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在做项目工程的时候，我们经常要用到比较多的按键，而且IO资源紧张，于是我们就想方设法地在别的模块中节省IO口，好不容易挤出一两个IO 口，却发现仍然不够用，实在没办法了就添加一个IC来扫键。一个IC虽然价格不高，但对于大批量生产而且产品利润低的厂家来说，这是一笔不菲的开支！那么，我们能不能想到比较好的扫键方法：用最少的IO口，扫最多的键？可以吗？
举个例：给出5个IO口，能扫多少键？有人说是2*3＝6个，如图一：
对，大部分技术参考书都这么做，我们也经常这样做：用3个IO口作行扫描，2个IO作列检测（为方便描述，我们约定：设置某一IO口输出为 “0”――称其为“扫某IO口”）。用行线输出扫键码，列线检测是否有按键的查询方法进行扫键。扫键流程：在行线依次输出011，101，110扫键值，行线每输出一个扫键值，列线检测一次。当列线检测到有按键时，结合输出的扫键值可以判断相应的按键。但是，5个IO真的只能扫6个键吗？有人说可以扫9个，很聪明！利用行IO与地衍生3个键（要注意上拉电阻），如图二：
扫键流程：先检测3个行IO口，对K1’，K2’，K3’进行扫键，之后如上述2*3扫键流程。5个IO口能扫9个键，够厉害吧，足足比6个键多了1/2！动动脑，还能不能再多扫几个？就几个？一个也行！好，再想一下，硬是被逼出来了！如图三：
不多不少，正好10个键！这种扫键方式比较少见吧！漂亮！扫键流程：设IO1输出为“0”，检测IO2…IO5，若判断有相应健按下，则可知有健；若无键，则继续扫键：设IO2输出为“0”，检测IO3，IO4，IO5，判断有无键按下，如此类推。这里应注意：当扫某一IO口（输出为“0”）时，不要去检测已经扫过的IO口。如：此时设置IO2输出为“0”，依次检测IO3，IO4，IO5，但不要去检测IO1，否则会出错（为什么，请思考）。感觉怎么样？不错吧！让我们再看看图三，好有成就感！看着，看着……又看到了什么？快！见图四：
真强！被您看出20个键！多了一个对称的三角形。可是，像这样的排列能正确扫20个键吗？回答是肯定的：不能！上下三角形相互对称，其对称扫出的键无法区别。有没有注意到分析图三时提到的注意点？（à“当扫某IO口时，不要去检测已经扫过的IO口，否则会出错”）
我们分析一下图四：当IO1输出“0”时，按下K11或K11’键都能被IO2检测到，但IO2检测却无法区别K11和K11’键！同理，不管扫哪个IO口，都有两个对称的键不能区分。我们假想，如果能把对称键区分开来，我们就能正常地去判断按键。我们在思考：有没有单向导通性器件？有！见图五！
很巧妙的思路！利用二极管的单向导通性，区别两个对称键。扫键思路：对逐个IO口扫键，其他四个IO口可以分别检测其所在的四个按键。这样，就不会有分析图三时提到的注意点。
够酷吧！等等，大家先别满足现状，我们再看一下图二，是不是有点启发？对，我们再分析一下“用5个IO口对地衍生的5个键”。看图六：
25个键！5个IO口扫出25个键！先别激动，我们再分析一下它的可行性，分析通得过才能真正使用。假设扫键流程：先扫对地的5个键，再如图五扫键。先扫对地5个键，判断没有按键，接着对逐一对IO口进行扫键。但当对某一IO口扫键时，如果有对地的键按下，这时有可能会误判按键，因为对地键比其他键有更高的响应优先级。例如：扫IO1，IO1输出“0”，恰好此时K62按下，IO2检测到有按键，那就不能判断是K11还是K62。我们可以在程序上避免这种按键误判：若IO2检测到有按键，那下一步就去判断是否有对地键按下，如果没有，那就可以正确地判断是K11了。
编辑点评：我们小结扫键个数S： S = （N-1）*N + N ――启用二极管; S = （N-1）*N /2 + N ――省掉二极管,同时还有网友提出意见，如网友1：要不停地轮询，不好用。网友2：结果不错，只是分析方法推广比较困难。网友3：有价值。符合一般规律，空间时间互换法则。图二可作为图一的一般替代方案。网友4：强！只是耗费CPU的资源比较多。可靠性不好说，分析一下多键同时按下时的IO冲突。网友5：用ADC口，一个端口就可以检测n多个按键啊。网友6：好是好，不能区分组合键。
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