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中图仪器

深圳市中图仪器股份有限公司是一家高新技术企业,致力于全尺寸链精密测量仪器及设备的研发、生产和销售。

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中图仪器文章

  • VX9000系列光学扫描成像测量机,满足PCB行业多样化尺寸测量需求2023-12-01 08:08

    随着新能源汽车、5G、可穿戴电子设备、手机通讯设备等产业快速发展,PCB产业从量价取胜时代步入到以高品质和高技术推动的全新时代。针对市场日益增长的高品质、高效率的检测需求,中图仪器推出了一款针对PCB外形尺寸全检的神器-VX9000系列光学扫描成像测量机,获得了客户的广泛认可和一致好评。VX9000系列光学扫描成像测量机以光学成像测量系统为基础,配合高精度运
    pcb PCB 光学 测量机 385浏览量
  • 迎亚太计量规划组织来访,服务全球制造业高质量发展2023-12-01 08:08

    第39届亚太计量规划组织全体大会(简称APMP大会)于11月27日在深圳隆重召开。11月28日下午,来自马来西亚、泰国、越南、澳大利亚、新西兰、韩国、印度、印度尼西亚等多个国家的计量专家学者莅临中图仪器参观指导,近距离感受中国制造精密计量检测仪器的魅力。亚太计量规划组织(APMP)是亚太地区的计量合作组织,是国际计量委员会认可的全球六个区域计量组织之一。截止
    中国制造 仪器 检测 435浏览量
  • 光学3D表面轮廓仪超0.1nm纵向分辨能力,让显微形貌分毫毕现2023-11-28 10:59

    与其它表面形貌测量方法相比,SuperViewW系列光学3D表面轮廓仪达到纳米级别的相移干涉法(PSI)和垂直扫描干涉法(VSI),具有快速、非接触的优点。它结合了跨尺度纳米直驱技术、精密光学干涉成像技术、连续相移扫描技术三大独特技术,能够滤除光源不均匀带来的误差,以超越0.1nm的纵向分辨能力,让显微形貌分毫毕现;以优于0.1%的台阶测量重复性,让测量数据
  • 共聚焦显微镜尖锐倾角形貌测量能力,让复杂结构清晰明了2023-11-28 10:56

    在微纳检测领域,共聚焦显微镜具有的纳米级别纵向分辨能力,在相同物镜放大的条件下横向分辨率更高,能够清晰地展示微小物体的图像形态细节,显示出精细的细节图像。VT6000系列共聚焦显微镜依托弱光信号解析算法可以完整重建出近70°陡峭的复杂的结构形状,如对太阳能电池片微观结构进行三维形貌重建。
    显微镜 测量 软件 350浏览量
  • 高端制造业中的通用性超精密3D光学测量仪器2023-11-27 09:39

    超精密光学3D测量仪器具有高精度、自动化程度高、实时反馈和范围广等优势。它能够实现微米级别的精确测量,能够精确测量产品的尺寸、形状和表面粗糙度等,具有广泛的应用价值和重要意义。
  • 高端影像仪:打破微小产品测量局限2023-11-27 09:33

    影像仪产品内置高精度光学电动双倍镜头,不仅可以清晰、准确地观测微小的产品特征,还满足高精度的产品尺寸测量需求。Novator系列影像仪在镜头端配备高清广角镜头,可以清晰地观察产品的整体形状,支持实时图像和图片两种成像导航方式,可以更好地观察整个样品,实现产品的快速定位和精确测量,提高测量效率。
    CCD 影像测试 测量 435浏览量
  • 激光干涉仪可以完成什么测量?2023-11-24 15:22

    激光干涉仪以光波为载体,其光波波长可以直接对米进行定义,且可以溯源至国家标准,是迄今公认的高精度、高灵敏度的测量仪器,在高端制造领域应用广泛。
    仪器 测量 激光干涉仪 1046浏览量
  • DMP大湾区工博会| 中图仪器邀您共赏工业博览盛宴2023-11-22 08:08

    年末大展,工业制造领域盛会-DMP大湾区工博会将于11月27-30日在深圳国际会展中心盛大开启,12大展馆,24万平方米展出面积,2100余家展商向行业观众展示全球最新技术、创新产品。2023DMP大湾区工博会时间:2023年11月27-30日地点:深圳国际会展中心(宝安新馆)展位:3号馆3E05中图仪器为工业制造客户提供全尺寸链精密测量仪器及设备,服务产业
    DMP 仪器 工业 365浏览量
  • 影像仪自行更换RGB光源,“看得清,测得准”!2023-11-21 09:04

    Novator系列影像仪,通过独立的升降表光,改变光源不同的照射角度,自行可更换的不同RGB表光颜色,来面对客户端不同颜色、材质的产品,“看得清 测得准”的理念大大提高了设备解决现场实际问题的能力。
  • 激光跟踪仪在超大型工件空间测量中的应用,你了解多少?2023-11-20 11:37

    在超大型工件的空间测量中,激光跟踪仪可对大尺度空间内的点、线、面、曲面等几何特征进行精确测量;能够根据合作目标的精确空间姿态对被测工件的内部特征、隐藏特征或曲面等复杂特征进行快速、高精度的测量。