进入非信令测试 - 下一代蜂窝测试技术

　　研发过程中的非信令――进入非信令测试

　　测试周期早期的可靠设计和测试模式开发可以为非信令制造测试的成功提供帮助，非信令测试设备不仅是制造阶段的要求。为了稳定且信心十足地在现有流程中引入非信令测试，整个引入过程必须借助信令测试设备。一个主要原因在于这样可以实现射频参数化关联，以便确认成功添加了具有非信令特性的测试模式。图 1 描述了从信令到非信令的过渡过程，其中信令测试设备与下一代非信令测试设备进行组合，支持测试由信令发展至非信令。

　　非信令测试仍然需要信令测试设备的主要原因如下：

　　1.作为器件设计（信令和非信令测试模式之间）和制造测试过程中表示器件射频性能的可追踪参考（测量关联）

　　2.作为对比测试时间的起点/基准

　　3.可用作任意波形设计标准，用于下一代设备的接收机测试和下行链路同步，这对需要特定下行链路信号的非信令器件最为重要。

　　4.主要芯片组提供商和手机制造商已经同多年来一直使用信令设备作为目标平台的测试厂商展开合作，开发了多种测试模式和工具。

　　5.在生产线上安装的众多信令测试设备已证明是可信赖和可靠的。改用其他测试设备需要重写代码和重新评估。

　　尽管引入非信令需要使用现有的信令测试设备，专用且全面的非信令综合测试仪可以为研发提供强大的工具并能够在实验室中进行调试解决问题。例如：

　　1.作为解决方案一部分，提供前面板和用户界面

　　2.即用型应用程序，可以返回特定格式的测量结果，例如无需软件开发，综合测试仪便可返回射频测量结果

　　3.支持使用特定格式的频谱分析仪应用软件进行频谱分析

　　4.提供通用信号源功能，可提供与独立信号发生器相同的功能

　　5.支持调试错误序列

　　灵活的非信令解决方案是非信令器件研发中的宝贵资源。从研发到制造测试的整个过程都可以使用相同的测试设备，从而确保一致性。

　　为了顺利地引入 NCP，测试设备厂商需要为客户提供能够满足信令、非信令和快速排序非信令需求的测试解决方案。能够提供所有三种测试解决方案的测试厂商将占据有利位置，可以提供值得考虑的建议，并且能够为定制的非信令引入过程提供支持。

　　制造过程的非信令

　　在制造过程中，当前的信令/非信令和下一代非信令测试设备将并存。制造测试中最重要的任务是如何结合使用信令/非信令设备与新部署的下一代非信令测试设备。下节将重点介绍测试设备对于器件中两类测试模式的适用性，包括非信令测试模式和快速排序非信令测试模式。