薄膜表面瑕疵检测系统可满足多种检测的需求

针对现今工业薄膜生产过程中薄膜大幅宽且生产速度更快，无锡精谱测控技术有限公司经过潜心研究试验，开发设计出基于FPGA的快速薄膜瑕疵检在线测系统方案。系统通过采用相关系数法准确求出薄膜灰度图像的最小重复周期，根据最小重复周期确定两个比对图像块并求出差值图像，再将差值图像二值化再进行形态学处理，最后经过面积约束条件找出薄膜瑕疵所在位置。

充分利用FPGA并行处理的优势，提高了图像处理的速度。实践应用证明，该系统能够在300 m/min的薄膜生产线上成功检测出瑕疵面积仅10个像素的瑕疵，满足现代薄膜瑕疵在线检测的应用需求。

目前薄膜瑕疵检测系统大多采用工业计算机、线扫描相机、旋转编码器和线型光源的方案。在生产时，由高亮LED组成的线型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通过与薄膜运行同步的旋转编码器触发，使架设在生产线上的线扫描相机同步扫描，将相机采集到的薄膜图像通过工业计算机上的采集卡实时传送给图像处理系统软件进行瑕疵识别处理。

由于瑕疵图像的灰阶分布与正常图像的灰阶分布存在明显差异，从而使系统能够发现瑕疵，同时对瑕疵进行有效的判定、分类及后续处理。

在薄膜的实际生产过程中，由于各方面因素的影响，薄膜表面会出现诸如孔洞、蚊虫、黑点、晶点、划伤、斑点等瑕疵，严重影响了薄膜的质量，给生产商带来了不必要的损失。人眼往往不能及时准确的判断出瑕疵，SIMV薄膜表面瑕疵缺陷检测系统能在线对生产过程中产生的表面缺陷瑕疵进行高速、精确的检测，显示和识别薄膜表面上的所有表面缺陷。

能检测分别出直径 0.01mm-2mm的脏污点、条纹、破损、边缘裂缝、皱折、暗斑、亮斑、边缘破损、黑点疵点、毛发，蚊虫，等常见表面缺陷。强大的表面缺陷模式识别功能，根据表面缺陷的特征，在报警的同时，会指出导致该表面缺陷的设备、工艺问题所在，指导工人及时处理，从而有效的节约了生产成本、提高了产品质量。因此薄膜瑕疵在线检测系统成为高速薄膜生产线中不可或缺的检测设备。

精谱测控薄膜表面瑕疵检测系统原理

将工业线阵CCD 相机架设在生产线上方，同时采用高亮的LED线性聚光冷光源进行背打光，通过线阵CCD相机和高速图像处理系统进行实时的在线扫描。当薄膜在线生产出现瑕疵时，由于瑕疵的成像与正常的薄膜产品存在明显的灰阶差异，使得系统能够及时发现瑕疵缺陷。系统自动记录瑕疵的图像、位置等信息，同时通过信号控制实现打标机对瑕疵的自动贴标定位。

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