中科院成功制备8英寸碳化硅衬底 近日中科院物理研究所在官网发文表示,科研人员通过优化生长工艺,进一步解决了多型相变问题,持续改善晶体结晶质量,成功生长出单一4H晶型的8英寸SiC晶体,加工出厚度
2022-05-07 00:55:003759 科锐实现50A碳化硅功率器件技术突破,为更多大功率应用带来更高效率和更低成本,包括1700V碳化硅MOSFET器件在内的科锐大功率碳化硅MOSFET器件降低电力电子系统成本并提升能效
2012-05-10 09:27:161086 高温半导体解决方案供应商CISSOID日前宣布:公司已与中国科学院电工研究所(简称中科院电工所)达成战略合作关系,将共同开展基于碳化硅(SiC)功率模块的系统研发项目,攻克技术难题,实现耐高温、耐高压、高能量密度、高效率等优势,推动碳化硅功率器件在新能源汽车领域实现广泛应用。
2019-06-10 14:10:191342 我国科学家成功在8英寸硅片上制备出了高质量的氧化镓外延片。我国氧化镓领域研究连续取得突破日前,西安邮电大学新型半导体器件与材料重点实验室的陈海峰教授团队成功在8英寸硅片上制备出了高质量的氧化镓外延片
2023-03-15 11:09:59
点击上方“码农突围”,马上关注这里是码农充电第一站,回复“666”,获取一份专属大礼包真爱,请设置“星标”或点个“在看”2020年1月15日,中国科学院计算技术研究所(以下简称中科院计算...
2021-07-21 06:13:57
,更好地促进技术创新和产业链的结合。”在多个场合,白春礼都曾反复表示,为了中国LED的未来,中科院愿意先行尝试。 7月12日,在白春礼等人的推动下,中科院邀请了研究所和企业的代表,召开半导体照明工作
2012-07-18 11:31:19
中科院计算技术研究所副所长包云岗介绍了目前全球性能最高的开源高性能RISC-V处理器核项目“香山”。他指出,计算技术研究所对标ARM Cortex-A72,已于2021年成功研制出第一代“香山
2023-05-28 08:43:00
与团队合作精神;5. 有研发团队的管理工作经历优先。三、福利待遇 参照中科院海西研究院(福建物质结构研究所)相应规定给予薪酬等待遇,年底有项目奖金; 符合泉州市及所属县(市、区)相关政策的创业创新
2017-06-30 16:27:40
中科院顶级专家和多个部门深入研究,并选择与国内网络摄像机行业的领导者ithink公司合作,终于推出手立视Q系网络摄像机。 “手立视Q系,在外形上大胆选用球形元素,更符合中国家庭的审美意识;功能上,采用
2015-02-05 10:09:03
芯片加工,MEMS传感器、光电子器件的研究背景或工作经验;4.动手能力强,善于学习沟通,吃苦耐劳,有团队合作精神; 5.有半导体相关工作2年以上工作经验优先考虑; 岗位待遇:中科院苏州纳米所南昌研究院为
2017-07-12 17:19:13
)碳化硅功率器件的正反向特性随温度和时间的变化很小,可靠性好。 (7)碳化硅器件具有很好的反向恢复特性,反向恢复电流小,开关损耗小。碳化硅功率器件可工作在高频(>20KHz)。 (8
2019-01-11 13:42:03
每小时几米。 然而,该工艺不适合SiC体积增长。对于碳化硅生产,必须使用称为物理蒸汽传输(PVT)的工艺。该过程在腔室顶部使用晶种,在其下方有SiC源材料,其加热温度约为2000 - 2500°C
2023-02-24 15:03:59
本文的目的是分析碳化硅MOSFET的短路实验(SCT)表现。具体而言,该实验的重点是在不同条件下进行专门的实验室测量,并借助一个稳健的有限元法物理模型来证实和比较测量值,对短路行为的动态变化进行深度评估。
2019-08-02 08:44:07
开关电源输出整流部分如果用碳化硅肖特基二极管可以用实现更高的直流电输出。 2、SiCMOSFET 对于传统的MOSFET,它的导通状态电阻很大,开关损耗很大,额定工作结温低,但是SiCMOSFET
2020-06-28 17:30:27
碳化硅圆盘压敏电阻 |碳化硅棒和管压敏电阻 | MOV / 氧化锌 (ZnO) 压敏电阻 |带引线的碳化硅压敏电阻 | 硅金属陶瓷复合电阻器 |ZnO 块压敏电阻 关于EAK碳化硅压敏电阻我们
2024-03-08 08:37:49
进一步了解碳化硅器件是如何组成逆变器的。
2021-03-16 07:22:13
今天我们来聊聊碳化硅器件的特点
2021-03-16 08:00:04
碳化硅(SiC)即使在高达1400℃的温度下,仍能保持其强度。这种材料的明显特点在于导热和电气半导体的导电性极高。碳化硅化学和物理稳定性,碳化硅的硬度和耐腐蚀性均较高。是陶瓷材料中高温强度好的材料
2021-01-12 11:48:45
碳化硅的颜色,纯净者无色透明,含杂质(碳、硅等)时呈蓝、天蓝、深蓝,浅绿等色,少数呈黄、黑等色。加温至700℃时不褪色。金刚光泽。比重,具极高的折射率, 和高的双折射,在紫外光下发黄、橙黄色光,无
2019-07-04 04:20:22
碳化硅(SiC)是比较新的半导体材料。一开始,我们先来了解一下它的物理特性和特征。SiC的物理特性和特征SiC是由硅(Si)和碳(C)组成的化合物半导体材料。其结合力非常强,在热、化学、机械方面都
2018-11-29 14:43:52
硅与碳的唯一合成物就是碳化硅(SiC),俗称金刚砂。SiC 在自然界中以矿物碳硅石的形式存在,但十分稀少。不过,自1893 年以来,粉状碳化硅已被大量生产用作研磨剂。碳化硅用作研磨剂已有一百多年
2019-07-02 07:14:52
碳化硅作为现在比较好的材料,为什么应用的领域会受到部分限制呢?
2021-08-19 17:39:39
的小电流,因此碳化硅肖特基二极管的开关损耗比硅快速恢复二极管更低。使用碳化硅肖特基二极管可以减少损耗,能快速稳定实现器件的正反切换,提高产品的效率和降低产品噪音,同时易于改善EMI。 以下测试结果
2023-02-28 16:34:16
用于一些高压、高温、高效率及高功率密度的应用场合。碳化硅(SiC)材料因其优越的物理特性,开始受到人们的关注和研究。自从碳化硅1824年被瑞典科学家Jns Jacob Berzelius发现以来,直到
2021-03-25 14:09:37
哪位大神知道CISSOID碳化硅驱动芯片有几款,型号是什么
2020-03-05 09:30:32
SIC碳化硅二极管
2016-11-04 15:50:11
项目名称:基于碳化硅功率器件的永磁同步电机先进驱动技术研究试用计划:申请理由:碳化硅作为最典型的宽禁带半导体材料,近年来被越来越广泛地用于高频高温的工作场合。为了提高永磁同步电机伺服控制系统的性能
2020-04-21 16:04:04
、58887025联系地址:北京市海淀区北四环西路19号中科院电子所科教融合管理办公室邮政编码:100190E-mail:edu@mail.ie.ac.cn 附件:1.中国科学院电子学研究所2017年博士后
2017-12-18 17:27:09
处于领先地位。氮化镓功率半导体虽然适用性极高,但依然面临三项社会问题仅从物理特性来看,氮化镓比碳化硅更适合做功率半导体的材料。研究人员还将碳化硅与氮化镓的“Baliga特性指标(与硅相比,硅是1)相比
2023-02-23 15:46:22
什么是碳化硅(SiC)?它有哪些用途?碳化硅(SiC)的结构是如何构成的?
2021-06-18 08:32:43
。虽然碳化硅组件可望成为推动电力设备由机械转向电子结构的重要推手,但现阶段碳化硅组件最主要的应用市场,其实是电动汽车。电动汽车应用之所以对碳化硅组件的需求如此殷切,主要原因在于可实现更轻巧的电源系统
2021-09-23 15:02:11
电机驱动。碳化硅器件和碳化硅模组可用于太阳能发电、风力发电、电焊机、电力机车、远距离输电、服务器、家电、电动汽车、充电桩等用途。创能动力于2015年在国内开发出6英寸SiC制造技术,2017年推出基于6
2023-02-22 15:27:51
降低到75%。 表 2:SEMITRANS 3 完整碳化硅案例研究 只有使用硅或碳化硅电源模块才能用基于TO器件的电源设计取代耗时的生产流程。SiC的特定特性需要优化换向电感和热性能。因此,可以提高性价比,并充分利用SiC的优势,使应用受益。
2023-02-20 16:29:54
, Rgon=Rgoff=10Ω, VGE=15V/0V, L=200uH 图12 传统IGBT及混合碳化硅分立器件开关损耗参数对比 如图12所示,碳化硅肖特基二极管对IGBT的损耗和二极管反向恢复损耗
2023-02-28 16:48:24
员要求的更低的寄生参数满足开关电源(SMPS)的设计要求。650V碳化硅场效应管器件在推出之后,可以补充之前只有1200V碳化硅场效应器件设计需求,碳化硅场效应管(SiC MOSFET)由于能够实现硅
2023-03-14 14:05:02
本方案利用新一代1000V、65毫欧4脚TO247封装碳化硅(SiC)MOSFET(C3M0065100K)实现了高频LLC谐振全桥隔离变换器,如图所示。由于碳化硅的高阻断电压, 快速开关及低损耗等
2016-08-05 14:32:43
家族中的新成员。 相较于前两代二极管,基本半导体第三代碳化硅肖特基二极管在沿用6英寸晶圆工艺基础上,实现了更高的电流密度、更小的元胞尺寸、更低的正向导通压降。 基本半导体第三代碳化硅肖特基二极管继承
2023-02-28 17:13:35
散电感是碳化硅封装的一种技术发展趋势。然而,实现碳化硅封装技术的突破并大规模应用,还需要开展大量的工作,以下列举一些核心挑战以及前景展望:1)低杂散电感封装结构综合性能的进一步研究验证。例如封装结构
2023-02-22 16:06:08
新型材料铝碳化硅解决了封装中的散热问题,解决各行业遇到的各种芯片散热问题,如果你有类似的困惑,欢迎前来探讨,铝碳化硅做封装材料的优势它有高导热,高刚度,高耐磨,低膨胀,低密度,低成本,适合各种产品的IGBT。我西安明科微电子材料有限公司的赵昕。欢迎大家有问题及时交流,谢谢各位!
2016-10-19 10:45:41
范围-5V~-15V,客户根据需求选择合适值,常用值有-8V、-10V、-15V; · 优先稳定正电压,保证开通稳定。 2)碳化硅MOSFET:不同厂家碳化硅MOSFET对开关电压要求不尽相同
2023-02-27 16:03:36
,同时在正向电压也减少,耐压也大大超过200V,典型的电压有650V、1200V等,另外在反向恢复造成的损耗方面碳化硅肖特基二极管也有很大优势。在开关电源输出整流部分如果用碳化硅肖特基二极管可以用实现
2023-02-20 15:15:50
最近需要用到干法刻蚀技术去刻蚀碳化硅,采用的是ICP系列设备,刻蚀气体使用的是SF6+O2,碳化硅上面没有做任何掩膜,就是为了去除SiC表面损伤层达到表面改性的效果。但是实际刻蚀过程中总是会在碳化硅
2022-08-31 16:29:50
各行业所需高温半导体解决方案的领导者CISSOID日前宣布:公司已与中国科学院电工研究所(简称中科院电工所)达成战略合作关系,将共同开展基于碳化硅(SiC)功率模块的系统研发项目,攻克技术难题,实现耐高温、耐高压、高能量密度、高效率等优势,推动碳化硅功率器件在新能源汽车领域实现广泛应用。
2019-06-11 14:50:593516 最近晶盛机电宣布,公司成功生产出行业领先的8英寸碳化硅晶体。翻看公司公告,在8月12日晶盛机电首颗8英寸N型碳化硅晶体就已经成功出炉,表示成功解决了8英寸碳化硅晶体生长过程中温场不均、晶体开裂、气相原料分布等难点问题。
2022-09-07 09:29:442068 传感新品 【中科院大连化学物理研究所:提出基于功能化纸基比色传感器的农残快检新策略】 近日,中科院大连化学物理研究所化学传感器研究组(106组)冯亮研究员团队在纸基光化学传感器的信号放大研发中取得
2023-01-12 01:21:14953 碳化硅晶体是一种性能优异的半导体材料,在信息、交通、能源、航空、航天等领域具有重要应用。春节期间,中科院物理研究所科研团队们正在探索用一种新的方法生长碳化硅晶体,研制情况如何?
2023-01-31 11:52:10522 我们拿慧制敏造出品的KNSCHA碳化硅功率器件:碳化硅二极管和碳化硅MOSFET展开说明。碳和硅进过化合先合成碳化硅,然后碳化硅打磨成为粉末,碳化硅粉末经过碳化硅单晶生长成为碳化硅晶锭;碳化硅
2023-02-21 10:04:111693 6.3.5.3界面氮化6.3.5氧化硅/SiC界面特性及其改进方法6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.5.2氧化
2022-01-17 09:18:16613 6.3.7迁移率限制因素6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.6不同晶面上的氧化硅/SiC界面特性∈《碳化硅技术
2022-01-21 09:37:00736 6.3.5.1界面态分布6.3.5氧化硅/SiC界面特性及其改进方法6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.4.8其他
2022-01-12 10:00:29744 6.3.6不同晶面上的氧化硅/SiC界面特性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.5.5界面的不稳定性∈《碳化硅技术
2022-01-21 09:35:56706 7.3.4电流-电压关系7.3pn与pin结型二极管第7章单极型和双极型功率二极管《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.3.3“i”区的电势下降∈《碳化硅技术基本原理——生长
2022-02-14 09:44:16796 6.2.3湿法腐蚀6.2刻蚀第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.2.2高温气体刻蚀∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.2.1反应性离子
2022-01-04 16:34:33543 7.3.3“i”区的电势下降7.3pn与pin结型二极管第7章单极型和双极型功率二极管《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.3.2“i”区中的载流子浓度∈《碳化硅技术基本原理
2022-02-14 09:41:11310 7.3.2“i”区中的载流子浓度7.3pn与pin结型二极管第7章单极型和双极型功率二极管《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.3.1大注入与双极扩散方程∈《碳化硅技术
2022-02-14 09:36:44444 6.5总结第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.2.3p型SiC的欧姆接触∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.4.2.2n型SiC
2022-01-27 09:16:44861 6.3.5.4其他方法6.3.5氧化硅/SiC界面特性及其改进方法6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.5.3界面
2022-01-18 09:28:24662 6.3.1氧化速率6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.2.3湿法腐蚀∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-01-04 14:23:45517 6.3.5.2氧化后退火6.3.5氧化硅/SiC界面特性及其改进方法6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.5.1界面
2022-01-13 11:21:29631 6.3.2氧化硅的介电性能6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.1氧化速率∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-01-04 14:11:56775 6.1.4半绝缘区域的离子注入6.1离子注入第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.3p型区的离子注入∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-01-06 09:23:25402 6.1.3p型区的离子注入6.1离子注入第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.1选择性掺杂技术∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-01-06 09:21:13565 6.1.2n型区的离子注入6.1离子注入第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.1选择性掺杂技术∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-01-06 09:17:33617 6.3.3热氧化氧化硅的结构和物理特性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.2氧化硅的介电性能∈《碳化硅技术基本原理
2022-01-04 14:10:56564 7.2肖特基势磊二极管(SBD)第7章单极型和双极型功率二极管《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.1.3双极型功率器件优值系数∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-02-09 09:27:53440 第1章导论1.1电子学的进展1.2碳化硅的特性和简史1.3本书提纲第2章碳化硅的物理性质2.4总结2.3热学和机械特性2.2.6击穿电场强度2.2.5漂移速率2.2.4迁移率2.2.3杂质掺杂
2022-05-09 17:19:452152 6.3.4.6C-Ψs方法6.3.4电学表征技术及其局限性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.4.5高低频方法
2022-01-10 14:04:39631 6.3.4.7电导法6.3.4电学表征技术及其局限性6.3氧化及氧化硅/SiC界面特性第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.3.4.6C-Ψs方法
2022-01-12 10:44:27394 6.4.1.2SiC上的肖特基接触6.4.1n型和p型SiC的肖特基接触6.4金属化第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.1.1基本原理∈《碳化硅技术
2022-01-24 10:22:28480 的结构和物理特性∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.3.2氧化硅的介电性能∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.3.1氧化速率
2022-01-05 13:59:37493 6.4.2.1基本原理6.4.2n型和p型SiC的欧姆接触6.4金属化第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.1.2SiC上的肖特基接触∈《碳化硅技术
2022-01-24 10:09:121034 6.1.5高温退火和表面粗糙化6.1离子注入第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.4半绝缘区域的离子注入∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2021-12-31 14:25:52549 7.3pn与pin结型二极管第7章单极型和双极型功率二极管《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:7.2肖特基势磊二极管(SBD)∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2022-02-10 09:18:15614 8.1.4比通态电阻8.1结型场效应晶体管(JFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:8.1.3饱和漏极电压∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征
2022-02-20 16:16:46636 6.2.1反应性离子刻蚀6.2刻蚀第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.1.6离子注入及后续退火过程中的缺陷行成∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件
2021-12-31 10:57:22817 6.4.2.2n型SiC的欧姆接触6.4.2n型和p型SiC的欧姆接触6.4金属化第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.2.1基本原理∈《碳化硅技术
2022-01-25 09:18:08743 6.2.2高温气体刻蚀6.2刻蚀第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.2.1反应性离子刻蚀∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.1.6
2021-12-31 10:31:17722 8.1.6功率JFET器件的实现8.1结型场效应晶体管(JFET)第8章单极型功率开关器件《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:8.1.5增强型和耗尽型工作模式∈《碳化硅技术
2022-02-21 09:29:28537 特有的基本现象∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.3.3热氧化氧化硅的结构和物理特性∈《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》6.3.2氧
2022-01-07 14:24:25420 5.3.2.1寿命控制5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.3.2载流子寿命“杀手
2022-01-06 09:38:25510 5.3.2载流子寿命“杀手”5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.3.1.2杂质∈《碳化硅
2022-01-06 09:37:40535 5.3.1.2杂质5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.3.1.1本征缺陷∈《碳化硅技术
2022-01-06 09:30:23552 5.3.1.1本征缺陷5.3.1SiC中的主要深能级缺陷5.3SiC中的点缺陷第5章碳化硅的缺陷及表征技术《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:5.2.3扩展缺陷对SiC器件性能
2022-01-06 09:27:16693 6.4.2.3p型SiC的欧姆接触6.4.2n型和p型SiC的欧姆接触6.4金属化第6章碳化硅器件工艺《碳化硅技术基本原理——生长、表征、器件和应用》往期内容:6.4.2.2n型SiC的欧姆接触
2022-01-26 10:08:16636 业内人士预测,今年将成为8英寸碳化硅器件的元年。国际功率半导体巨头Wolfspeed和意法半导体等公司正在加速推进8英寸碳化硅技术。在国内市场方面,碳化硅设备、衬底和外延领域也有突破性进展,多家行业龙头选择与国际功率半导体巨头合作。
2023-10-24 17:11:21967 环球晶董事长徐秀兰10月26日表示,她2年前错估了客户对8英寸碳化硅(SiC)需求,现在情况超出预期,她强调环球晶将加快8英寸碳化硅基板产能建设,预估明年将送样给需要8英寸基板的客户进行认证,并于2025年量产。
2023-10-27 15:07:43394 碳化硅器件在UPS中的应用研究
2023-11-29 16:39:00240 晶盛机电公司决定从2017年开始,碳化硅生长设备及技术研发(r&d)开始,通过研究开发组的技术攻坚,2018年,公司成功开发了6英寸生长碳化硅决定,2020年长征及加工研发试验生产线建立。”
2023-12-06 14:08:17379 碳化硅衬底有诸多缺陷无法直接加工,需要在其上经过外延工艺生长出特定单晶薄膜才能制作芯片晶圆,这层薄膜便是外延层。几乎所有的碳化硅器件均在外延材料上实现,高质量的碳化硅同质外延材料是碳化硅器件研制的基础,外延材料的性能直接决定了碳化硅器件性能的实现。
2023-12-15 09:45:53607 平煤神马集团碳化硅半导体粉体验证线传来喜讯——实验室成功生长出河南省第一块8英寸碳化硅单晶,全面验证了中宜创芯公司碳化硅半导体粉体在长晶方面的独特优势。
2024-02-21 09:32:31337
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