测量（如常用的SPI、SSI、Microwire等）就显得无能为力了，但逻辑分析仪一般都有16个通道以上的输入，可以轻松应付多通道输入的测量。SPI通讯通常由CS，SCK，SI，SO四个信号组成，SPI接口的芯片应用广泛，有E2PROM，I/O扩展，复位芯片，USB接口等，在日常电子产品设计中使用非常广泛。图1为使用逻辑分析仪对SPI总线进行测量的结果。

图1 SPI测量结果

从图1中可以十分明了的观测SPI通讯中收发数据与时钟及片选的关系。不但在测量中可以使用逻辑分析仪对多个输入信号进行测量，平时可以用来当做多输入逻辑示波器使用，对输入的电平随时观察。

2总线时序测量

对于一个微处理器系统的开发，很多时候难免需要外扩一些器件（如RAM，Flash，USB接口芯片等）以增加功能。在开发中经常都遇到这样一个问题，为了获取更高的性能让微处理器跑在比较高的时钟上，但当微处理器时钟上去以后常常会出现一些莫名其妙的问题，其中很大的一部分问题都是出在数据总线的建立和保持时间是否满足器件的时序要求。

以下以PHILIPS LPC22XX系列操作总线来说明逻辑分析仪在总线时序测量上的使用。当使用LPC22xx外扩SST39VF160-90的flash芯片时，如何才能使微处理器获得最好的性能。图2为SST39VF160-90芯片的读时序要求，其动态特性参数表1所示。

图2SST39VF160读时序

表1.1 SST39VF160动态特性

从表1.1中可以得出TRC、TCE、TAA、TCHZ(TOHZ)对正常读取数据起着关键作用。当TRC、TCE、TAA不能满足时序要求时，读取的数据就会出错。当TCHZ(TOHZ)操作不满足时序要求时，就会引起总线的冲突，不但会造成数据出错，同时也会给硬件带来损害。因为在ARM架构中OE和CE是一起输出，所以TOE就可以忽略了。

图3所示为LPC22xx读取外部Flash的实际时序。可以十分容易的测量出微控制器操作flash的时序是否符合要求。其中TRC读取周期为 130ns，满足flash器件的最小要求90ns。TCHZ(TOHZ)为40ns也满足了flash的要求。这样就保证了程序的可靠运行了，同时也知道微控制器读取flash的速度还可以配置得更快一些，从而可以加快系统的运行速度。

图3PHILIPS ARM7读取外部Flash时序

当使用总线方式外扩功能芯片时，时序的配合的问题就显得更加突出，使用逻辑分析仪对总线时序进行分析就显得更加重要了，同时也是系统正常运行的有力保证。

3触发功能

功能完善的触发设置是逻辑分析仪的一大特色，与示波器只能触发电平和边沿的触发相比，逻辑分析仪设置的触发方式可以说是五花八门、多种多样。一个完善的逻辑分析仪应具备以下的触发设置，如表1.2所示。

表1.2 逻辑分析仪常用触发方式

利用上述的触发方式，可以很轻松的把隐藏在大量的信息中的bug查找出来。以上的触发方式是常为使用的逻辑分析仪触发方式，对于一些难以用上述触发方式来描述的触发功能，在高档的逻辑分析仪中还提供如可视触发、语言描述等触发控制方式。

4分析功能

示波器的分析功能只是针对输入通道进行频率、占空比、峰峰值等单一的通道进行测量。而逻辑分析仪则可以针对一个或多个输入通道进行时序和状态的分析。对于单片机 UART发出的数据，使用示波器和逻辑分析仪都可以对其进行测量，如图4为示波器测量的结果，可以观测到UART的高低电平时间，但数据是什么就无从而知了。