昊衡科技

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• 发布了文章 2024-06-15 08:18

  昊衡科技自研低成本光学链路诊断仪——适用大规模光模块失效检测

  

  随着大数据时代对数据量需求的爆炸式增长，光通信系统也在不断的更新升级。光通信产业链上的光收发模块作为核心组件之一，其性能优劣直接影响系统的通信质量。由于光模块速率越来越高，多通道并行的波分复用方案应用越来越广泛，随之带来的是模块内部高密度的光路连接方式，对高速光互联的信号传输质量，可靠性提出了更高要求。由武汉昊衡科技自研的OLI低成本光学链路诊断仪基于光学相

  光模块 失效检测 昊衡科技 诊断仪

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• 发布了文章 2024-06-08 08:17

  【2024光连接大会】国产OFDR设备助力光模块检测

  

  当前，AI技术的大规模应用加速推动了光模块需求的释放。相应的，针对高密度、稳定可靠的高速光互联技术迎来重大机遇和挑战。随着光模块速率越来越高，其内部光电互联结构越来越复杂，需要测量的参数逐渐变多，常规测量方法已逐渐不能满足全部测量需求。而高精度分布式的光频域测量技术将填补常规设备不能测到的参量空白，补全高速光互联、硅光芯片、光纤链路、耦合对接等各方面的测试标

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• 发布了文章 2024-06-05 08:17

  光连接大会邀请函：昊衡科技诚邀您共赴光通信行业盛会

  

  大会介绍INTRODUCTION光纤在线、和弦产业研究中心主办的光通信行业年度盛会--第九届光连接大会CFCF2024(ChinaFiberConnectForum)将于2024年6月23~25日在中国·苏州举办。本届大会以“光连万物，多彩未来”为主题，立足于光网络基础建设，基于光网络、光器件、光模块、光电芯片的技术发展路径，向光通信电信、数据中心、边缘云计

  光连接 光通信 昊衡科技

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• 发布了文章 2024-05-11 08:17

  昊衡科技推出OLI低成本光学链路诊断仪，助力光模块产线检测

  

  INTRODUCTIONAI时代下，数据量需求的爆炸式增长推动着光通信系统不断升级更新。作为光通信产业链中的核心组件，光收发模块的性能优劣十分重要。随着产品速率与集成度的不断提高，终端用户对光器件、光模块的质量把控更加严格。为了在这样的环境中脱颖而出，品质把控成为企业生存和发展的关键。基于此，昊衡科技推出自研的OLI低成本光学链路诊断仪，其原理基于光学相干检

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• 发布了文章 2024-01-12 08:17

  OLI测试范围升级至-100dB

  

  今天小编来跟大家探讨下我司推出的OLI光纤微裂纹检测仪。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以简单理解为，设备出光光源为白光，该光源分为两路，一路在设备内部作为参考光，一路进入待测器件作为信号光，参考光和信号光在相同光程的地方会发生干涉，且误差在百微米内，这也意味着OLI有着超高的定位精度。OLI读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范

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• 发布了文章 2024-01-06 08:17

  如何利用OLI进行产线自动化检测？-阈值判断功能介绍

  

  今天小编来跟大家分享，我们为光纤微裂纹检测仪（OLI）用于产线自动化检测做的定制功能，合格阈值判断。简单来说就是使用设备检测产品是否合格，需要人为给设备定义合格标准，该标准就是设备正常运行自动判别程序的合格阈值。光纤微裂纹检测仪（OLI）通过检测光链路的回波光强大小判定此段链路是否有异常或者特殊结构（如：微裂纹、波导耦合点、法兰连接点、链路末端端面、光纤弯折

  soli 检测仪 自动化检测

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• 发布了文章 2023-12-02 08:17

  光纤微裂纹检测仪适用于产线的多通道测试

  

  单通道能否满足产线测试呢？显然是不能的。以光模块厂家为例，一个光模块可能有多个通道，每个通道都需要检测。使用单通道测试，一个器件就需要反复插拔多次、扫描多次、保存多次结果，这样效率太低了，显然产线不会接受这种方式。OLI支持产线多通道测试，一次就能扫描完一个光模块，极大节省测试时间。当前OLI（光纤微裂纹检测仪）标准版支持12通道测试，用户也可根据需求定制更

  光纤 检测仪 模块 测试

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• 发布了文章 2023-09-15 08:19

  OLI 光纤微裂纹检测仪介绍

  

  今天小编来跟大家探讨下我司推出的OLI光纤微裂纹检测仪。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以简单理解为，设备出光光源为白光，该光源分为两路，一路在设备内部作为参考光，一路进入待测器件作为信号光，参考光和信号光在相同光程的地方会发生干涉，且误差在百微米内，这也意味着OLI有着超高的定位精度。OLI读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范

  光纤 检测仪 白光干涉仪

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• 发布了文章 2023-08-05 08:21

  OLI测试硅光芯片耦合质量

  

  硅光是以光子和电子为信息载体的硅基电子大规模集成技术。光纤到硅基耦合是芯片设计十分重要的一环，耦合质量决定着集成硅光芯片上光信号和外部信号互联质量，耦合过程中最困难的地方在于两者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式约为几百纳米，而光纤中则为几个微米，几何尺寸上巨大差异造成模场的严重失配。光纤微裂纹诊断仪（OLI）对硅光芯片耦合质量检测非常有优势，以亚毫米级别的

  测试 硅光芯片 耦合 芯片

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• 发布了文章 2023-07-31 23:04

  OLI测试硅光芯片内部裂纹

  

  硅光是以光子和电子为信息载体的硅基电子大规模集成技术，能够突破传统电子芯片的极限性能，是5G通信、大数据、人工智能、物联网等新型产业的基础支撑。准确测量硅光芯片内部链路情况，让硅光芯片设计和生产都变得十分有意义。光纤微裂纹诊断仪（OLI）对硅光芯片耦合质量和内部裂纹损伤检测非常有优势，可精准探测到光链路中每个事件节点，具有灵敏度高、定位精准、稳定性高、简单易

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