这次把 EFT/B 的内容写完，介绍一下其针对 BMS 的测试方案。低压端测试前文也说过，在 GB/T 38661-2020 里面是有提过 EFT/B 测试，但是这里其实写的不清楚，没有写具体的测试
2021-02-04 11:49:00
5422 
双脉冲测试是表征功率半导体器件动态特性的重要手段，适用于各类功率器件，包括MOSFET、IGBT、Diode、SiC MOSFET、GaN HEMTs。
2022-10-12 15:32:581784 曲线追踪仪是一种基础电子测试设备，通过分析半导体器件（如二极管、晶体管、晶闸管等）的特点，用来执行I-V曲线追踪。它们通常用于器件可靠性应用中，如故障分析和参数表征。
2021-09-14 10:51:521786 
双脉冲测试就是给被测器件两个脉冲作为驱动控制信号，如图1所示。第一个脉冲相对较宽，以获得一定的电流。
2021-09-23 14:43:318250 
1. I-V放大器的放大倍数是如何计算的，倍数就等于Rf的值吗？等同这里的10M？
2. 如果是这样，那么设计的带宽范围很窄了，一般OP的单位增益带宽是10M的很大了，这样带宽几乎就1HZ了
2023-11-28 06:45:13
150K左右，所以反馈电阻两端不能并联较大电容来限制带宽。尝试在Rf两端并联5pF电容后，整体噪声是降低了，但是谐波还是比较明显。I-V转换电路中，当反馈电阻取值较大(>1Mohm)时，为什么输出
2018-11-08 09:34:58
电阻两端不能并联较大电容来限制带宽。尝试在Rf两端并联5pF电容后，整体噪声是降低了，但是谐波还是比较明显。I-V转换电路中，当反馈电阻取值较大(>1Mohm)时，为什么输出电压中会出现明显的谐波？该如何消除这些谐波？是不是器件AD8512的电流噪声引起的？希望高手解答！
2023-11-27 06:10:09
I-V通过249R电阻转电压1-5V 的问题？ 将4--20ma电流，通过电阻249欧姆，转换为1--5V电压。本案的接法，将249R接在ADG1409模拟切换通道的输入端，当给通道一
2018-09-10 11:13:57
应变会沿导线产生压电势，基板的反复弯曲就会形成脉冲输出电压。平行使用大量纳米线（如20000根），可以增大功率。此外，还可在基板上纵向整齐排列ZnO纳米线或ZnO纤维制造柔性压电纳米发电机。 图9
2020-08-25 10:59:35
特点在电路应用中尤为突出。与类似的宏观器件相比，其开关速度更快、功率损耗更低。然而，这也意味着测量此类器件I-V曲线的测试仪器在跟踪较短反应时间的同时必须对小电流进行测量。 因为纳米级测试应用中激励
2009-10-14 15:58:21
解到我们可以做多种类仪器的自动化测试软件，便找到纳米，希望纳米能够对数字万用表进行软件控制并将测试数据进行保存。项目需求1、 软件实现与泰克数字万用表进行通信:2、 在0.05s的采样时间精度下读取
2020-11-27 19:08:39
显示、自动保存本地，并可以在系统上实时可视化显示；3.希望测量数据可通过改变X轴和Y轴内容绘制不同形式的趋势图；4.希望可以自动保存测试报告到本地；三、纳米解决方案：1、系统名称：陶瓷材料自动化测试
2019-12-06 11:38:57
`项目背景西安某研究所高功率微波信号由于其脉冲持续时间短，重复频率较高，且为分析实验数据，需要对重复频率信号的波形与数据进行实时采集；为更好的分析实验现象指导器件调试，需要各个测量通路的时延可以独立
2020-05-30 11:11:35
的脉冲骑士边沿时间小于70ps，幅度最高5Vpp，对于半导体测试是不错的选择。 图4：PG-1000脉冲发生器软件界面截图SimpleRider PG 设置，窄脉冲10ns @ 3.3V(Reset
2017-09-06 17:43:21
为PASS 或 FAIL，无法提供电特性，以进行更有效的设计变更。TLP装置则以 PULSE方式量测ESD保护电路，可提供该电路I-V特性曲线；再搭配传统ESD测试结果，可迅速查知电路的设计弱点，减少
2018-09-04 16:38:04
综合了如下功能：精密电压源、高精度 电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器 代码后向兼容2600 系列数字源表，便于更换 TSP Express软件工具实现快速、便捷的I-V测试 精密定时和信道同步(
2021-12-11 12:39:35
，其次为pFA。eFA通常为非破坏性的，包括I-V Curve测试，Bitmap，失效定位(Thermal/EMMI/OBIRCH)。pFA通常为破坏性的，包括wire cutting
2016-07-22 12:49:00
labview measure I-V是自带的吗？为什么我在文件夹里找不到？
2015-12-14 10:18:24
电纳米发电机。一般被应用在生物医学，军事，无线通信，无线传感。【测试难点】由于纳米发电自身的技术特点，在研究过程中需要测试单位面积机械能产生的电能，测试产生的电压，微小的电流及功率信号，电压基本在几伏甚至几十伏，而电流一般都是uA甚至nA级别，功率在mW甚至uW级别。如何精确的测试微小电流及功率
2021-06-30 07:24:20
如何进行超快I-V测量？下一代超快I-V测试系统关键的技术挑战有哪些?
2021-04-15 06:33:03
仪器 全国上门回收售出仪器均可免费保修3个月-12个月不等Keithley 2635A 数字源表提供高速的源--测量能力，加上先进的自动控制特性和省时的软件工具，使其成为对多数器件进行I-V测试的理想
2021-11-19 11:58:20
-------------------------------------√2600A系列数字源表是吉时利新的I-V源测量仪器，可用作台式I-V特征分析工具或√者构成多通道I-V测试系统的组成模块。作为台式仪器使用时，2600A系列仪器提供了√一个嵌入式
2018-11-09 11:30:30
光电测试技术分析有源的光电器件是一个基本的半导体结，为了更全面的测试，不仅要求对其做正向的I-V特性测试，也要求监测反向的I-V特性。传统的激光二极管电流驱动在实验室级别是合适的，但是对于开发半导体
2009-12-09 10:47:38
负反馈I-V转换电路如下图，运放的输出要0-3.3V（单片机的输入电压），请问我该如何选择运放？另外就是我这个图在实际中可行吗？要不要加什么电阻？反馈电阻和电容又要如何选择呢？如何实现0-3.3V的输出呢？新手上路 求详细一点的解答 太感谢了！！！！
2023-11-20 06:23:44
前言雷达的微波射频系统主要包括混频器、滤波器、放大器、天线等部分。其中放大器、混频器、T/R组件为脉冲器件测试的主要对象。这些关键部件会对雷达的脉冲调制信号造成影响，典型的信号恶化包含：信号过冲、定
2019-06-04 07:26:29
我的程序是基于labview的I-V测试系统，利用串口接收数据，怎么将数据中的电流、电压用I-V曲线波形 显示出来？？求高手给个例程。
2012-05-31 12:37:48
请各位帮忙编一个基于keithley2400和2700的测I-V程序和利用2400控制直流输出的程序，谢谢
2016-05-13 23:20:32
设备： DMM7510，Series 2600B SMU太阳能电池测试在有机太阳能电池的表征与测试技术中，I-V测试是最基本、最重要、最直接的测试方式。I-V测试系统，能够得到器件以下参数：能量转化效率
2020-05-09 15:22:12
半导体二极管的I-V特性
2019-10-16 17:32:16
曲线比较。C-V 曲线 (准静态) 详细说明吉时利KEITHLEY2600B系列源表研究领域：各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：离散和无源元件 –两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属
2021-11-20 10:56:56
电阻测量、脉冲式测量、以及微分电导的测量等。 应用纳米技术微分电导脉冲式信号源与电阻光电应用脉冲式I-V交流电阻桥的替代器件（与2182A联合使用）低功率电阻测量锁定放大器的替代器件（与2182A联合使用）低噪声电阻测量`
2019-05-25 10:09:03
，例如霍尔测量、Delta模式电阻测量、脉冲式测量、以及微分电导的测量等。 应用纳米技术微分电导脉冲式信号源与电阻光电应用脉冲式I-V交流电阻桥的替代器件（与2182A联合使用）低功率电阻测量锁定放大器的替代器件（与2182A联合使用）低噪声电阻测量 `
2019-04-29 15:30:22
`吉时利——半导体分立器件I-V特性测试方案半导体分立器件包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等，是组成集成电路的基础。 直流I-V测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石
2019-10-08 15:41:37
信息和测试数据可选择 CSV 格式或者 txt 格式导出。 ◆系统可以实现I-V、I-P、I-R、V-P、V-R、R-P、R-t、V/A-t、P-t的图像。NS-SourceMeter双通道源表程控软件
2023-03-10 17:37:05
工厂闲置/倒闭电子仪器，个人处理仪器，欢迎来电. Keithley 2651A与2657A大电流源表单元主要用于对高功率半导体器件进行I-V参数测试和特性分析，应用领域包括高功率器件的研发，可靠性测试
2016-07-20 14:19:44
来电.回收工厂闲置/倒闭电子仪器，个人处理仪器，欢迎来电. Keithley 2651A与2657A大电流源表单元主要用于对高功率半导体器件进行I-V参数测试和特性分析，应用领域包括高功率器件的研发，可靠性
2016-07-27 16:28:56
系列一个紧凑的单元中综合了如下功能：精密电压源、高精度 电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器 代码后向兼容2600 系列数字源表，便于更换 TSP Express软件工具实现快速、便捷的I-V测试 精密定时和信道同步(
2016-07-27 18:35:30
%（Keithley 2611A回收）基本精度V 0.015% 0.015%（Keithley 2611A回收）典型应用 I-V功能测试和特性分析，（Keithley 2611A回收）晶圆级可靠性测试
2022-02-26 11:07:00
-------------------------------------√2600A系列数字源表是吉时利新的I-V源测量仪器，可用作台式I-V特征分析工具或√者构成多通道I-V测试系统的组成模块。作为台式仪器使用时，2600A系列仪器提供了√一个嵌入式
2018-11-18 10:38:08
I-V Curve 电特性量测原理是 ，利用自动曲线追纵仪电特性量测的方式，快速计算阻值，藉此确认各脚位(Pin)关系并实时筛检出异常(Open / Short)，另可产出曲线图文件。 提供DC组件
2018-08-24 09:02:36
GaN PA 设计？）后，了解I-V 曲线（亦称为电流-电压特性曲线）是一个很好的起点。本篇文章探讨I-V 曲线的重要性，及其在非线性GaN 模型（如Modelithics Qorvo GaN 库里的模型）中的表示如何精确高效的完成GaN PA中的I-V曲线设计？
2019-07-31 06:44:26
过程都需要进行正确的RF和脉冲测试，包括确定栅介质可靠性、高频电容值、铜过孔可靠性和RF性能等测试。各种测试方法正在改变I-V特性、RF电容-电压测试、s参数、NBTI、TDDB、HCI、SILC
2011-09-06 15:51:36
DC 和脉冲电流电压、电容电压、电容频率、驱动电平电容曲线 (DLCP) 和 4 探头电阻系数。图 10 显示了一块太阳能电池连接到4200-SMU上进行 I-V 测量。四线连接消除了测量电路中的引线
2017-10-11 09:48:34
大家好：我正在使用E5270B仪器对MOS器件进行基本的I-V测量（改变漏极电压和监测一个栅极电压下的漏极电流）。与设定合规性不同，我想知道一旦测量的漏极电流值达到特定点，是否有任何方法可以停止测量
2019-08-21 06:06:43
如何利用2420型高电流源表去测量光电池I-V特性？有哪些步骤？
2021-05-11 06:12:00
打算测量1nA~100nA的电流，求I-V转换电路，以及和电流传感器的接法，
2015-03-15 22:04:00
脉冲CH基本精度I 0.02% 0.02%基本精度V 0.015% 0.015%典型应用 I-V功能测试和特性分析，晶圆级可靠性测试，测试集成电路如RFIC、ASIC、SOC，测试光电器件如LED
2020-04-08 15:17:52
精确的光伏 I-V 特性分析用于 PV 电池板模块的 I-V 扫描测试电路
2021-01-21 07:26:08
电子元器件涂层的耐磨性测试是很重要的检测试验，Taber5750线性磨耗仪是目前应用非常广泛的耐磨测试仪，本文讲述采用Taber5750线性磨耗仪对高耐磨亲水亲油易清洁纳米涂层的耐磨性进行测试
2017-10-13 16:53:27
源、电压/电流表、扫描分析仪、函数发生器，为这类测试提供了完美的解决方案。源表还包括可编程负载，可以测量元器件上的I-V特点，从几µV到3KV，从几fA到100A。一个很好的插件是IVy应用，可以从
2016-08-18 16:23:38
前者理论是清楚的，但从器件发展到电路，所需的技术仍处于发展之中，要进入到比较普遍的应用估计仍需一二十年的时间。至于纳米器件，目前多以原子和分子自组装技术与微电子超深亚微米加工技术相结合的方法进行
2018-08-24 16:30:27
上的纳米FET I-V测量、电容器泄漏测量。实例1：平板显示器上的OLED像素器件测试在测量平板显示器上的OLED像素器件的I-V曲线时，通常会通过开关矩阵把SMU连接到LCD探测站上，这时会采用非常长
2020-02-13 10:01:33
的电流(使用安培计)。为了了解太阳能电池向电路提供电流的程度，我们用负载切换法测量了器件的 I-V 特性。一条典型的曲线如图1所示。图1。太阳能电池固定照明的 I-V 测量电路示意图(上图)和太阳能电池
2022-04-09 13:40:50
、DUT的故障通常通过DC漏电流来判断 E、通常读取脉冲时间70%到90%的时间。 使用TLP测试出来的I-V曲线 动态阻抗是ESD保护器件的一个非常重要的参数，动态阻抗越低，表明更多的ESD电流
2023-03-29 10:44:47
1. I-V放大器的放大倍数是如何计算的，倍数就等于Rf的值吗？等同这里的10M？2. 如果是这样，那么设计的带宽范围很窄了，一般OP的单位增益带宽是10M的很大了，这样带宽几乎就1HZ了<
2018-11-26 10:02:42
请问一下纳米器件有几安（A）、伏（V）？
2021-05-17 06:33:41
对一大电阻器件施加1V直流电，将通过的电流（大约2mA）经过I-V转换和放大，采集后用发现信号是这样对称的，按道理我的电流是正的信号至少应该恒为正，不知道为什么产生了这样的结果，求指导。 [img=110,0][/img] 图1 测试系统图[img=110,0][/img]图2 信号图
2020-05-16 08:52:05
负反馈I-V转换电路如下图，运放的输出要0-3.3V（单片机的输入电压），请问我该如何选择运放？另外就是我这个图在实际中可行吗？要不要加什么电阻？反馈电阻和电容又要如何选择呢？如何实现0-3.3V的输出呢？新手上路 求详细一点的解答 太感谢了！！！！
2018-08-18 07:45:11
先进的自动化特性及软件工具使得吉时利2600系列数字源表系列成为广泛用于多种器件I-V测试的理想方案。长期回收 吉时利2611A 二手数字源表-二手吉时利2611A吉时利2611型单通道系统源表
2021-06-01 15:32:52
数字源表用于光电I-V测试使用手册
吉时利数字源表系列是专为紧密结合精密电压源和电流源以及同时测量（包括源回读）的测试应用要求开发的。在特性分析过
2010-03-13 09:21:57
19 吉时利宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块
吉时利仪器公司今日宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系
2010-02-24 10:12:24809 Ultra-fast I-V tests (pulsed I-V, transient I-V, and pulsed sourcing ) have become increasingly
2011-03-28 17:15:140 脉冲式电测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间
2011-04-09 16:05:5044 脉冲式电测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应(例如I2R和V2/R)，避免对小型纳米器件可能造成的损坏
2011-05-04 09:45:221040 脉冲测试为人们和研究纳米材料、纳米电子和目前的半导体器件提供了一种重要手段。在加电压脉冲的同时测量直流电流是电荷泵的基本原理
2011-05-11 11:49:241334 
开发了基于虚拟仪器技术,采用大功率脉冲励磁电源、高速数据采集卡的纳米晶磁环动态参数测试系统。由于脉冲励磁与标准正弦波励磁的测试结果存在差异,为得到相当于正弦励磁下的
2011-05-25 15:12:4637 本文详细介绍了用4225-PRM远程放大器_开关模型实现对DC I-V、C-V、脉冲I-V测量的自动转换。
2017-11-15 15:29:0515 ， LED 照明和显示 ，半导体器件特性，过载保护测试等等。PL系列脉冲电流源内置18 位高速模数转换器，使它可以同时获得高速脉冲电压和脉冲光功率波形，而不需要额外使用单独的仪器。PL系列脉冲电流源是一套强大的测试解决方案，可以显著提高生产力，应用范围从台式表测试到高度自动化的脉冲I-V生产测试
2020-10-16 09:45:361193 通过双脉冲测试评估 MOSFET 的反向恢复特性我们开设了 Si 功率元器件的新篇章——“评估篇”。在“通过双脉冲测试评估 MOSFET 的反向恢复特性”中，我们将通过双脉冲测试来评估 MOSFET 体二极管的反向恢复特性，并确认 MOSFET 损耗情况。
2020-12-28 06:00:0023 半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等。 直流 I-V 测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V
2021-01-14 16:47:24538 纳米技术研究与在分子水平上的物质，一个原子一个原子，建立具有根本性的新结构特性。 特别是，纳米电子领域正在迅速发展具有广泛的潜在影响行业。 当今的纳米电子学研究包括利用碳纳米管，半导体纳米线，分子有机电子产品和单电设备。
2021-03-18 15:45:169 电子发烧友网为你提供纳米器件的测试工具资料下载的电子资料下载，更有其他相关的电路图、源代码、课件教程、中文资料、英文资料、参考设计、用户指南、解决方案等资料，希望可以帮助到广大的电子工程师们。
2021-04-24 08:44:426 近期有很多用户在网上咨询I-V特性测试， I-V特性测试是很多研发型企业和高校研究的对象，分立器件I-V特性测试可以帮助工程师提取半导体器件的基本I-V特性参数，并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣
2021-05-19 10:50:252042 
I-V测试是二级管测试必不可少的项目。二极管I-V特性分析通常需要高灵敏电流表、电压表、电压源和电流源。吉时利源表2450是二极管特性分析的理想选择，提供四象限精密电压和电流源/负载，可精确地发起电压或电流以及同时测量电压和/或电流，其电压和电流测量分辨率分别达到10 nV和10 fA。
2021-08-27 15:14:50632 
双脉冲是分析功率开关器件动态特性的基础实验方法，贯穿器件的研发，应用和驱动保护电路的设计。合理采用双脉冲测试平台，你可以在系统设计中从容的调试驱动电路，优化动态过程，验证短路保护。
双脉冲测试基础系列文章包括基本原理和应用，对电压电流探头要求和影响测试结果的因素等。
2022-08-01 09:08:1110881 
双脉冲测试(Double Pulse Test)是分析功率开关器件动态特性的常用测试，通过双脉冲测试可以便捷的评估功率器件的性能，获得稳态和动态过程中的主要参数，更好的评估器件性能，优化驱动设计等等。
2022-11-04 14:06:272763 器件的I-V功能测试和特征分析是实验过程中经常需要测试的参数之一，一般我们用到源表进行IV参数的测试，如果需要对测试的数据进行实时IV曲线图显示及保存，可以用到源表测试软件
2023-02-02 10:50:591313 
参数，具有高电压和大电流特性，uΩ级电阻，pA级电流精准测量等特点。支持高压模式下测量功率器
件结电容，如输入电容，输出电容、反向传输电容等。
普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源
2023-02-15 16:11:141 开通特性测试采用双脉冲测试法。由计算机设定并控制输出漏极电压VDD值到被测器件的测试要求值（一般为被测器件额定电压的1/2），设定±VGS到测试要求值，计算机控制接通开关S1,并控制输出
2023-02-22 14:43:331 IV曲线测试是一种常用的电源表测试方法，它可以测量电源表的输出电压和电流之间的关系，以及电源表的负载特性。在测试测量实验中，可以借助源表测试软件来测试I-V曲线、I-P曲线、恒定输出等。下面纳米软件Namisoft小编给大家分享一下：用源表测试软件如何输出I-V曲线、I-P曲线、恒定输出。
2023-03-28 16:28:081261 
双脉冲测试的基本原理是什么？双脉冲测试可以获得器件哪些真实参数？ 双脉冲测试是一种常用的测试方法，用于测量和评估各种器件的性能和特性。它基于一种简单而有效的原理，通过发送两个脉冲信号并分析其响应
2024-02-18 09:29:23234
电子发烧友App
工商网监
湘ICP备 2023018690 号
评论