机床测头可测尺寸、刀具，找正工件，适用于复杂形状。精度受测头等级、机床运动精度、环境及软件影响。正确安装、校准、设置程序并优化环境可提高精度。选择需考虑机床类型、测量任务、功能特性、兼容性、成本及售后。

台阶仪基于触针式原理测表面形貌，精度达埃至微米级，用于半导体、材料科学、光学器件制造。样品需适尺寸、清洁、相对平整。校准周期依使用频率和环境定，建议1-3个月校准一次。

通过声光介质的声光效应，实现白光干涉中的声光调制相移原理，是一个涉及光学和声学交叉领域的技术。以下是对这一原理的详细解释： 一、声光效应与声光调制 声光效应是指超声波在介质中传播时，会引起介质折射率的周期性变化，这种变化可以看作是一个动态的光栅。当光波通过这个动态光栅时，会发生衍射现象，衍射光的强度、频率和方向都会随着超声波场的变化而变化。声光调制则是利用

随着半导体、新能源系统、材料特性研究等领域对高可靠性测试设备的需求日益增长，鼎阳科技推出了ODP6000B系列光隔离电压探头，以及SAP1000H、DPB6150系列和SDP6150系列高压差分探头。

2025年1月16日，鼎阳科技推出全新8通道1 GHz带宽高分辨率示波器SDS5000X HD和SDS5000L系列。其具有5 GSa/s的高采样率，2.5 Gpts/ch的存储深度，是鼎阳科技八通道示波器的又一诚意之作，配备多种分析软件，为不同测试方案提供更多的选择。

在当今高速发展的半导体产业浪潮中，氮化镓（GaN）衬底宛如一颗耀眼的新星，凭借其卓越的电学与光学性能，在众多高端芯片制造领域，尤其是光电器件、功率器件等方向，开拓出广阔的应用天地。然而，要想充分发挥氮化镓衬底的优势，确保其 BOW（弯曲度）和 WARP（翘曲度）的精准测量至关重要，因为这直接关联到后续芯片制造工艺的良率与性能表现。不同的吸附方案恰似一双双各异

哪些测试测量应用使用干簧继电器？干簧继电器在多种电子元件和系统中执行信号切换，包括但不限于：半导体测试仪自动测试设备线束测试仪FCT功能测试仪绝缘测试仪ICT在线测试仪ARC测试仪数字万用表与示波器矩阵开关飞行探针以及边界扫描器干簧继电器的可靠性如何？干簧继电器拥有较长的使用寿命，在低电平信号条件下能够进行数十亿次的切换操作且无功耗，其寿命超过了电磁继电器。

对高速链路（如PCI Express）的全面表征需要对被测链路的发送端（Tx）和接收端（Rx）进行多差分通道的测量。由于需要在不同通道之间进行同轴连接的物理切换，这对于完全自动化的测试环境来说是一个挑战。引入RF开关矩阵允许多通道测试中的物理连接切换，并实现自动化软件测试。本文介绍了如何使用来自Mini-Circuits的RF开关扩展测试环境，以进行自动化的多通道测试，同时可以扩展到其他RF开关模块和技术。

通过改变光的偏振态，从而实现白光干涉中的光学相移原理，是一个涉及光学原理和技术的复杂过程。以下是对这一过程的详细解释： 一、光的偏振态与白光干涉 光的偏振是指光波在传播过程中，光矢量的方向和大小有规则变化的现象。白光干涉则是利用光的波动性，使两束或多束相干光波在空间某点相遇并产生明暗相间的干涉条纹。这些干涉条纹的形成取决于光波的相位差，而相位差则与光波经过

今天给大家介绍一下DisplayPortSource测试。Chrent测试连接先看一下DP的测试系统。首先介绍被测件是PC的TypeC的DP接口，测试主机是用的示波器DSAV334A（33GHz，4个模拟通道）。我们还需要测试夹具：是德的N7015A和N7018A控制器，和一个DP的控制器：UNIGRAF的DPR-100。整体连接：夹具N7015A的Tx1的

一、基本原理相关问题1.激光干涉仪的工作原理是什么？-激光干涉仪主要是基于光的干涉原理。它通常使用氦-氖（He-Ne）激光器等作为光源，发出单一频率的相干光。这束光被分光镜分为两束，一束作为参考光，另一束作为测量光。当测量光遇到被测物体发生位移等变化时，其光程会改变。然后两束光（参考光和变化后的测量光）重新会合，由于光程差的存在，会产生干涉条纹。通过对干涉条

基于光的偏振特性和一些光学元件对光的调制作用，实现白光干涉中的光学相移原理是一个复杂而精细的过程。以下是对这一原理的详细解释： 一、光的偏振特性 光的偏振是指光波在传播过程中，光矢量的方向和大小有规则变化的现象。圆偏振光的电场矢量在平面内沿着一个圆形轨迹振动，可以分为左旋圆偏振光和右旋圆偏振光。而线偏振光则是光波在某一固定方向上的振动占优势的光。光的偏振状态

本文为 AMD Versal 自适应 SoC 器件和 AMD UltraScale Plus 的 PAM4 PRBS 测试简介。

在半导体制造这一高精尖领域，碳化硅衬底作为支撑新一代芯片性能飞跃的关键基础材料，其厚度测量的准确性如同精密机械运转的核心齿轮，容不得丝毫差错。然而，测量探头的 “温漂” 问题却如隐匿在暗处的 “幽灵”，悄然干扰着测量进程，深刻影响着碳化硅衬底厚度测量的精度与可靠性。探究 “温漂” 的产生根源以及剖析其带来的全方位影响，对于半导体产业的稳健发展至关重要。 一、

随着清洁能源需求增长，太阳能的潜力日益受到关注，太阳能电池通过吸收光子释放电子，将阳光直接转化为电能。电气测试广泛用于研发和生产中，以表征其性能，包括直流/脉冲电压测量、交流电压测试等，分析关键参数如输出电流、转换效率和最大功率输出，常结合不同光强和温度条件进行。

在半导体制造的微观世界里，碳化硅衬底作为新一代芯片的关键基石，其厚度测量的精准性如同精密建筑的根基，不容有丝毫偏差。然而，测量探头的 “温漂” 问题却如同一股暗流，悄然冲击着这一精准测量的防线，给碳化硅衬底厚度测量带来诸多实际且棘手的影响。 一、“温漂” 现象的内在根源 测量探头的 “温漂”，本质上是由于温度因素致使探头自身物理特性发生改变，进而引发测量误差

优化超声波流量计的安装位置以提高测量精度，需要综合考虑多个因素，包括管道的直管段长度、流体流动状态、传感器安装位置以及现场环境等。以下是详细的优化建议： ‌选择合适的直管段‌： 上游直管段应至少为10倍管径（10D），以确保流体流态稳定。 下游直管段应至少为5倍管径（5D），以保持流动状态的稳定性。 避免在阀门、弯头、泵等可能引起流态紊乱的设备附近安装流量计。 ‌避免干扰源‌： 远离强磁场、振动干扰或大功率设备，如高

在当今蓬勃发展的半导体产业中，碳化硅（SiC）衬底作为关键基础材料，正引领着高性能芯片制造迈向新的台阶。对于碳化硅衬底而言，其 BOW（弯曲度）和 WARP（翘曲度）参数犹如精密天平上的砝码，细微的偏差都可能让后续芯片制造工艺失衡，而不同的吸附方案则像是操控这一精密测量天平的无形之手，深刻影响着测量结果的精准度。 一、传统大面积真空吸附方案 大面积真空吸附长

远山半导体在连续推出几款高压GaN器件后，最终将他们最新款产品的额定电压推向1700V，相较于之前的1200V器件又有了显著的提升。为了解决GaN器件常见的电流崩塌问题，他们采用特有的极化超级结（PSJ: Polarization Super Junction）技术，并对工艺进行进一步优化，使器件的额定工作电压和工作电流得到更大的提升（1700V/30A）。

变频器可以将输入频率转换到更高或者更低的频段，一般称为上变频或者下变频；混频器则可以将输入信号与本振信号混频，得到两者的和或差，有时候也会有多个信号混合。这种功能让变频器和混频器在射频电路中不可或缺，它在通信系统、射频电路设计和信号处理等领域中扮演着重要的角色。