WD4000国产晶圆几何形貌量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV、BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可实现砷化镓
2024-03-15 09:22:08
实验名称：翼型压电振动除冰实验研究
实验原理：压电除冰技术利用压电材料的逆压电效应，通过安置在结构表面的压电作动器的激振，引起待除冰结构振动，从而在结构与冰层交界面产生剪切应力，当剪切应力
2024-03-08 17:37:09
中图仪器VT6000系列共聚焦高精度三维显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析的精密光学仪器，一般用于
2024-02-21 13:55:40
WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可兼容不同材质
2024-02-21 13:50:34
领域带来了全新的研究方向和应用前景。
COMSOL Multiphysics是一款功能强大的多物理场仿真软件，能够对超表面进行精确的仿真分析。通过建立三维模型，并设置相应的物理场参数，可以实现对超表面
2024-02-20 09:20:23
中图仪器SuperViewW1白光干涉三维测量系统具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高
2024-01-12 11:37:08
反应表面形貌的参数。通过非接触测量，WD4000无图晶圆几何形貌测量设备将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV、BOW、WARP、在
2024-01-10 11:10:39
WD4000半导体晶圆厚度测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07
一个芯片上可以包含数亿～数百亿个晶体管，并经过互连实现了芯片的整体电路功能。经过制造工艺的各道工序后，这些晶体管将被同时加工出来。并且，在硅晶圆上整齐排满了数量巨大的相同芯片，经过制造工艺的各道工序
2024-01-02 17:08:51
TC-Wafer是将高精度温度传感器镶嵌在晶圆表面，对晶圆表面的温度进行实时测量。通过晶圆的测温点了解特定位置晶圆的真实温度，以及晶圆整体的温度分布，同还可以监控半导体设备控温过程中晶圆发生的温度
2023-12-21 08:58:53
)及分析反映表面质量的2D、3D参数。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。WD
2023-12-20 11:22:44
中图仪器WD4000无图晶圆几何形貌量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
SuperViewW1中图光学3D表面轮廓仪是以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓
2023-12-12 11:34:22
晶圆测温系统tc wafer晶圆表面温度均匀性测温晶圆表面温度均匀性测试的重要性及方法 在半导体制造过程中，晶圆的表面温度均匀性是一个重要的参数
2023-12-04 11:36:42
在工业应用中，SuperViewW三维光学轮廓检测仪超0.1nm的纵向分辨能力能够高精度测量物体的表面形貌，可用于质量控制、表面工程和纳米制造等领域。与其它表面形貌测量方法相比，SuperViewW
2023-11-30 10:14:52
中图仪器SuperViewW系列3D光学检测仪器用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：1、三维表面
2023-11-17 08:59:04
中图仪器GTS大尺寸三维空间测量仪激光跟踪仪是高精度、便携式的空间大尺寸坐标测量机，同时具高精度（μm级）、大工作空间（百米级）的高性能，能够解决大型、超大型工件和大型科学装置、工业母机等全域高精度
2023-11-15 09:26:26
请问像AD8233一样的晶圆封装在PCB中如何布线，芯片太小，过孔和线路都无法布入，或者有没有其他封装的AD8233
2023-11-14 07:01:48
高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。典型结果包括：1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；2、二维图像分析：距离，半
2023-11-10 11:50:45
白光干涉仪广泛应用于科学研究和工程实践各个领域中。它作为一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器，在测量坑的形貌方面扮演着举足轻重的角色。
白光干涉仪怎么测量坑的形貌？它是利用
2023-11-06 14:27:48
WD4000晶圆几何形貌测量及参数自动检测机通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TT
2023-11-06 10:47:07
中图仪器SuperViewW1白光干涉三维形貌测量仪用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D
2023-11-01 09:39:26
SuperView W1光学三维轮廓测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。数秒内可以获得平面和曲面表面上测量所有常见的粗糙度参数。也可以选择拼接功能软件升级来组合多个
2023-10-30 09:24:38
WD4000半导体晶圆表面三维形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示
2023-10-23 11:05:50
WD4000半导体晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08:24
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09:00
共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法共同组成测量系统，能用于各种精密器件及材料表面的非接触式微纳米测量。能测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深
2023-10-11 14:37:46
SuperViewW1三维光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是基于白光干涉原理研制而成，采用扩展型的相移算法EPSI，集合了相移法PSI的高精度和垂直
2023-10-08 09:24:40
Novator系列三维全自动影像测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，采用高精度光学成像技术和计算机数字处理技术，能够快速、准确地获取三维物体表面形态信息，并进行精密的尺寸、角度等多项测量
2023-10-08 09:17:18
【探索】单孔销浮动(三)：DTAS在圆内均匀分布的实现与验证！
概要：上几期文章中为实现均匀分布我们通常对半径r在区间[0,R]内按均匀分布采样，对角度θ在区间[0,2π）内按均匀分布采样,实际这种
2023-09-20 12:09:57
噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性。SuperViewW1三维白光干涉表面形貌仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表
2023-09-13 10:30:22
SuperViewW1国产三维白光干涉仪以白光干涉技术原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对各种精密器件表面进行纳米级测量，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之
2023-09-13 10:25:07
SuperViewW1白光干涉仪三维轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于
2023-09-07 09:25:42
Mars系列三坐标三维测量仪是移动桥式的三坐标测量机。能够对各种零件和部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测，也可以对软材质或复杂零件进行光学扫描测量。可用于机械制造、汽车工业、电子工业、航空航天
2023-08-25 15:05:36
结构进行三维形貌重建：
2.快速重建出被测晶圆激光镭射槽的三维轮廓并进行多剖面分析，获取截面的槽道深度与宽度信息：
3.对光学膜表面微结构实现快速自动化测量，提供高度、宽度和角度等一系列轮廓尺寸参数对表面质量进行表征：
2023-08-22 15:19:49
、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；
3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜
2023-08-21 13:46:12
测量金属制品的长度、宽度、高度等维度参数。
除了测量金属表面的形状和轮廓外，光学3D表面轮廓仪还可以生成三维点云数据和色彩图像，用于进一步分析和展示：
1、三维点云数据可以用于进行CAD模型比对、工艺
2023-08-21 13:41:46
CHOTEST中图仪器SuperViewW1三维白光形貌干涉仪集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。主要应用于半导体制造及封装工艺检测
2023-08-08 11:27:05
、高等数据的具体化，还可以精确测量工件的表面平面度。 CHOTEST中图仪器Novator系列三维光学影像测量仪是全自动影像测量仪，将传统影像测量与激光测
2023-07-31 09:05:19
CHOTEST中图仪器SuperViewW1白光干涉表面三维轮廓仪通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，是一款对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小
2023-07-20 13:55:55
激光跟踪仪是建立在激光和自动控制技术基础上的一种高精度三维测量系统，主要用于大尺寸空间坐标测量领域。它集中了激光干涉测距、角度测量等技术，基于球坐标法测量原理，通过测角、测距实现三维坐标的精密测量
2023-07-18 13:41:17
新材料表面检测，多会面临表面缺陷检测、表面瑕疵检测、表面污染物成分分析、表面粗糙度测试、表面失效分析等需求，以下为常备实验室资源这是Amanda王莉的第57篇文章,点这里关注我,记得标星01表面检测
2023-07-07 10:02:45
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晶圆测温系统，晶圆测温热电偶，晶圆测温装置一、引言随着半导体技术的不断发展，晶圆制造工艺对温度控制的要求越来越高。热电偶作为一种常用的温度测量设备，在晶圆制造中具有重要的应用价值。本文
2023-06-30 14:57:40
激光跟踪三维测量仪在大尺度空间测量工业科学仪器中具有高精度和重要性，是同时具有μm级别精度、百米工作空间的高性能光电仪器。 在大尺寸精密测量领域，激光跟踪仪具有测量范围大、精度高、功能多
2023-06-29 14:26:42
的尺寸、形状及相互位置关系进行检测，也可以对软材质或复杂零件进行光学扫描测量。 中图仪器MarsClassic系列三维扫描仪移动桥架三坐标测量仪结构特点是开
2023-06-25 10:54:11
激光跟踪仪是建立在激光和自动控制技术基础上的一种高精度三维测量系统，主要用于大尺寸空间坐标测量领域。它集中了激光干涉测距、角度测量等先进技术，基于球坐标法测量原理，通过测角、测距实现三维坐标的精密
2023-06-20 10:16:46
Mars系列三维坐标测量机是移动桥式的三坐标测量机。采用中图仪器自主研发的设计与测量系统，提供了测量机的高精度性能，测量行程500*700*500mm延伸到900*1200*600mm，结合多样化
2023-06-20 10:12:21
。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。探针台的功能都有哪些？1.集成电路失效分析2.晶圆可靠性认证3.元器件特性量测4.塑性过程测试(材料特性分析)5.制程监控6.IC封装阶段打线品质测试7.液晶面板
2023-05-31 10:29:33
在材料生产检测领域中，共聚焦显微镜主要测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。与传统光学显微镜相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
中图仪器GTS激光三维跟踪测量仪集激光干涉测距技术、光电检测技术、精密机械技术、计算机及控制技术、现代数值计算理论于一体，主要用于百米大尺度空间三维坐标的精密测量。功能强的主机测量系统1.集成化控制
2023-05-16 16:34:32
。 中图仪器Novator二次元三维影像测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和
2023-05-15 11:29:26
;VT6000系列共聚焦显微镜是一款显微检测设备，广泛应用于半导体制造及封装工艺，能够对具有复杂形状和陡峭的激光切割槽的表面特征进行非接触式扫描并重建三维形貌。共聚焦显微镜重
2023-05-09 14:12:38
中图SJ5700三维轮廓测量仪具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm，因此非常适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量，同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能
2023-05-06 16:06:14
;VT6000系列共聚焦显微镜是中图仪器倾力推出的一款显微检测设备，广泛应用于半导体制造及封装工艺，能够对具有复杂形状和陡峭的激光切割槽的表面特征进行非接触式扫描并重建三维形
2023-04-28 17:41:49
以共聚焦技术为原理的共聚焦显微镜，是用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。 中图仪器VT6000系列三维光学轮廓共聚焦材料显微镜基于共聚焦显微技术，结合精密Z向扫描模块
2023-04-20 10:52:25
SuperViewW1中图国产白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件
2023-04-14 14:07:34
PCB 方面的需求。华秋与创想三维建立了长期稳定的合作关系，双方合作过程中，华秋持续向创想三维供应高可靠的双面及多层PCB。华秋向客户承诺：样板准交率达到 99%，提供加急服务，按需选择，满足客户快速
2023-04-14 11:29:30
PCB 方面的需求。华秋与创想三维建立了长期稳定的合作关系，双方合作过程中，华秋持续向创想三维供应高可靠的双面及多层PCB。华秋向客户承诺：样板准交率达到 99%，提供加急服务，按需选择，满足客户快速
2023-04-14 11:27:20
因项目需求，需外包Labview 三维云图程序编写，做过类似项目的请回复，我联系您。
2023-03-31 09:36:47
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